[發(fā)明專利]將特征值儲(chǔ)存區(qū)轉(zhuǎn)換為擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)的系統(tǒng)及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200810001904.0 | 申請(qǐng)日: | 2008-01-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101477171A | 公開(公告)日: | 2009-07-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 梁文山;蔡佳宏 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 京元電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28;G01R31/319;G06F12/00 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 周國城 |
| 地址: | 臺(tái)灣省*** | 國省代碼: | 中國臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 特征值 儲(chǔ)存區(qū) 轉(zhuǎn)換 擷取 數(shù)據(jù) 擴(kuò)充 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種將特征值儲(chǔ)存區(qū)轉(zhuǎn)換為擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)的系統(tǒng),其特征在于包括:
一可配置內(nèi)存,包括至少一特征值儲(chǔ)存區(qū);
一待測(cè)芯片,包括至少一輸入腳、及至少一輸出腳;以及
一控制器,其分別與該可配置內(nèi)存、及該待測(cè)芯片電性連接,該控制器包括一擷取數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器,該待測(cè)芯片的該至少一輸入腳通過該控制器對(duì)應(yīng)至該可配置內(nèi)存的該至少一特征值儲(chǔ)存區(qū),該待測(cè)芯片的該至少一輸出腳對(duì)應(yīng)至該擷取數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器;
其中,當(dāng)該控制器檢測(cè)該待測(cè)芯片輸出值所需儲(chǔ)存容量,大于該擷取數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器所能儲(chǔ)存最大容量時(shí),該控制器指定該至少一特征值儲(chǔ)存區(qū)的部分內(nèi)存區(qū)塊為一擴(kuò)充儲(chǔ)存區(qū),并令該擴(kuò)充儲(chǔ)存區(qū)加上該擷取數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器其總?cè)萘浚笥谠摯郎y(cè)芯片輸出值所需儲(chǔ)存容量,進(jìn)而將該擴(kuò)充儲(chǔ)存區(qū)轉(zhuǎn)換為一擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū),用以擴(kuò)充該擷取數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器的容量。
2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其特征在于,該控制器包括一數(shù)字電路、一比較器和一驅(qū)動(dòng)器;
該比較器與該數(shù)字電路電性連接,以將該待測(cè)芯片輸出的信號(hào)運(yùn)算后,并儲(chǔ)存至擷取數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器;
該驅(qū)動(dòng)器與該數(shù)字電路電性連接,用以將該至少一特征值儲(chǔ)存區(qū)其特征值,驅(qū)動(dòng)輸出至該待測(cè)芯片。
3.一種將特征值儲(chǔ)存區(qū)轉(zhuǎn)換為擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū)的方法,其特征在于包括下列步驟:
(A)提供一控制器、一可配置內(nèi)存、及一待測(cè)芯片,該可配置內(nèi)存包括一特征值儲(chǔ)存區(qū),該特征值儲(chǔ)存區(qū)所儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)通過該控制器輸入至該待測(cè)芯片的至少一輸入腳,該待測(cè)芯片通過至少一輸出腳將測(cè)試結(jié)果輸出并儲(chǔ)存于該控制器的一擷取數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器內(nèi);
(B)該控制器檢測(cè)該待測(cè)芯片,該待測(cè)芯片的輸出值所需儲(chǔ)存容量,大于該擷取數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器所能儲(chǔ)存最大容量;
(C)該控制器指定該至少一特征值儲(chǔ)存區(qū)的部分內(nèi)存區(qū)塊為一擴(kuò)充儲(chǔ)存區(qū);
(D)令該擴(kuò)充儲(chǔ)存區(qū)加上該擷取數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器,總?cè)萘看笥谠摯郎y(cè)芯片于測(cè)試期間,輸出值所需儲(chǔ)存容量;以及
(E)將該擴(kuò)充儲(chǔ)存區(qū)配置為一擷取數(shù)據(jù)擴(kuò)充區(qū),用以擴(kuò)充該擷取數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器的容量。
4.如權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,該控制器包括一數(shù)字電路、一比較器、及一驅(qū)動(dòng)器,該數(shù)字電路與該比較器及該驅(qū)動(dòng)器分別電性連接;
該比較器與該數(shù)字電路電性連接,以作為比較該待測(cè)芯片輸出信號(hào)于運(yùn)算后儲(chǔ)存至擷取數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器;
該驅(qū)動(dòng)器與該數(shù)字電路電性連接,用以將該可配置內(nèi)存的數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)輸出至該待測(cè)芯片。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
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