[發明專利]水上測量時經緯儀的調校方法

有效

• 申請號: 200810037966.7
• 申請日: 2008-05-23
• 公開（公告）號: CN101586964A
• 公開（公告）日: 2009-11-25
• 發明（設計）人: 張洪春
• 申請（專利權）人: 上海船廠船舶有限公司
• 主分類號: G01C25/00
• 分類號: G01C25/00;G01B11/00
• 代理公司: 上海智信專利代理有限公司
• 代理人: 薛 琦;朱水平

技術領域

本發明涉及一種水上測量的方法，特別是涉及一種水上用經緯儀三維測 量時的調校方法。

背景技術

現有的水上三維測量，一般是采用簡單的工具進行多基面的測量，往往 不能做到一次測量就能獲得所需的數據，同時誤差可達到幾十毫米，測量所 得的數據準確性很差。

發明內容

本發明要解決的技術問題是為了克服：過去不能在水上調校經緯儀，無 法精確地進行水上三維測量且不能做到一次測量的狀況，提供了一種水上測 量時經緯儀的調校方法，為精確水上的三維測量提供了解決方案。

本發明是通過下述技術方案來解決上述技術問題的：一種水上測量時經 緯儀的調校方法，其調校步驟包括：

S₁、先在平行于基面的平面上建一平面坐標系；

S₂、以該原點為中點在橫、縱坐標軸上量取兩對分別相等的線段，構成 坐標的橫軸和縱軸，將該線段的端點作為該坐標軸上的四個遠點；

S₃、將經緯儀置于坐標原點上，并關閉經緯儀的自動調平；

S₄、以該原點為基點，先在該縱軸上調校經緯儀，直至該經緯儀測量軸 心至該縱軸上兩遠點的距離相等；

S₅、在S₄的基礎上對該縱軸做倒像校準至合格；

S₆、旋轉該經緯儀至該橫軸，對該橫軸上的遠點進行多次調校，直至經 緯儀測量軸心到該橫軸上兩遠點的距離完全相等；

S₇、在S₆的基礎上對橫軸做倒像校準至合格；

S₈、旋轉該經緯儀到縱軸，重復以上S₄～S₇步驟，直至該經緯儀測量軸 心到該橫軸和縱軸上遠點的距離完全相等。

其中，該平面坐標系是由兩縱橫相交的直線組成，該兩直線的交點為坐 標的原點。

其中，該坐標橫軸和縱軸分別相等或不相等。

其中，調校合格的標準是經緯儀的測量軸心到該橫軸、縱軸上四個遠點 的距離相等。

其中，該橫軸、縱軸上四個遠點的連線為圓形、方形或菱形。

其中，該測量軸心到該橫軸、縱軸上四個遠點的距離相等是指：該經緯 儀對準同一坐標軸一端的遠點時，保持垂直度盤的讀數不變，旋轉180°后 仍能對準該同一坐標軸的另一端遠點。

其中，該倒像校準合格的操作為：將經緯儀對準一坐標軸線后，將經緯 儀水平和垂直各旋轉180°，檢查對準情況；當經緯儀在兩次對準后均能找 準坐標軸線時，倒像校準合格。

上述的水上測量時經緯儀的調校方法，該坐標系建立在船舶的甲板或平 臺上。

上述的水上測量時經緯儀的調校方法，該平面坐標大小為測量范圍的 1/3以上。

本發明的積極進步效果在于：

1、大幅提高了水上三維測量的精度，精度可以達到±3mm/100m。

2、免去了船舶在需要三維測量時必須進干船塢的情況，有效的降低了 船舶的進塢費用和運輸費用。

3、節約了水上測量成本，提高了測量效率。

附圖說明

圖1為本發明的一實施例中立體坐標圖(上端為經緯儀軸心)。

圖2為本發明一實施例中縱軸、橫軸相等的平面坐標圖。

圖3為本發明的一實施例縱軸、橫軸不相等的平面坐標圖。

具體實施方式

下面結合附圖給出本發明較佳實施例，以詳細說明本發明的技術方案。

如圖1至圖3所示，本發明的實施例中水上測量時經緯儀的調校方法， 其步驟包括：

S₁、首先根據所需測量的范圍，在一個平行于基面的平面上建一坐標系， 可以通過在船舶平臺或水平甲板上劃出兩縱橫相交的直線構成一平面坐標 系，以兩直線的交點O作為坐標原點10；