[發(fā)明專利]一種基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的模擬PCB智能測(cè)試系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200810030775.8 | 申請(qǐng)日: | 2008-03-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101246200A | 公開(公告)日: | 2008-08-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何怡剛;祝文姬;謝宏;劉美容;王璽;龐偉區(qū);肖迎群;譚陽紅;鄧曉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 湖南大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/316 | 分類號(hào): | G01R31/316;G06N3/06 |
| 代理公司: | 長沙市融智專利事務(wù)所 | 代理人: | 顏昌偉 |
| 地址: | 410082湖*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) 模擬 pcb 智能 測(cè)試 系統(tǒng) | ||
1.一種基于BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的模擬PCB智能測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:包括主控PC機(jī)、處理器、存儲(chǔ)器、通信電路、函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、多路采樣開關(guān)矩陣、時(shí)序電路、譯碼電路、A/D轉(zhuǎn)換器、采樣保持器、差分放大器、采樣自診斷電路,所述函數(shù)信號(hào)發(fā)生器分別與多路采樣開關(guān)矩陣、處理器相連,A/D轉(zhuǎn)換器一端與處理器相連,另一端經(jīng)采樣保持器、差分放大器與多路采樣開關(guān)矩陣相連,時(shí)序電路分別與處理器、A/D轉(zhuǎn)換器、采樣保持器、差分放大器相連,采樣自診斷電路分別與處理器、多路采樣開關(guān)矩陣相連,處理器還分別與通信電路、存儲(chǔ)器、譯碼電路相連,譯碼電路的另一端與多路采樣開關(guān)矩陣相連,主控PC機(jī)經(jīng)通信電路與處理器相連,所述函數(shù)信號(hào)發(fā)生器由處理器、驅(qū)動(dòng)電路、電容網(wǎng)絡(luò)、函數(shù)發(fā)生器、DAC陣列、放大器、緩沖器組成,處理器、驅(qū)動(dòng)電路、電容網(wǎng)絡(luò)、函數(shù)發(fā)生器依次串接,DAC陣列串接于處理器、函數(shù)發(fā)生器之間,函數(shù)發(fā)生器的輸出經(jīng)放大器送到緩沖器,緩沖器與處理器相連;函數(shù)信號(hào)發(fā)生器在處理器的控制下輸出激勵(lì)信號(hào)經(jīng)多路采樣開關(guān)矩陣送到被測(cè)電路的激勵(lì)節(jié)點(diǎn),被測(cè)電路的響應(yīng)信號(hào)經(jīng)多路采樣開關(guān)矩陣、差分放大器、采樣保持器、A/D轉(zhuǎn)換器送到處理器,再通過通信電路送到主控PC機(jī),主控PC機(jī)對(duì)采樣信號(hào)進(jìn)行小波包變換消噪處理,并進(jìn)行主元分析和歸一化處理,得到故障特征向量;將故障特征向量,輸入訓(xùn)練好的BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的輸出即為故障類型。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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