[發明專利]IC芯片封裝有效
| 申請號: | 200780045167.8 | 申請日: | 2007-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN101558489A | 公開(公告)日: | 2009-10-14 |
| 發明(設計)人: | 久戶瀨智;中川智克;加藤達也 | 申請(專利權)人: | 夏普株式會社 |
| 主分類號: | H01L23/12 | 分類號: | H01L23/12;H01L21/60 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 閆小龍;王忠忠 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | ic 芯片 封裝 | ||
1.一種IC芯片封裝的制造方法,該IC芯片封裝包括IC芯片和用 于安裝該IC芯片的封裝基材,該IC芯片具有輸入輸出端子組,該封裝 基材具有連接端子組,該IC芯片封裝的制造方法的特征在于,
上述IC芯片和上述封裝基材通過中介基板實現互連,其中,上述 中介基板包括:封裝基材連接端子組,用于連接上述封裝基材所具備的 連接端子組;IC芯片連接端予組,用于連接上述輸入輸出端子組;以及 配線,用于連接上述封裝基材連接端子組和上述IC芯片連接端子組,
上述IC芯片被配置在器件孔內,該器件孔形成在上述封裝基材中,
上述封裝基材所具備的連接端子的前端至上述器件孔的外緣的距 離被設定為大于等于10μm小于等于150μm,
上述器件孔是在上述封裝基材上形成包括上述封裝基材上的上述 連接端子組的配線之后利用沖切形成的。
2.根據權利要求1所述的IC芯片封裝的制造方法,其特征在于:
上述IC芯片的外緣至上述中介基板的外緣的距離被設定為大于等 于0.20mm且小于等于0.46mm。
3.根據權利要求2所述的IC芯片封裝的制造方法,其特征在于:
上述IC芯片的各邊的外緣至上述中介基板的各邊的外緣的距離被 設定為相等距離。
4.根據權利要求2所述的IC芯片封裝的制造方法,其特征在于:
上述IC芯片的長邊的外緣至上述中介基板的長邊的外緣的距離被 設定得大于上述IC芯片的短邊的外緣至上述中介基板的短邊的外緣的 距離。
5.根據權利要求2所述的IC芯片封裝的制造方法,其特征在于:
上述IC芯片的短邊的外緣至上述中介基板的短邊的外緣的距離被 設定得大于上述IC芯片的長邊的外緣至上述中介基板的長邊的外緣的 距離。
6.根據權利要求1所述的IC芯片封裝的制造方法,其特征在于:
上述IC芯片的外緣至上述器件孔的外緣的距離被設定為大于等于 30μm且小于等于150μm。
7.根據權利要求6所述的IC芯片封裝的制造方法,其特征在于:
上述IC芯片的各邊的外緣至上述器件孔的各邊的外緣的距離被設 定為相等距離。
8.根據權利要求1所述的IC芯片封裝的制造方法,其特征在于:
上述器件孔的角部形成為圓角形狀。
9.根據權利要求8所述的IC芯片封裝的制造方法,其特征在于:
上述器件孔的角部的圓角半徑小于等于0.1mm。
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