[發明專利]判斷待測面板的方法及其系統

無效

• 申請號: 200810027732.4
• 申請日: 2008-04-28
• 公開（公告）號: CN101571628A
• 公開（公告）日: 2009-11-04
• 發明（設計）人: 宋尚軒;謝冠生
• 申請（專利權）人: 深超光電（深圳）有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01N21/88
• 代理公司: 東莞市中正知識產權事務所
• 代理人: 侯來旺

1.一種判斷待測面板的系統，其包括：一判斷伺服器及一工作平臺，其特征在于，該判斷伺服器，內建復數面板等級；又，該工作平臺，與該判斷伺服器連接，于該工作平臺輸入每一定待測面板的缺陷資訊后，該工作平臺將缺陷資訊傳遞給該判斷伺服器后，由該判斷伺服器判斷該待測面板的等級，并將該待測面板的等級回饋給該工作平臺。

2.根據權利要求1所述之判斷待測面板的系統，其中，該待測面板的缺陷資訊包括線缺陷、點缺陷、點距離、玻璃刮傷、偏光板刮傷、MURA測試結果、點狀異物類聚集亮/暗點。

3.根據權利要求1所述之判斷待測面板的系統，其中，該判斷伺服器可設定至少3種面板等級。

4.根據權利要求1所述之判斷待測面板的方法，其中，該工作平臺包括一顯示器及一輸入裝置。

5.一種判斷待測面板的方法，其特征在于，其包括下列步驟：

輸入一待測面板狀態的一缺陷資訊；以及根據該缺陷資訊判斷該待測面板的面板等級。

6.根據權利要求5所述之判斷待測面板的方法，其中，判斷該待測面板的面板等級系利用一判斷伺服器進行。

7.根據權利要求6所述之判斷待測面板的方法，其中，該判斷伺服器可設定至少3種面板等級。

8.根據權利要求5所述之判斷待測面板的方法，其中，該缺陷資訊包括線缺陷、點缺陷、點距離、玻璃刮傷、偏光板刮傷、MURA測試結果、點狀異物類聚集亮/暗點。

9.根據權利要求6所述之判斷待測面板的方法，其中，當該判斷伺服器判斷該待測面板的面板等級后，該判斷伺服器可將判斷后的結果與組立制程中的測試結果進行比對，如比對二者結果皆相同，則進續對下一待測面板進行該比對，如比對二者結果不相同，則重新輸入該待測面板狀態的該缺陷資訊，根據該缺陷資訊判斷該待測面板的面板等級。

10.根據權利要求9所述之判斷待測面板的方法，其中，該比對包括面板等級是否相同，如面板等級不相同，重新確認該待測面板的缺點數量，如缺點數量相同則將由該判斷伺服器判斷該待測面板的等級，如缺點數量不相同，則重新輸入該待測面板狀態的該缺陷資訊，并根據該缺陷資訊判斷該待測面板的面板等級。

11.如申請專利范圍第5項所述之判斷待測面板的方法，其中輸入該待測面板狀態的該缺陷資訊系利用一工作平臺。