[發明專利]IC芯片封裝和具有該IC芯片封裝的圖像顯示裝置有效
| 申請號: | 200780045143.2 | 申請日: | 2007-12-06 |
| 公開(公告)號: | CN101548372A | 公開(公告)日: | 2009-09-30 |
| 發明(設計)人: | 加藤達也;久戶瀨智;中川智克 | 申請(專利權)人: | 夏普株式會社 |
| 主分類號: | H01L21/60 | 分類號: | H01L21/60;G02F1/1345;H01L21/3205;H01L23/12;H01L23/52;H01L25/065;H01L25/07;H01L25/18 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 閆小龍;李家麟 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | ic 芯片 封裝 具有 圖像 顯示裝置 | ||
1.一種IC芯片封裝,其中,IC芯片借助于中介基板安裝在封裝基 材上,其特征在于:
在上述IC芯片的與上述中介基板相對的對峙面上形成有電極和第 1定位部件,其中,該第1定位部件表示IC芯片和中介基板的貼合位置;
在上述中介基板的與上述IC芯片相對的對峙面上形成有配線導體 和第2定位部件,其中,該配線導體具備與上述電極進行電連接的IC 芯片連接端子以及與上述封裝基材進行電連接的封裝基材連接端子,上 述第1定位部件和上述第2定位部件為成對配置關系;
上述第1定位部件和上述電極由相同材料構成并處于同一層。
2.根據權利要求1所述的IC芯片封裝,其特征在于:
上述第2定位部件和上述配線導體由相同材料構成并處于同一層。
3.一種IC芯片封裝,其中,IC芯片借助于中介基板安裝在封裝基 材上,其特征在于:
在上述IC芯片的與上述中介基板相對的對峙面上形成有電極和第 1定位部件,其中,該第1定位部件表示IC芯片和中介基板的貼合位置;
在上述中介基板的與上述IC芯片相對的對峙面上形成有配線導體 和第2定位部件,其中,該配線導體具備與上述電極進行電連接的IC 芯片連接端子以及與上述封裝基材進行電連接的封裝基材連接端子,上 述第1定位部件和上述第2定位部件為成對配置關系;
上述第2定位部件和上述配線導體由相同材料構成并處于同一層。
4.根據權利要求1至3中的任意一項所述的IC芯片封裝,其特征 在于:
上述第1定位部件和上述第2定位部件具有不同的形狀;
在上述IC芯片和上述中介基板的貼合位置為最佳位置的情況下, 在垂直于IC芯片和中介基板的對峙面的方向上觀察上述第1定位部件 和上述第2定位部件時,該二者之間的距離為上述貼合位置所能容許的 范圍內的距離。
5.根據權利要求1至3中的任意一項所述的IC芯片封裝,其特征 在于:
上述IC芯片的與上述中介基板相對的對峙面為四角形;
上述第1定位部件被設置在上述四角形的四個角區域內。
6.根據權利要求1至3中的任意一項所述的IC芯片封裝,其特征 在于:
上述IC芯片的與上述中介基板相對的對峙面為四角形;
上述第1定位部件被設置在隔著上述四角形的中心相對的兩個角區 域內。
7.根據權利要求5所述的IC芯片封裝,其特征在于:
上述IC芯片的與上述中介基板相對的對峙面為長方形;
關于上述角區域的范圍,從上述長方形的角的頂點起沿該長方形的 長邊方向的長度為該長方形的長邊長度的10分之1,從上述長方形的角 的頂點起沿該長方形的短邊方向的長度為該長方形的短邊長度的5分之 1。
8.根據權利要求6所述的IC芯片封裝,其特征在于:
上述IC芯片的與上述中介基板相對的對峙面為長方形;
關于上述角區域的范圍,從上述長方形的角的頂點起沿該長方形的 長邊方向的長度為該長方形的長邊長度的10分之1,從上述長方形的角 的頂點起沿該長方形的短邊方向的長度為該長方形的短邊長度的5分之 1。
9.根據權利要求5所述的IC芯片封裝,其特征在于:
在上述IC芯片的上述對峙面上隔著該對峙面的中心相對的兩個角 區域內設置的上述第1定位部件分別具有不同的形狀。
10.根據權利要求9所述的IC芯片封裝,其特征在于:
在上述兩個角區域的其中一個角區域內設置的上述第1定位部件的 形狀和與另一個角區域內設置的上述第1定位部件成對配置的上述第2 定位部件的形狀相同。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于夏普株式會社,未經夏普株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200780045143.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





