[發明專利]平板顯示面板電極線缺陷的檢測用的測試面板

無效

• 申請號: 200810024608.2
• 申請日: 2008-03-28
• 公開（公告）號: CN101252071A
• 公開（公告）日: 2008-08-27
• 發明（設計）人: 黃秋銘;張雄;李青;朱立鋒;林青園;王保平;陳程
• 申請（專利權）人: 南京華顯高科有限公司
• 主分類號: H01J9/42
• 分類號: H01J9/42;H01R31/02
• 代理公司: 南京天華專利代理有限責任公司
• 代理人: 夏平;瞿網蘭

1、一種平板顯示面板電極線缺陷的檢測用的測試面板，其特征是可以由在玻璃(1a)表面依次燒結有電極(1b)和介質層(1c)的PDP面板構成；可以是在玻璃或者其它非導電材料(1a)的表面蒸鍍一層金屬等導電材料作為測試電極(1b₁)，然后在測試電極的局部測試區內覆蓋絕緣介質層(1c)構成；可以是采用整塊的銀、鋁、銅或其合金等導電金屬材料作為測試電極(1b₁)，然后在這些金屬材料表面采用表面氧化的氧化工藝形成一層不導電的絕緣層(1c)構成。

2、根據權利要求1所述的平板顯示面板電極線缺陷的檢測用的測試面板，其特征是測試電極(1b)或(1b₁)的所用材料可以是銀、鋁、銅等導電金屬及其合金或表面鍍有導電材料膜的非金屬材料，測試面板的基板(1a)、側邊(3)、絕緣介質層(1c)、絕緣介質層(12)所用材料可以為玻璃、陶瓷、塑料膜、有機絕緣層、無機絕緣層、金屬材料的表面氧化等非導電的絕緣介質層。

3、根據權利要求1所述的平板顯示面板電極線缺陷的檢測用的測試面板，其特征是它可以是略小于待測面板，測試面板(1)與待測面板(2)保持相對固定的靜態檢測方式，此時檢測僅移動檢測頭(8)，也可以是測試面板(1)小于待測面板(2)，檢測時固定待測試面板(2)，同時移動測試面板(1)和檢測頭(8)的動態掃描的檢測方式。