[發明專利]一種基板可重復使用的制備微小焊球的方法無效
| 申請號: | 200810034624.X | 申請日: | 2008-03-14 |
| 公開(公告)號: | CN101246828A | 公開(公告)日: | 2008-08-20 |
| 發明(設計)人: | 林小芹;羅樂 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海微系統與信息技術研究所 |
| 主分類號: | H01L21/60 | 分類號: | H01L21/60 |
| 代理公司: | 上海智信專利代理有限公司 | 代理人: | 潘振甦 |
| 地址: | 200050*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基板可 重復使用 制備 微小 方法 | ||
1.一種基板可重復使用的制造微小焊球的方法,其特征在于所述的制造方法分為二大步:
第一步采用IC制作工藝,制備可重復使用的基板
首先將作為基板的硅片進行熱氧化處理;正面濺射金屬導電層;在導電層上沉積一層阻擋層,并光刻出阻擋層開口露出導電層金屬;
第二步在第一步制備的可重復使用的基板上制作焊球
a)首先濺射金屬犧牲層并光刻出犧牲層圖形覆蓋在導電層開口上;
b)涂覆厚光刻膠并光刻出電鍍窗口;
c)然后電鍍焊料;
d)電鍍完畢后去除厚光刻膠;
e)在保護氣氛下,使用助焊劑在焊料熔點溫度以上的回流溫度下將焊料進行回流;焊料回流成球后清洗表面殘留的助焊劑;
f)然后濕法腐蝕去除焊料球下的犧牲層,焊料球從基板上脫離,收集焊料球。
2.按權利要求1所述基板可重復使用的制造微小焊球的方法,其特征在于所述的硅片為單面拋光N型(100)或P型(100)硅片。
3.按權利要求1所述基板可重復使用的制造微小焊球的方法,其特征在于所述的熱氧化處理工藝為濕法或干法,生成的氧化層厚度為0.1~2.0微米。
4.按權利要求1所述基板可重復使用的制造微小焊球的方法,其特征在于所述的正面濺射金屬層是由一層以上的金屬層構成,金屬層厚度為0.1微米~2.0微米。
5.按權利要求4所述基板可重復使用的制造微小焊球的方法,其特征在于所述的金屬層為TiW或Cu。
6.按權利要求1所述基板可重復使用的制造微小焊球的方法,其特征在于所述的阻擋層為SiO2或Si3N4,厚度為0.1微米~2.0微米。
7.按權利要求1所述基板可重復使用的制造微小焊球的方法,其特征在于所述的金屬犧牲層是由一層以上的金屬層構成;犧牲層的厚度為0.1微米~5微米;且犧牲層圖層的尺寸大于或等于阻擋層開口的尺寸。
8.按權利要求1所述基板可重復使用的制造微小焊球的方法,其特征在于所述的電鍍窗口的尺寸比犧牲層圖形尺寸大。
9.按權利要求1所述基板可重復使用的制造微小焊球的方法,其特征在于焊球下的犧牲層用濕法腐蝕去除,腐蝕犧牲層的混合溶液不腐蝕電鍍焊料或導電層金屬。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院上海微系統與信息技術研究所,未經中國科學院上海微系統與信息技術研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200810034624.X/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





