[發(fā)明專利]可縱向升降、水平旋轉(zhuǎn)的晶圓吸附及卸落裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200810023653.6 | 申請日: | 2008-04-14 |
| 公開(公告)號: | CN101261284A | 公開(公告)日: | 2008-09-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 董曉清;孫盤泉;戴京東;陳仲宇 | 申請(專利權(quán))人: | 無錫市易控系統(tǒng)工程有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04;G01R31/26 |
| 代理公司: | 無錫市大為專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人: | 曹祖良 |
| 地址: | 214028江蘇省無*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 縱向 升降 水平 旋轉(zhuǎn) 吸附 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種在晶圓測試時可以實現(xiàn)晶圓在縱向升降、并可在水平平面內(nèi)轉(zhuǎn)動的晶圓吸附及卸落裝置。
背景技術(shù)
在晶圓測試領(lǐng)域,目前普遍采用的測試機與測試方法是手動測試或半自動測試。手動測試為人工放置每一片晶圓,用光學(xué)顯微鏡對準(zhǔn)每個管芯后手動測試。半自動測試是人工把晶圓放置在測試臺上,再通過光學(xué)顯微鏡掃描,手動調(diào)整晶圓的角度和第一個管芯的位置。調(diào)整好后再依次測試晶圓上的每個管芯。測試完每片晶圓后人工把晶圓放回晶圓片盒內(nèi),再取出下一個晶圓重復(fù)上述測試過程。如此人工操作大大增加了晶圓測試的時間,勢必也增加了測試成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足,提供一種降低測試成本、縮短晶圓測試的時間的可縱向升降、水平旋轉(zhuǎn)的晶圓吸附及卸落裝置。
按照本發(fā)明提供的技術(shù)方案,在機架的縱向方向布置的管狀內(nèi)套頂端設(shè)置晶圓吸盤裝置,所述的內(nèi)套與升降裝置與旋轉(zhuǎn)裝置相連,該晶圓吸盤裝置包括在負(fù)壓吸盤與隔熱盤之間設(shè)置的加熱器,在負(fù)壓吸盤上表面設(shè)有若干負(fù)壓氣槽,在負(fù)壓吸盤內(nèi)設(shè)有與負(fù)壓氣槽連通的負(fù)壓氣孔,在負(fù)壓吸盤上設(shè)有負(fù)壓氣管接頭,所述的負(fù)壓氣管接頭與負(fù)壓氣孔連通,在負(fù)壓吸盤上設(shè)有貫穿負(fù)壓吸盤、加熱器與隔熱盤的卸料孔,卸料孔內(nèi)設(shè)有頂針以及頂針升降控制裝置。
所述負(fù)壓氣槽為負(fù)壓吸盤上表面開設(shè)的同心圓槽體。在負(fù)壓吸盤與加熱器之間設(shè)有熱緩沖盤。
內(nèi)套底端處外壁設(shè)有滾珠滑套,滾珠滑套外壁套有夾套,所述的夾套設(shè)于固定設(shè)置的外套內(nèi)并與外套轉(zhuǎn)動連接,縱向絲杠頂在內(nèi)套底端與其驅(qū)動裝置相連。內(nèi)套上設(shè)有橫向伸出的搖桿,搖桿的另一端與旋轉(zhuǎn)裝置相連。
在晶圓吸盤裝置下方設(shè)有聯(lián)接盤,聯(lián)接盤的下面固定設(shè)置有頂針上板和頂針下板,頂針上板和頂針下板之間滑動連接頂針中板,在頂針中板的上平面安裝固定有頂針板,頂針中板通過頂針絲杠,該頂針絲杠與其驅(qū)動裝置相連。
頂針上板上設(shè)有頂針安裝板,在頂針安裝板上固定設(shè)有插入卸料孔內(nèi)的頂針,在頂針安裝板與負(fù)壓吸盤之間的頂針外套接有復(fù)位彈簧。在加熱器與隔熱盤之間設(shè)有蓋板,晶圓吸盤裝置在負(fù)壓吸盤的下表面設(shè)有向隔熱盤伸出的下凸環(huán),相應(yīng)地在隔熱盤上表面設(shè)有向負(fù)壓吸盤伸出的上凸環(huán),下凸環(huán)的下端面與上凸環(huán)上端面接觸并將熱加熱器、緩沖盤與蓋板包容其內(nèi)。
本發(fā)明可以有效降低測試成本,縮短晶圓測試的時間,在測試時可實現(xiàn)縱向升降、水平旋轉(zhuǎn)。
附圖說明
圖1是本發(fā)明的整體結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2是本發(fā)明中的晶圓吸盤裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
下面結(jié)合具體附圖和實施例對本發(fā)明作進一步說明。
如圖所示:在機架的縱向方向布置的管狀內(nèi)套1頂端設(shè)置的晶圓吸盤裝置29,所述的內(nèi)套1與升降裝置與旋轉(zhuǎn)裝置相連,該晶圓吸盤裝置29包括在負(fù)壓吸盤35與隔熱盤36之間設(shè)置的加熱器37,在負(fù)壓吸盤35上表面設(shè)有若干負(fù)壓氣槽38,在負(fù)壓吸盤35內(nèi)設(shè)有與負(fù)壓氣槽38連通的負(fù)壓氣孔39,在負(fù)壓吸盤35上設(shè)有負(fù)壓氣管接頭40,所述的負(fù)壓氣管接頭40與負(fù)壓氣孔39連通,在負(fù)壓吸盤35上設(shè)有貫穿負(fù)壓吸盤35、加熱器37與隔熱盤36的卸料孔41,卸料孔41內(nèi)設(shè)有頂針30以及頂針升降控制裝置。
所述負(fù)壓氣槽38為負(fù)壓吸盤35上表面開設(shè)的同心圓槽體。在負(fù)壓吸盤35與加熱器37之間設(shè)有熱緩沖盤42。
內(nèi)套1底端處外壁設(shè)有滾珠滑套15,滾珠滑套15外壁套有夾套9,所述的夾套9設(shè)于固定設(shè)置的外套10內(nèi)并與外套10轉(zhuǎn)動連接,縱向絲杠17頂在內(nèi)套1底端與其驅(qū)動裝置相連。內(nèi)套1上設(shè)有橫向伸出的搖桿21,搖桿21的另一端與旋轉(zhuǎn)裝置相連。
在晶圓吸盤裝置29下方設(shè)有聯(lián)接盤28,聯(lián)接盤28的下面固定設(shè)置有頂針上板3和頂針下板7,頂針上板3和頂針下板7之間滑動連接頂針中板4,在頂針中板4的上平面安裝固定有頂針板27,頂針中板4通過頂針絲杠5,該頂針絲杠5與其驅(qū)動裝置相連。
頂針上板3上設(shè)有頂針安裝板32,在頂針安裝板32上固定設(shè)有插入卸料孔41內(nèi)的頂針30,在頂針安裝板32與負(fù)壓吸盤35之間的頂針30外套接有復(fù)位彈簧31。
在加熱器37與隔熱盤36之間設(shè)有蓋板45,晶圓吸盤裝置29在負(fù)壓吸盤35的下表面設(shè)有向隔熱盤36伸出的下凸環(huán)43,相應(yīng)地在隔熱盤36上表面設(shè)有向負(fù)壓吸盤35伸出的上凸環(huán)44,下凸環(huán)43的下端面與上凸環(huán)44上端面接觸并將熱加熱器37、緩沖盤42與蓋板45包容其內(nèi)。
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進;這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
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G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護裝置或電路





