[發明專利]判斷待測面板的方法及其系統

無效

• 申請號: 200810027732.4
• 申請日: 2008-04-28
• 公開（公告）號: CN101571628A
• 公開（公告）日: 2009-11-04
• 發明（設計）人: 宋尚軒;謝冠生
• 申請（專利權）人: 深超光電（深圳）有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01N21/88
• 代理公司: 東莞市中正知識產權事務所
• 代理人: 侯來旺

技術領域

本發明主要涉及一種判斷待測面板的方法及其系統，尤其是指一種利用判斷伺服器自動判斷待測面板等級的方法。

背景技術

習知技術之判斷待測面板的方法，系利用操作員紀錄待測面板的缺陷資訊，加以比對后，再給予待測面板一個等級，如待測面板系具有5個壞點(亮點或暗點)以內，給予待測面板系一A等級；品質較差的待測面板如具有5個壞點~10個壞點，則給予待測面板B等級(次一等級)，將生產好的面板依據面板的等級加以分類后，以便于出售。舉例來說，A等級的面板多半賣給NB廠制作面板之用，價錢也較高；品質較差的面板，價錢較低，這些面板可以制作成一些對面板要求不那么高的電子產品。

先前技術對于待測面板的等級分類，可見于組立(Cell)制程的CT2測試及模組組裝測試階段，兩個階段的測試都系以人力紀錄待測面板的缺陷資訊，根據這些缺陷資訊以一份對照表，以人力方式進行比對，比對出目前待測面板的等級，據此給予待測面板一個等級。

這種純粹以人力作業的比對方式，其準確率易因操作員的精神狀況不佳、精神集中度不夠、突發噪音影響，造成的操作員分心，使得面板的等級分類不夠確實。

發明內容

本發明之主要目的在于，提供一種判斷待測面板的方法及其系統，其系以一判斷伺服器判斷待測面板的等級，解決習知技術可能發生的誤判等級情況。

本發明之另一目的在于，提供一種判斷待測面板的方法及其系統，其系可應用于CT2(檢查站點)測試或模組組裝測試，提升分類判斷時的效率及準確性。

為了達到上述目的，本發明所采取的技術方案為，提供一種判斷待測面板的方法及其系統，該系統系由判斷伺服器及工作平臺組成，本發明可應用于CT2測試、面板模組組裝測試；判斷伺服器與工作平臺連接，判斷伺服器內建復數面板等級，于工作平臺輸入每一定待測面板的缺陷資訊后，工作平臺將缺陷資訊傳遞給判斷伺服器后，由判斷伺服器判斷待測面板的等級，并將待測面板的等級回饋給工作平臺；本發明系依照缺陷的項目數量與規格以判斷伺服器判斷待測面板的等級，可應用于ct2測試或模組組裝測試，解決習知技術可能發生的操作員根據待測面板的缺陷資訊，比對面板等級時發生誤判等級情況，且能提升面板分類時時的效率及準確性。

本發明的有益效果在于，提供一種判斷待測面板的方法及其系統；其中，該系統系由判斷伺服器及工作平臺組成，本發明可應用于CT2測試、面板模組組裝測試；判斷伺服器與工作平臺連接，判斷伺服器內建複數面板等級，于工作平臺輸入待測面板的缺陷資訊后，工作平臺將缺陷資訊傳遞給判斷伺服器后，由判斷伺服器判斷待測面板的等級，并將待測面板的等級回饋給工作平臺；以達到其解決習知技術可能發生的誤判等級情況及提升分類判斷時的效率及準確性的效果。

附圖說明

圖1為本發明之判斷待測面板系統的示意圖

圖2為本發明之判斷伺服器提供的表單之示意圖

圖3為本發明之一實施例之實施流程示意圖

圖4為本發明之判斷伺服器提供F/I站的表單示意圖

圖5為本發明之另一實施例之實施流程示意圖

圖6為本發明之判斷伺服器提供FV站的表單示意圖

圖7為本發明之判斷伺服器提供FMA站的表單示意圖

具體實施方式

為能詳細說明本發明，請參照圖1，首先說明本發明的判斷待測面板的系統；本發明的判斷待測面板的系統包括一判斷伺服器12、一工作平臺14，與判斷伺服器12連接，工作平臺14包括一輸入裝置18(鍵盤、鼠標)及一顯示器16，可供操作員使用；判斷伺服器12，內建有復數面板等級，判斷伺服器12可內建的面板分類之等級不受限制，可根據需要進行調整，本實施方式系采用3種面板等級；

判斷伺服器12所內建的資料，請同時參照圖2，圖示中所列舉的各種面板于生產時可能發生的缺陷，如線缺陷、點缺陷、點距離、玻璃刮傷、偏光板刮傷、MURA測試結果、點狀異物類聚集亮/暗點等等缺陷。

根據上面介紹的判斷待測面板系統，以下繼續說明本發明判斷面板等級的一個實施方式，此判斷待測面板的方法，請參照圖3；首先進行步驟S12，輸入一待測面板狀態的缺陷資訊；輸入待測面板狀態的缺陷資訊系利用上面介紹的工作平臺14進行者；請同時參照圖4，圖4系判斷伺服器12所提供于顯示器16上的FI表單；圖4中的系包括線缺陷A、點缺陷B、偏光板C、Mura?D、刮傷E等面板缺陷的主要問題，這些選項系一種下拉表單，每一個下拉表單內含許多詳細的缺陷項目；