[發明專利]水上測量時經緯儀的調校方法有效
| 申請號： | 200810037966.7 | 申請日： | 2008-05-23 |
| 公開（公告）號： | CN101586964A | 公開（公告）日： | 2009-11-25 |
| 發明（設計）人： | 張洪春 | 申請（專利權）人： | 上海船廠船舶有限公司 |
| 主分類號： | G01C25/00 | 分類號： | G01C25/00;G01B11/00 |
| 代理公司： | 上海智信專利代理有限公司 | 代理人： | 薛 琦;朱水平 |
| 地址： | 20008*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 水上 測量 經緯儀 調校 方法 | ||
1.一種水上測量時經緯儀的調校方法，其包括如下步驟：
S1、先在平行于基面的平面上建一平面坐標系，該平面坐標系是由兩縱 橫相交的直線組成，該兩直線的交點為坐標原點；
S2、以該坐標原點為中點在橫、縱坐標軸上量取兩對分別相等的線段， 構成坐標的橫軸和縱軸，將該線段的端點作為該坐標軸上的四個遠點；
S3、將經緯儀置于坐標原點上，并關閉經緯儀的自動調平；
S4、以該坐標原點為基點，先在該縱軸上調校經緯儀，直至該經緯儀測 量軸心至該縱軸上兩遠點的距離相等；
S5、在S4的基礎上對該縱軸做倒像校準至合格；
S6、旋轉該經緯儀至該橫軸，對該橫軸上的遠點進行多次調校，直至經 緯儀測量軸心到該橫軸上兩遠點的距離完全相等；
S7、在S6的基礎上對橫軸做倒像校準至合格；
S8、旋轉該經緯儀到縱軸，重復以上S4～S7步驟，直至該經緯儀測量軸 心到該橫軸和縱軸上遠點的距離完全相等。
2.如權利要求1所述的水上測量時經緯儀的調校方法，其特征在于， 該坐標橫軸和縱軸相等。
3.如權利要求1所述的水上測量時經緯儀的調校方法，其特征在于， 所述的調校方法的結果是經緯儀的測量軸心到該橫軸、縱軸上四個遠點的距 離相等。
4.如權利要求1所述的水上測量時經緯儀的調校方法，其特征在于， 該橫軸、縱軸上四個遠點的連線為圓形、方形或菱形。
5.如權利要求1所述的水上測量時經緯儀的調校方法，其特征在于， 該經緯儀測量軸心到該橫軸上兩遠點和該縱軸上兩遠點的距離相等是指：該 經緯儀對準同一坐標軸一端的遠點時，保持垂直度盤的讀數不變，旋轉180° 后仍能對準該同一坐標軸的另一端的遠點。
6.如權利要求1所述的水上測量時經緯儀的調校方法，其特征在于， 該倒像校準合格的操作為：將經緯儀對準一坐標軸線后，將經緯儀水平和垂 直各旋轉180°，檢查對準情況；當經緯儀在兩次對準后均能找準坐標軸線 時，倒像校準合格。
7.如權利要求1所述的水上測量時經緯儀的調校方法，其特征在于， 該平面坐標系建立在船舶的甲板或平臺上。
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