[發明專利]粘附片以及電子元器件的制造方法有效
| 申請號: | 200780100443.6 | 申請日: | 2007-08-30 |
| 公開(公告)號: | CN101802120A | 公開(公告)日: | 2010-08-11 |
| 發明(設計)人: | 九津見正信;久米雅士 | 申請(專利權)人: | 電氣化學工業株式會社 |
| 主分類號: | C09J7/02 | 分類號: | C09J7/02;C09J133/14;H01L21/304 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 馮雅;胡燁 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 粘附 以及 電子元器件 制造 方法 | ||
1.一種半導體晶片的背面研磨用粘附片,它是包括片狀基材和層疊于 所述基材的一面的粘附劑層的粘附片,其特征在于,所述基材的所述一面 的平均表面粗糙度為1.0μm~3.3μm,所述基材的另一面的平均表面粗 糙度為0.08μm~0.6μm,所述粘附劑層包含丙烯酸聚合物,構成所述丙 烯酸聚合物的丙烯酸單體中的至少一種為具有羥基的單體,
所述基材的至少一部分包含乙烯乙酸乙烯酯,所述乙烯乙酸乙烯酯中 的乙酸乙烯酯含量為3質量%~20質量%。
2.如權利要求1所述的半導體晶片的背面研磨用粘附片,其特征在于, 所述基材由多層結構形成,且所述多層結構中的至少一層包含乙烯乙酸乙 烯酯。
3.如權利要求1所述的半導體晶片的背面研磨用粘附片,其特征在于, 所述具有羥基的單體在所述丙烯酸聚合物中占0.01質量%~10質量%。
4.如權利要求1所述的半導體晶片的背面研磨用粘附片,其特征在于, 所述粘附劑層還包含固化劑。
5.如權利要求4所述的半導體晶片的背面研磨用粘附片,其特征在于, 所述粘附劑層相對于100質量份所述丙烯酸聚合物包含0.1質量份~20質量 份的所述固化劑。
6.如權利要求4所述的半導體晶片的背面研磨用粘附片,其特征在于, 所述固化劑中的至少一部分是多官能異氰酸酯固化劑。
7.如權利要求6所述的半導體晶片的背面研磨用粘附片,其特征在于, 所述多官能異氰酸酯固化劑是1,6-己二異氰酸酯固化劑。
8.如權利要求4所述的半導體晶片的背面研磨用粘附片,其特征在于, 所述固化劑中的至少一部分是多官能環氧固化劑。
9.如權利要求4所述的半導體晶片的背面研磨用粘附片,其特征在于, 使所述丙烯酸聚合物與所述固化劑反應而使所述粘附劑層固化后,構成所 述丙烯酸聚合物的含羧基的單體在所述丙烯酸聚合物中占1質量%以下。
10.如權利要求1所述的半導體晶片的背面研磨用粘附片,其特征在于, 用于半導體晶片的背面研磨。
11.一種電子元器件的制造方法,它是磨削晶片而獲得的電子元器件的 制造方法,其特征在于,包括:將所述晶片粘合于權利要求1所述的半導體 晶片的背面研磨用粘附片的所述粘附劑層表面的工序;在粘合于粘附片的 狀態下,磨削所述晶片的露出面而使其平滑的工序。
12.如權利要求11所述的電子元器件的制造方法,其特征在于,還包 括:在所述磨削后,將所述晶片與所述粘附劑層剝離的工序。
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