[發(fā)明專利]顱面形態(tài)測量裝置以及測量顱面形態(tài)的方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810017226.7
• 申請日: 2008-01-04
• 公開（公告）號: CN101234023A
• 公開（公告）日: 2008-08-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張艷寧;施建宇;周洪;翟培芳;林增剛;李映
• 申請（專利權(quán)）人: 西北工業(yè)大學
• 主分類號: A61B5/107
• 分類號: A61B5/107;G06F17/10
• 代理公司: 西北工業(yè)大學專利中心
• 代理人: 黃毅新

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種顱面形態(tài)測量裝置，還涉及用該裝置測量顱面形態(tài)的方法。

背景技術(shù)

顱面部形態(tài)是人體上最為復(fù)雜的形態(tài)區(qū)域，顱面部畸形及上下牙列的矯治，最終表現(xiàn)為顱面部形態(tài)改變。

參照圖3。文獻“申請?zhí)?公開號為200510021748.0/CN1742676的中國發(fā)明專利”公開了一種人顱面三維測量器及其測量方法。該測量器包括垂直測量尺1、三組水平尺4，7，9、三個連接件2，10，11、兩組滑動件3和5、兩組水平千分尺6和8和醫(yī)用細針，三組水平尺4，7，9卡于垂直測量尺1上并可上下移動。用此三維測量器測量顱面的方法，是通過滑動測量器上的不同構(gòu)件確定測量器定位點，從垂直測量尺和水平尺上讀出人顱面部任意一點的三維測量數(shù)值，采用三維數(shù)字(X，Y，Z)表達顱面部任意點的三維測量數(shù)值。該三維測量器屬于接觸式測量裝置，且不方便使用；該測量方法得到的是顱面部點的三維坐標值，用于顱面部形態(tài)分析的線距和角度則需要經(jīng)手工計算，且無法完成面部曲面最短路徑的測量。

發(fā)明內(nèi)容

為了克服現(xiàn)有技術(shù)接觸式測量誤差大、效率低的不足，本發(fā)明提供一種顱面形態(tài)測量裝置，利用激光三維掃描儀獲取顱面部三維數(shù)據(jù)模型，實現(xiàn)非接觸式測量。

本發(fā)明還提供利用上述顱面形態(tài)測量裝置測量顱面形態(tài)的方法。

本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案：一種顱面形態(tài)測量裝置，包括座椅，其特點是還包括激光三維掃描儀、旋轉(zhuǎn)臺、支架、滑塊、滑軌，滑軌安放在工作室的地面，滑塊上的U型槽與滑軌配合，卡放在滑軌上并可沿滑軌作360°移動，滑塊上方正中固連一支架，支架上固連一旋轉(zhuǎn)臺，激光三維掃描儀放置在旋轉(zhuǎn)臺上，座椅固定在滑軌圓心處的地面上，面對滑軌的0刻度位置。

一種利用上述顱面形態(tài)測量裝置測量顱面形態(tài)的方法，其特點是包括以下步驟：

(a)被測量者端坐在座椅上，調(diào)節(jié)座椅高度，使得被測量者顱面部與激光三維掃描儀處于同一水平面上，移動滑塊到滑軌的0度刻度線位置、左側(cè)面45度刻度線位置以及右側(cè)面45度刻度線位置，用激光三維掃描儀進行掃描，獲得三副顱面形態(tài)的圖像數(shù)據(jù)；

(b)采用激光三維掃描儀自帶軟件Rapidform2004對獲得的三副顱面形態(tài)的圖像數(shù)據(jù)進行處理，拼接合成為一個完整的顱面部形態(tài)三維數(shù)據(jù)模型；

(c)對于顱面形態(tài)直線距離，將兩點的三維坐標(x1、y1、z1)和(x2、y2、z2)代人歐式距離測量計算公式：

D=(x1-x2)2+(y1-y2)2+(z1-z2)2,]]>

即得到兩點的直線距離D；