[發(fā)明專(zhuān)利]激光清潔系統(tǒng)及其方法

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200810000090.9
• 申請(qǐng)日: 2008-01-03
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN101474626A
• 公開(kāi)（公告）日: 2009-07-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳天青;楊家森;李宏德
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 尚富煜科技股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): B08B7/00
• 分類(lèi)號(hào): B08B7/00;G05B19/04
• 代理公司: 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司
• 代理人: 章社杲;吳貴明

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種探針治具的清潔系統(tǒng)，尤指一種利用激光投射在所欲清潔的探針上以清潔探針治具的系統(tǒng)。

背景技術(shù)

傳統(tǒng)制造印刷電路板(Printed?Circuit?Board，PCB)或集成電路(Integrated?Circuit，IC)等完成后會(huì)通過(guò)探針治具來(lái)檢測(cè)其電路是否正常后，再將產(chǎn)品送往下游市場(chǎng)，以減低市場(chǎng)回收產(chǎn)品的可能性。探針治具上相對(duì)于電路板上的電路位置設(shè)有導(dǎo)電性探針，當(dāng)兩者相接觸時(shí)導(dǎo)致電連接并形成一導(dǎo)通信號(hào)，通過(guò)該導(dǎo)通信號(hào)的分析可以檢測(cè)該電路板的電路架構(gòu)是否正常。

工業(yè)制造中，此類(lèi)產(chǎn)品的產(chǎn)量相當(dāng)龐大，而探針治具亦需要檢測(cè)大量的電路板成品。長(zhǎng)時(shí)間使用下，探針尖端會(huì)累積污物，使得阻抗提高靈敏度降低，而產(chǎn)生誤判的情況。就傳統(tǒng)處理方法而言，當(dāng)發(fā)現(xiàn)探針治具因污物累積而失去正常檢測(cè)功用時(shí)，多利用人工方法以擦拭布或刷子等物理方式對(duì)探針臟污部位進(jìn)行清潔，然而可能因?yàn)槿斯な┝Σ划?dāng)而造成探針治具結(jié)構(gòu)的損傷，減少探針使用壽命。已知發(fā)展出許多不同避免人為直接操作以清潔探針的方式，如美國(guó)第2007069745號(hào)及第6118290號(hào)、中國(guó)臺(tái)灣第M268727號(hào)所示，通過(guò)機(jī)械運(yùn)作主動(dòng)將臟污的探針移動(dòng)至清潔布上，以進(jìn)行污物清除；此種仍是通過(guò)直接接觸以物理性磨擦方式清潔污物，易造成探針的損傷。此外，如中國(guó)臺(tái)灣第200720679號(hào)及第288178號(hào)專(zhuān)利、美國(guó)第6420891號(hào)專(zhuān)利所示，通過(guò)一噴嘴噴出氣體以清潔該探針，或如中國(guó)臺(tái)灣第301017號(hào)專(zhuān)利，將探針浸泡于清潔液中的方式等，雖然可以減少因磨擦所造成探針結(jié)構(gòu)的損壞，但因?yàn)槿ノ勰芰Σ蛔悖酂o(wú)法成為理想的去污方法，而清潔液也會(huì)造成污染。

已知一美國(guó)專(zhuān)利案(第US6573702號(hào))，揭示一種用以清潔電子測(cè)試接點(diǎn)的方法及裝置，主要是通過(guò)激光輻射的方式，使探針上的污物產(chǎn)生反應(yīng)，以移除該污物。雖然利用激光輻射可有效清除污物且不需直接與該探針接觸，可以避免探針結(jié)構(gòu)上的損害，然而此專(zhuān)利案所示的清潔方法，僅可判斷哪些探針卡接觸錯(cuò)誤，之后仍必須倚賴人工判讀探針卡整體中有哪些探針需要清潔或是全面清潔，若待清潔的探針數(shù)量龐大，亦增添工作人員的困擾以及時(shí)間。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的，在于避免清潔探針時(shí)直接接觸而導(dǎo)致結(jié)構(gòu)損壞的問(wèn)題，并試圖主動(dòng)清除探針上的污物，不需人工涉入以達(dá)到完全自動(dòng)化以及節(jié)省人力成本。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種激光清潔系統(tǒng)，應(yīng)用于探針治具上探針污物的清除，包括有辨識(shí)單元，連結(jié)于該辨識(shí)單元的處理單元，以及至少一受到該處理單元驅(qū)動(dòng)的激光產(chǎn)生單元。該辨識(shí)單元架設(shè)于該探針治具的相對(duì)應(yīng)位置用以辨識(shí)該探針治具上至少一待清探針，并取得對(duì)應(yīng)該待清探針位置的辨識(shí)信號(hào)，該處理單元接收該辨識(shí)信號(hào)并產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)信號(hào)，該激光產(chǎn)生單元受到該驅(qū)動(dòng)信號(hào)的驅(qū)動(dòng)以投射至少一激光于該待清探針。

其中，該辨識(shí)單元包含獲得該探針治具的影像信息的影像擷取裝置，以及連結(jié)于該影像擷取裝置的影像辨識(shí)系統(tǒng)，辨識(shí)出該待清探針的影像以產(chǎn)生表示該待清探針的平面位置的辨識(shí)信號(hào)；此外，該辨識(shí)單元包含與該探針治具上各探針形成電連結(jié)的導(dǎo)接式偵測(cè)裝置，該導(dǎo)接式偵測(cè)裝置具有趨向該探針治具位移的測(cè)試板，該測(cè)試板與該探針接觸而導(dǎo)通產(chǎn)生辨識(shí)信號(hào)供該所接觸的探針傳送至該處理單元；將所得到的平面位置以及垂直位置整合于處理單元中，驅(qū)動(dòng)該激光產(chǎn)生單元將激光精確投射于該待清潔區(qū)域。

除此之外，本發(fā)明還提供一種搭配于上述激光清潔系統(tǒng)的方法，包含步驟有：檢測(cè)該探針是否需要進(jìn)行清潔；將探針治具固定于平臺(tái)；辨識(shí)該探針治具上至少一待清探針；取得該待清探針位置的辨識(shí)信號(hào)；令該待清探針與待激光投射區(qū)域形成相對(duì)應(yīng)關(guān)系；以及投射至少一激光于該待清探針，以清除該待清探針尖端上的污物。其中，可通過(guò)主動(dòng)位移該探針治具，或者主動(dòng)引導(dǎo)該激光的方式使該待清探針與該待激光投射區(qū)域形成相對(duì)應(yīng)關(guān)系。

通過(guò)本發(fā)明系統(tǒng)與方法，可以有效利用激光輻射的方法對(duì)于待清探針的污物進(jìn)行清除的動(dòng)作，避免過(guò)去對(duì)探針直接接觸而損害其結(jié)構(gòu)。此外，本發(fā)明可以通過(guò)辨識(shí)單元辨識(shí)探針治具上待清探針，不需經(jīng)由人工檢查便可精確決定出待清除的探針，并驅(qū)動(dòng)激光投射至該待清探針的尖端完全清除所附著的污物，相較于傳統(tǒng)以及已知技術(shù)，大幅提升除污效率以及減少所耗費(fèi)的人力與時(shí)間資源。

附圖說(shuō)明

圖1是本發(fā)明激光清潔系統(tǒng)一優(yōu)選實(shí)施例的整體外觀立體示意圖。

圖2是本發(fā)明激光清潔系統(tǒng)一優(yōu)選實(shí)施例的基本架構(gòu)方塊示意圖。