[發(fā)明專利]將特征值儲存區(qū)轉(zhuǎn)換為擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)的系統(tǒng)及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810001904.0
• 申請日: 2008-01-03
• 公開（公告）號: CN101477171A
• 公開（公告）日: 2009-07-08
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 梁文山;蔡佳宏
• 申請（專利權(quán)）人: 京元電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/319;G06F12/00
• 代理公司: 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司
• 代理人: 周國城

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種內(nèi)存的系統(tǒng)與內(nèi)存轉(zhuǎn)換的方法，尤指一種適用于將測試機(jī)臺內(nèi)部的特征值儲存區(qū)轉(zhuǎn)換為擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)的系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)

請參閱圖1，圖1是本發(fā)明擷取數(shù)據(jù)存儲器重新配置前的系統(tǒng)架構(gòu)圖。此圖亦為傳統(tǒng)測試設(shè)備的系統(tǒng)架構(gòu)圖。首先，由數(shù)字電路20自特征值儲存區(qū)11讀取特征值，再通過驅(qū)動器30將特征值輸入至待測芯片4的輸入腳41中。

隨后，待測芯片4的輸出腳42相應(yīng)地輸出測試數(shù)據(jù)，并通過比較器3，將待測芯片回授信號運(yùn)算后儲存于系統(tǒng)擷取數(shù)據(jù)存儲器21中，以作為測試紀(jì)錄，以利后續(xù)分析使用。

于現(xiàn)有技術(shù)中，其特征值儲存區(qū)11遠(yuǎn)大于擷取數(shù)據(jù)存儲器21的儲存容量。就一般消費(fèi)性芯片而言，其輸出數(shù)據(jù)所需儲存容量并不大。因此，將輸出數(shù)據(jù)儲存于現(xiàn)有的擷取數(shù)據(jù)存儲器21做為除錯已是足夠。

但對于特殊的芯片測試而言，其輸出腳位的輸出值所需儲存容量很大，而且需將芯片輸出數(shù)據(jù)做分析。因此，現(xiàn)有的擷取數(shù)據(jù)存儲器21其容量配置遠(yuǎn)不敷使用。需再另外增購內(nèi)存，以擴(kuò)充擷取數(shù)據(jù)存儲器容21的容量。不但提高測試成本、更占用測試機(jī)臺的空間。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明目的是提供一種將測試機(jī)臺內(nèi)部的特征值儲存區(qū)轉(zhuǎn)換為擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)的系統(tǒng)，其包括一可配置內(nèi)存、一待測芯片、及一控制器。

可配置內(nèi)存包括有一特征值儲存區(qū)。待測芯片包括至少一輸入腳、及至少一輸出腳。控制器其分別與可配置內(nèi)存、待測芯片電性連接。

待測芯片的至少一輸入腳通過控制器對應(yīng)至特征值儲存區(qū)、及待測芯片的至少一輸出腳通過控制器對應(yīng)至控制器的擷取數(shù)據(jù)存儲器。

其中，于測試期間控制器檢測待測芯片，其輸出值所需儲存容量，大于控制器的擷取數(shù)據(jù)存儲器所能儲存最大容量，控制器指定可配置內(nèi)存的特征值儲存區(qū)的部分內(nèi)存區(qū)塊為擷取數(shù)據(jù)存儲器，用以擴(kuò)充系統(tǒng)的擷取數(shù)據(jù)存儲器的容量。

再者，上述的控制器包括一數(shù)字電路、一比較器、及一驅(qū)動器。比較器可與數(shù)字電路接受待測芯片輸出值的高低電位基準(zhǔn)。驅(qū)動器可與數(shù)字電路電性連接，用以將可配置內(nèi)存的特征值儲存區(qū)的數(shù)據(jù)，驅(qū)動輸出至待測芯片。除前述的系統(tǒng)架構(gòu)外，本發(fā)明的另一特色是在下列執(zhí)行方法，包括下列步驟：

(A)提供一控制器、一可配置內(nèi)存、及一待測芯片，可配置內(nèi)存包括一特征值儲存區(qū)，特征值儲存區(qū)所儲存的數(shù)據(jù)通過控制器輸入至該待測芯片的至少一輸入腳，待測芯片的通過至少一輸出腳將測試結(jié)果輸出并儲存于控制器的一擷取數(shù)據(jù)存儲器內(nèi)；

(B)控制器檢測該待測芯片，待測芯片的輸出值所需儲存容量，大于擷取數(shù)據(jù)存儲器所能儲存最大容量；

(C)控制器指定至少一特征值儲存區(qū)的部分內(nèi)存區(qū)塊為一擴(kuò)充儲存區(qū)：

(D)令擴(kuò)充儲存區(qū)加上擷取數(shù)據(jù)存儲器，總?cè)萘看笥诖郎y芯片于測試期間，輸出值所需儲存容量；以及

(E)將擴(kuò)充儲存區(qū)配置為一擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)，用以擴(kuò)充擷取數(shù)據(jù)存儲器的容量。

上述方法可由軟件程序?qū)懗梢灾鸩綀?zhí)行的。因此，本發(fā)明的方法可以以計算機(jī)語言撰寫后再加載一控制器中，以利執(zhí)行。

附圖說明

圖1是本發(fā)明擷取數(shù)據(jù)存儲器重新配置前的系統(tǒng)架構(gòu)圖；

圖2是本發(fā)明擷取數(shù)據(jù)存儲器重新配置后的系統(tǒng)架構(gòu)圖；

圖3是本發(fā)明一較佳實(shí)施例的流程圖；

圖4是本發(fā)明待測芯片輸/出入腳對應(yīng)至重新配置后的可配置內(nèi)存內(nèi)對應(yīng)的儲存區(qū)塊示意圖。

【主要組件符號說明】

可配置內(nèi)存1?????????????????????特征值儲存區(qū)11

擴(kuò)充儲存區(qū)12????????????????????擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)120

控制器2?????????????????????????數(shù)字電路20

擷取數(shù)據(jù)存儲器21????????????????比較器3

驅(qū)動器30????????????????????????待測芯片4

輸入腳41????????????????????????輸出腳42

具體實(shí)施方式

請一并參閱圖1及圖2，圖1為本發(fā)明擷取數(shù)據(jù)存儲器重新配置前的系統(tǒng)架構(gòu)圖，圖2是本發(fā)明擷取數(shù)據(jù)存儲器重新配置后的系統(tǒng)架構(gòu)圖。如圖所示，本發(fā)明為一種將測試機(jī)臺內(nèi)部的特征值儲存區(qū)轉(zhuǎn)換為擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)的系統(tǒng)，主要包括一可配置內(nèi)存1、一待測芯片4、及一控制器2。而且，控制器2包括一數(shù)字電路20、一比較器3、及一驅(qū)動器30。