[發明專利]顱面形態測量裝置以及測量顱面形態的方法

無效

• 申請號: 200810017226.7
• 申請日: 2008-01-04
• 公開（公告）號: CN101234023A
• 公開（公告）日: 2008-08-06
• 發明（設計）人: 張艷寧;施建宇;周洪;翟培芳;林增剛;李映
• 申請（專利權）人: 西北工業大學
• 主分類號: A61B5/107
• 分類號: A61B5/107;G06F17/10
• 代理公司: 西北工業大學專利中心
• 代理人: 黃毅新

1、一種顱面形態測量裝置，包括座椅，其特征在于：還包括激光三維掃描儀、旋轉臺、支架、滑塊、滑軌，滑軌安放在工作室的地面，滑塊上的U型槽與滑軌配合，卡放在滑軌上并可沿滑軌作360°移動，滑塊上方正中固連一支架，支架上固連一旋轉臺，激光三維掃描儀放置在旋轉臺上，座椅固定在滑軌圓心處的地面上，面對滑軌的0刻度位置。

2、根據權利要求1所述顱面形態測量裝置，其特征在于：所述的滑軌圓周側面有刻度線。

3、一種利用權利要求1所述顱面形態測量裝置測量顱面形態的方法，其特征在于包括以下步驟：

(a)被測量者端坐在座椅上，調節座椅高度，使得被測量者顱面部與激光三維掃描儀處于同一水平面上，移動滑塊到滑軌的0度刻度線位置、左側面45度刻度線位置以及右側面45度刻度線位置，用激光三維掃描儀進行掃描，獲得三副顱面形態的圖像數據；

(b)采用激光三維掃描儀自帶軟件Rapidform2004對獲得的三副顱面形態的圖像數據進行處理，拼接合成為一個完整的顱面部形態三維數據模型；

(c)對于顱面形態直線距離，將兩點的三維坐標(x1、y1、z1)和(x2、y2、z2)代人歐式距離測量計算公式：

D=(x1-x2)2+(y1-y2)2+(z1-z2)2,]]>

即得到兩點的直線距離D；

(d)對于顱面形態弧長，首先創建一個先進先出的空隊列Queue，將起點v_start放入隊列Queue中，并標記其在隊列中，如果隊列Queue為空，則停止；否則，從隊列Queue中取出隊首節點v_i，遍歷節點v_i的所有鄰接點v_j，比較v_j到起點的路徑長度與起點經過v_i到v_j的路徑長度，如果v_j到起點的路徑長度小于起點經過v_i到v_j的路徑長度，則更新v_j的最短路徑長度路徑和上一節點；并判斷該點是否在隊列中，若不在將該點加入到隊列中，從終點出發，取得其最短路徑的長度值，通過回溯找到該點到起點的最短路徑即弧長；

(e)對于顱面形態角度，將三點的三維坐標(x1、y1、z1)、(x2、y2、z2)和(x3、y3、z3)代人歐式距離測量計算公式，分別計算出三點兩兩間的距離D₁、D₂和D₃，根據余弦定理，求出三點夾角的余弦值α，通過反余弦公式，得到三點的夾角值；

(f)對于顱面形態的比例，將四點的三維坐標(x1、y1、z1)、(x2、y2、z2)、(x3、y3、z3)和(x4、y4、z4)代人歐式距離測量計算公式，計算出其中兩對點的距離，得到一組直線距離D₁和D₂，計算這組直線距離的比例因子τ，得到顱面形態的的比例值，即τ=D1D2.]]>