[發(fā)明專利]LSI試驗裝置、LSI試驗方法、LSI試驗程序以及存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200780050866.1
• 申請日: 2007-02-20
• 公開（公告）號: CN101669036A
• 公開（公告）日: 2010-03-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 吉川聰
• 申請（專利權(quán)）人: 富士通微電子株式會社
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G06F11/22;G06F17/50
• 代理公司: 北京東方億思知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司
• 代理人: 趙淑萍;南 霆

1.一種LSI試驗裝置，其特征在于，包括：

測試電路合成單元，在測試合成前的網(wǎng)絡(luò)列表中插入測試電路；

測試圖案生成單元，根據(jù)上述測試電路合成單元所合成的測試合成后 的網(wǎng)絡(luò)列表生成測試圖案，該測試圖案僅同時激活一部分門控時鐘緩沖 器；

仿真單元，使用通過上述測試圖案生成單元所生成的測試圖案，使由 上述測試合成后的網(wǎng)絡(luò)列表構(gòu)成的電路工作；

電源解析單元，根據(jù)由上述仿真單元獲得的工作率信息，解析電壓下 降量。

2.一種LSI試驗方法，其特征在于，包括：

測試電路合成步驟，在測試合成前的網(wǎng)絡(luò)列表中插入測試電路；

測試圖案生成步驟，根據(jù)上述測試電路合成單元所合成的測試合成后 的網(wǎng)絡(luò)列表生成測試圖案，該測試圖案僅同時激活一部分門控時鐘緩沖 器；

仿真步驟，使用通過上述測試圖案生成步驟所生成的測試圖案，使由 上述測試合成后的網(wǎng)絡(luò)列表構(gòu)成的電路工作；

電源解析步驟，根據(jù)由上述仿真步驟獲得的工作率信息，解析電壓下 降量。

3.如權(quán)利要求2所述的LSI試驗方法，其特征在于，還包括：

門控時鐘緩沖器激活率變更步驟，變更門控時鐘緩沖器的激活率，使 得由上述電源解析步驟獲得的電壓下降量小于等于系統(tǒng)工作時的電壓下降 量。

4.如權(quán)利要求2所述的LSI試驗方法，其特征在于：

在上述測試圖案生成步驟中，根據(jù)可以同時激活的門控時鐘緩沖器的 數(shù)量來生成測試圖案。

5.如權(quán)利要求2所述的LSI試驗方法，其特征在于：

在上述測試圖案生成步驟中，根據(jù)可以同時激活的門控時鐘緩沖器的 比率來生成測試圖案。

6.如權(quán)利要求4或5所述的LSI試驗方法，其特征在于：

在上述測試圖案生成步驟中，根據(jù)布局配置信息，選擇可以同時激活 的門控時鐘緩沖器。

7.如權(quán)利要求2所述的LSI試驗方法，其特征在于：

在上述測試電路合成步驟中，插入作為測試電路的PLL旁路用選擇 器、門控時鐘使能設(shè)定用觸發(fā)器、掩膜電路、選擇器以及測試控制電路， 其中，

上述PLL旁路用選擇器根據(jù)上述測試控制電路所輸出的測試模式信 號，在測試模式時，向上述門控時鐘緩沖器的時鐘端子提供基準(zhǔn)時鐘信 號，

上述門控時鐘使能設(shè)定用觸發(fā)器與上述基準(zhǔn)時鐘同步地鎖存自身的信 號并輸出，

上述掩膜電路根據(jù)上述測試控制電路所輸出的掃描模式信號來控制上 述門控時鐘使能設(shè)定用觸發(fā)器的輸出信號向上述選擇器的輸出，

上述選擇器在測試模式時，根據(jù)上述測試控制電路所輸出的測試模式 信號來向上述門控時鐘緩沖器的使能控制端子提供上述掩膜電路的輸出信 號。

8.如權(quán)利要求2所述的LSI試驗方法，其特征在于，

在上述測試電路合成步驟中，插入作為測試電路的PLL旁路用選擇 器、計數(shù)器、譯碼器、選擇器以及測試控制電路，其中，

上述PLL旁路用選擇器根據(jù)上述測試控制電路所輸出的測試模式信 號，在測試模式時，向上述計數(shù)器以及上述門控時鐘緩沖器的時鐘端子提 供基準(zhǔn)時鐘信號，

上述計數(shù)器根據(jù)從上述PLL旁路用選擇器輸出的基準(zhǔn)時鐘信號來更新 計數(shù)值，

上述譯碼器對從上述計數(shù)器輸出的計數(shù)值進行譯碼，

上述選擇器在測試模式時，根據(jù)上述測試控制電路所輸出的測試模式 信號來向上述門控時鐘緩沖器的使能控制端子提供上述譯碼器的輸出信 號。