[發明專利]平板顯示面板電極線缺陷的檢測用的測試面板

無效

• 申請號: 200810024608.2
• 申請日: 2008-03-28
• 公開（公告）號: CN101252071A
• 公開（公告）日: 2008-08-27
• 發明（設計）人: 黃秋銘;張雄;李青;朱立鋒;林青園;王保平;陳程
• 申請（專利權）人: 南京華顯高科有限公司
• 主分類號: H01J9/42
• 分類號: H01J9/42;H01R31/02
• 代理公司: 南京天華專利代理有限責任公司
• 代理人: 夏平;瞿網蘭

技術領域

本發明涉及一種利用氣體放電腔體中的氣體放電檢測平板顯示面板電極線缺陷的檢測用的測試面板，具體地說是一種平板顯示面板電極線缺陷的檢測用的測試面板。

背景技術

目前采用的蔭罩式等離子體顯示板主要包括前基板、后基板和蔭罩。前基板從玻璃基板起，分別是掃描電極、介質層以及在介質層表面形成的保護層；后基板從玻璃基板起，分別是與掃描電極垂直的尋址電極，介質層以及在介質層上形成的保護層；夾在前、后基板中間的蔭罩是由導電材料(例如鐵或其合金)加工而成的包含網孔陣列的金屬薄網板。

前后基板上的電極線一般采用印刷，烘干，曝光，顯影，燒結的工藝。但電極線由于工藝控制的難以把握的影響，容易出現斷線和連線等缺陷情況。

目前檢測前后基板電極線開短路的裝置基本都是進口的光學檢測裝置，這樣的裝置精密復雜，不僅價格昂貴，而且檢測速度也較慢，同時很多部件國內難以買到，需要廠商派人前來維護，維護費用高不說，周期還很長，對于裝置維護使用不利。

發明內容

本發明的目的是針對現有的蔭罩式等離子體前后基板電極線的開短路檢測速度較慢，裝置昂貴，維護不方便等問題。提出一種基于氣體放電對電極缺陷進行判定的方法及其檢測裝置，它可廣泛用于具有Ag電極的PDP基板的生產中。

本發明的技術方案是：

一種平板顯示面板電極線缺陷的檢測用的測試面板，其特征是可以由在玻璃1a表面依次燒結有電極1b和介質層1c的PDP面板構成；可以是在玻璃或者其它非導電材料1a的表面蒸鍍一層金屬等導電材料作為測試電極1b₁，然后在測試電極的局部測試區內覆蓋絕緣介質層1c構成；可以是采用整塊的銀、鋁、銅或其合金等導電金屬材料作為測試電極1b₁，然后在這些金屬材料表面采用表面氧化的氧化工藝形成一層不導電的絕緣層1c構成(此時不需要基板1a)。

測試電極1b或1b₁的所用材料可以是銀、鋁、銅等導電金屬及其合金或表面鍍有導電材料膜的非金屬材料，測試面板的基板1a、側邊3、絕緣介質層1c、絕緣介質層12所用材料可以為玻璃、陶瓷、塑料膜、有機絕緣層、無機絕緣層、金屬材料的表面氧化等非導電的絕緣介質層。

所述的測試面板可以是略小于待測面板，測試面板1與待測面板2保持相對固定的靜態檢測方式，此時檢測僅移動檢測頭8，也可以是測試面板1小于待測面板2，檢測時固定待測試面板2，同時移動測試面板1和檢測頭8的動態掃描的檢測方式。

本發明的有益效果：

1、本發明為快速準確地檢出前后基板電極線的斷線和連線缺陷點提供了必備的手段。

2、具有制作工藝簡單，成本低的優點。

相比于目前進口的光學檢測設備價格昂貴，檢測較慢，維護困難等缺點，本發明的優勢明顯，是一個良好的替代選擇。

四.附圖說明

圖1、圖2是為本發明具有電極圖案的測試面板示意圖。

圖3是為具有電極圖案的待測面板示意圖。

圖4是為本發明的單邊介質放電電極線圖案缺陷檢測裝置的意圖。

圖5是為本發明的雙邊介質放電電極線圖案缺陷檢測裝置的示意圖。

圖6是平板顯示器面板電極線圖案缺陷種類示意圖。

圖7待測面板引線區電極線分類示意圖

五.具體實施例

下面結合附圖和實施例對本發明作進一步的說明。

如圖1-3所示。

一種平板顯示面板電極線缺陷的檢測用的測試面板，其特征是可以由在玻璃1a表面依次燒結有電極1b和介質層1c的PDP面板構成；可以是在玻璃或者其它非導電材料1a的表面蒸鍍一層金屬等導電材料作為測試電極1b₁，然后在測試電極的局部測試區內覆蓋絕緣介質層1c構成；可以是采用整塊的銀、鋁、銅或其合金等導電金屬材料作為測試電極1b₁，然后在這些金屬材料表面采用表面氧化的氧化工藝形成一層不導電的絕緣層1c構成(此時不需要基板1a)。

測試電極1b或1b₁的所用材料可以是銀、鋁、銅等導電金屬及其合金或表面鍍有導電材料膜的非金屬材料，測試面板的基板1a、側邊3、絕緣介質層1c、絕緣介質層12所用材料可以為玻璃、陶瓷、塑料膜、有機絕緣層、無機絕緣層、金屬材料的表面氧化等非導電的絕緣介質層。