[發明專利]內窺鏡裝置有效
| 申請號: | 200780051925.7 | 申請日: | 2007-10-26 |
| 公開(公告)號: | CN101621955A | 公開(公告)日: | 2010-01-06 |
| 發明(設計)人: | 高橋和彥;中村俊夫 | 申請(專利權)人: | 奧林巴斯醫療株式會社 |
| 主分類號: | A61B1/00 | 分類號: | A61B1/00;A61B17/28;A61B18/12;A61B19/00 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 | 代理人: | 黃綸偉 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 內窺鏡 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及具有內窺鏡以及插入于內窺鏡的處理器具插入通道內的 處理器具的內窺鏡裝置。
背景技術
如今所應用的內窺鏡裝置中,將內窺鏡插入體腔內,使處理器具經 過內窺鏡的處理器具插入通道從內窺鏡前端部伸出,通過內窺鏡觀察在 體腔內進行處理。
在日本特開平9-262241號公報的內窺鏡裝置中,使用了在前端部配 設有可進行開閉操作的把持部的把持鉗子作為處理器具。該把持鉗子被 導入到內窺鏡基端部的處理器具導入部,插入于處理器具插入通道,從 內窺鏡前端部的處理器具導出部導出。而且,在把持鉗子的基端部設有 檢測單元,根據該檢測單元與處理器具導入部的相對位置關系,能夠把 握把持部從處理器具導出部伸出的伸出量。進而,還能賦予檢測單元限 制把持部從處理器具導出部伸出的最大伸出量的功能。
在日本特開平9-262241號公報的內窺鏡裝置中,如果在把持部未從 處理器具導出部伸出的情況下使把持部進行了打開動作,則會存在把持 部或處理器具插入通道發生破損的可能性。因此,需要確認把持部是否 從處理器具導出部伸出,在沒有伸出的情況下要注意不能進行打開操作, 這樣導致內窺鏡裝置的操作性降低。
發明內容
本發明就是著眼于上述問題而完成的,其目的在于提供一種操作性 良好的內窺鏡裝置。
根據本發明的一個實施方式,內窺鏡裝置具有:處理器具,其具有 進行動作的動作部;操作單元,其用于操作上述動作部;內窺鏡,其具 有能插入上述處理器具的處理器具插入通道,上述處理器具從上述處理 器具插入通道的基端部插入到前端部并能從上述前端部伸出或縮回;檢 測單元,其檢測上述處理器具從上述處理器具插入通道的前端部伸出的 部分的狀態;以及控制單元,其根據上述檢測單元的檢測結果,控制通 過對上述操作單元的操作而使上述動作部進行的動作。
在該實施方式中,檢測處理器具從處理器具插入通道的前端部伸出 的部分的狀態,根據該檢測結果控制通過對操作單元的操作而使處理器 具的動作部進行的動作。因此,相比由操作人員自身來識別處理器具從 處理器具插入通道的前端部伸出的部分的狀態,并根據識別結果進行操 作的情況,內窺鏡裝置的操作性得以提高。
根據本發明的一個優選實施方式,上述處理器具具有把持鉗子;上 述動作部具有進行開閉動作的把持部;上述操作單元具有用于對上述把 持部進行開閉操作的把持部操作單元;上述檢測單元具有檢測上述把持 部是否從上述處理器具插入通道的前端部伸出的把持部伸縮檢測單元, 上述控制單元具有把持部控制單元,在通過上述把持部伸縮檢測單元檢 測到上述把持部伸出的情況下,上述把持部控制單元按照對上述把持部 操作單元的操作使上述把持部進行開閉動作;在通過上述把持部伸縮檢 測單元檢測到上述把持部沒有伸出的情況下,上述把持部控制單元與對 上述把持部操作單元的操作無關地使上述把持部處于關閉狀態。
在該優選實施方式中,在把持鉗子的把持部沒有從處理器具插入通 道的前端部伸出的情況下,與對把持部操作單元的操作無關,使把持部 成為關閉狀態。因此,能夠防止把持部在處理器具插入通道內進行打開 動作而導致處理器具插入通道或把持部發生破損的情況。
根據本發明的一個優選實施方式,上述處理器具具有高頻處理器具; 上述動部具有能被接通高頻電流并能被停止通電的高頻電極;上述操作 單元具有高頻電極操作單元,該高頻電極操作單元進行對上述高頻電極 接通高頻電流或停止通電的操作;上述檢測單元具有檢測上述高頻電極 是否從上述處理器具插入通道的前端部伸出的高頻電極伸縮檢測單元; 上述控制單元具有高頻電極控制單元,在通過上述高頻電極伸縮檢測單 元檢測到上述高頻電極伸出的情況下,上述高頻電極控制單元按照對上 述高頻電極操作單元的操作向上述高頻電極接通高頻電流或停止通電; 在通過上述高頻電極伸縮檢測單元檢測到上述高頻電極沒有伸出的情況 下,上述高頻電極控制單元與對上述高頻電極操作單元的操作無關地停 止對上述高頻電極接通高頻電流。
在該優選實施方式中,在高頻處理器具的高頻電極沒有從處理器具 插入通道的前端部伸出的情況下,與對高頻電極操作單元的操作無關, 停止對高頻電極接通高頻電流。因此,能夠防止在處理器具插入通道內 向高頻電極接通高頻電流而導致處理器具插入通道或高頻電極破損的情 況。
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