[發明專利]LSI試驗裝置、LSI試驗方法、LSI試驗程序以及存儲介質有效
| 申請號: | 200780050866.1 | 申請日: | 2007-02-20 |
| 公開(公告)號: | CN101669036A | 公開(公告)日: | 2010-03-10 |
| 發明(設計)人: | 吉川聰 | 申請(專利權)人: | 富士通微電子株式會社 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G06F11/22;G06F17/50 |
| 代理公司: | 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 | 代理人: | 趙淑萍;南 霆 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | lsi 試驗裝置 試驗 方法 程序 以及 存儲 介質 | ||
技術領域
本發明涉及LSI試驗裝置、LSI試驗方法。?
背景技術
作為LSI(大規模集成電路)芯片的試驗,除了固定型故障以外,還需要對LSI的系統工作速度進行高速試驗(TDT:Transision?Delay?Test)。通常情況下,在LSI中,系統工作(用戶模式工作)時,為了停止向沒有必要工作的電路模塊提供時鐘信號,設置了門控(Gated)時鐘技術。?
圖11是示出了測試合成前的LSI的電路構成圖。如圖11所示,LSI的整體電路1包括:多個門控(Gated)時鐘緩沖器2a、2b;PLL電路3,用于向各個門控時鐘緩沖器2a、2b提供時鐘信號;多個電路模塊6a、6b,其由各個門控時鐘緩沖器2a、2b提供時鐘信號,并且由觸發器4以及存儲器5構成;多個使能控制電路(EN?Logic,EN邏輯)7,用于分別控制各個門控時鐘緩沖器2a、2b。?
在圖11所示的構成中,例如,在系統工作時,某個電路模塊6a工作,而其他的電路模塊6b不工作的情況下,與工作的電路模塊6a相連接的門控時鐘緩沖器2a向該電路模塊6a提供時鐘信號。另一方面,與不工作的電路模塊6b相連接的門控時鐘緩沖器2b停止向該電路模塊6b提供時鐘信號。?
圖12是示出了由以往的試驗方法進行的測試合成后的LSI電路構成圖。如圖12所示,通過測試合成,在LSI的整體電路中插入有DFT(Design?For?Test)控制器8、掩膜(Mask)電路9以及PLL旁路用選擇器10。掩膜電路9被插入在各個使能控制電路7和各個門控時鐘緩沖器2a、2b的使能控制端子EN之間。在測試時,通過DFT控制器8,所有的?掩膜電路9總是被固定為激活狀態,所以時鐘信號被持續地提供到所有的電路模塊6a、6b的觸發器4以及存儲器5。即LSI的電路整體幾乎同時工作。?
但是,作為引進了門控時鐘技術的集成電路,具有掃描試驗電路的半導體集成電路已被眾所周知。例如,半導體集成電路包括:邏輯電路;觸發器電路,用于與時鐘信號同步地取得上述邏輯電路的輸出;掩膜電路,用于形成時鐘停止信號,該時鐘停止信號停止向上述觸發器電路提供上述時鐘信號;該半導體集成電路是一種具有掃描試驗功能的半導體集成電路,該掃描試驗功能由上述邏輯電路和上述觸發器形成掃描路徑,該半導體集成電路的特征在于:在通常工作模式時,上述掩膜電路停止向上述觸發器電路提供上述時鐘,在掃描試驗模式時,不管上述掩膜電路的工作狀況如何,允許向上述觸發器電路提供上述時鐘信號,并且上述觸發器電路形成用于進行上述掩膜電路的掃描試驗的掃描路徑(參照下面的專利文獻1)。?
專利文獻1:日本專利文獻特開2006-38831號公報?
發明內容
發明要解決的課題?
如上所述,按照傳統的試驗方法,在LSI的電路整體幾乎同時工作,進行高速試驗的情況下,還有電路整體高速地工作,因此有時會有如下情況:測試時的消耗功率將比系統工作時的消耗功率還要大,電壓產生大幅度的下降。通常情況下,LSI的電源設計要考慮系統工作時的電壓下降量等從而使系統工作時正常工作。因此,存在這樣的問題,即進行高速試驗時,若產生比系統工作時還大的電壓下降,將不能進行高速試驗。?
本發明是鑒于以上內容而完成的,本發明的目的在于提供一種通過使高速試驗時的電壓下降小于系統工作時假設的電壓下降,從而能夠進行高速試驗的LSI試驗裝置、LSI試驗方法、LSI試驗程序以及存儲介質。?
用于解決課題的手段?
為了解決上述課題,達成目的,本發明的特征在于:?
在測試合成前的網絡列表中插入測試電路,并根據由其獲得的測試合成后的網絡列表生成測試圖案,該測試圖案僅將一部分門控時鐘緩沖器同時激活,利用測試圖案進行由測試合成后的網絡列表構成的電路的仿真,并根據由其獲得的工作率信息,解析電壓下降量。并且,改變門控時鐘緩沖器的激活率從而使由解析獲得的電壓下降量小于系統工作時的電壓下降量,來進行LSI的高速試驗。?
另外,在生成測試圖案時,也可根據可以同時激活的門控時鐘緩沖器的數量和比率,形成測試圖案。另外,也可根據布局配置信息來選擇可以同時激活的門控時鐘緩沖器。?
根據本發明,在進行LSI高速試驗時,通過使用測試圖案,進行LSI高速試驗時的電壓下降量將小于等于系統工作時的電壓下降量,其中該測試圖案僅將一部分門控時鐘緩沖器同時激活從而使其電壓下降量小于等于系統工作時的電壓下降量。?
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