[實用新型]測試晶片的治具結構

無效

• 申請號: 200720176731.7
• 申請日: 2007-09-20
• 公開（公告）號: CN201083762Y
• 公開（公告）日: 2008-07-09
• 發明（設計）人: 周鈺梅
• 申請（專利權）人: 周鈺梅
• 主分類號: G01R1/02
• 分類號: G01R1/02;G01R1/073;G01R31/26;G01R31/28
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 孫皓晨

技術領域

本實用新型涉及一種測試晶片的治具結構，特別是指一種使導電針腳可精準與電路板上的焊點相焊接的測試晶片的治具結構。

背景技術

現有晶片測試治具結構主要是包含三塊板體相互粘合而成，并在三塊板體上設置有數個相互對應且孔徑不同的通孔，使三塊板體組立后，其上的數個通孔可形成數個組接孔，并在所述的數組接孔中各定位有一導通體，所述的導通體的一端為凹陷部，所述的凹陷部上焊接有一接觸點，并在導通體上套設有一彈性體，使導通體可通過彈性體在組接孔中活動。

欲將治具固定在測試電路板上時，是先在測試電路板的測試區上焊接凸出的接觸點，并將一定位體放置在測試區上，使定位體上的孔洞與接觸點相對應，導致定位體受到接觸點頂持，而與測試電路板保持一間距，最后，將治具放在定位體上，使治具上導通體與測試區上凸出的接觸體相接合，即可進行晶片的測試。然而，現有治具雖然可進行晶片測試，但在構成上仍有以下缺點：

(1)現有治具是以粘固方式將三塊板體組裝而成，使得板體無法更換，造成實用性上的不足。

(2)現有治具的導通體在制作上較為不易，需浪費較多組裝工時，使得成本相對提高。

(3)現有治具需先在測式電路板的測試區上焊接凸出的接觸點，當定位體上的孔洞套置在接觸點上，一旦使用者施力不當時，即容易發生錫裂情形。

由此可見，上述現有物品仍有諸多缺失，實非一完美的設計，而亟待加以改良。

本案實用新型人鑒于上述現有治具所衍生的各項缺點，乃亟思加以改良創新，并經多年苦心孤詣潛心研究后，終于成功研發完成本件燈具結構。

發明內容

本實用新型的目的在于：提供一種測試晶片的治具結構，其治具座是通過定位柱體將數個板體螺固，使所述的板體可進行更換，以達到實用目的。

本實用新型的次一目的在于：提供一種測試晶片的治具結構，其導電針腳的結構相當簡單，使其組裝上相對容易，以達到節省工時與成本目的。

本實用新型的次一目的在于：提供一種測試晶片的治具結構，其在測試電路板的測試區先粘固一定位框，所述的定位框中定位有一網板，所述的網板是貼合電路板表面，且其上的網孔并與測試區的焊點相對應，當治具座放置在定位框上時，即可通過定位框將治具定位與支撐，以控制導電針腳下移位置，使得導電針腳可精準穿置在網板的網孔中，進而精準與測試區的焊點進行焊接。

為實現上述目的，本實用新型采用的技術方案是：

一種測試晶片的治具結構，其特征在于：包括：

一第一、第二、第三板體，所述的第一、第二、第三板體的周緣布都設有對應的數結合孔，其中所述的第三板體的結合孔為螺孔，并在其表面布設有對應的數個通孔，其中，所述的第二板體的通孔孔徑大于第一板體的通孔孔徑，而第三板體的通孔的孔徑是小于第二板體的通孔孔徑，并大于第一板體的通孔孔徑；

一框體，其周緣布設有與第一、第二、第三板體相對應的結合孔；是將框體定位于第一板體上方；

數個導電針腳，所述的每一導電針腳都由一中空套筒、第一、第二導電體與彈性體構成，其中，第一導電體的端部是突露出中空套筒的前端，而彈性體是置在套筒中，其一端抵持第一導電體，另一端則供第二導電體連結，第二導電體突露出套筒后端；所述的數個導電針腳結合在第一、第二、第三板體的通孔中，導電針腳的第一導電體突露出第三板體底面，而第二導電體則突露出第一板體頂面；

數個定位柱體，其底端為螺柱，中段部位是漸縮段，而頂端則為擋持部；所述的定位柱體貫穿所述的框體、第一、第二與第三板體的結合孔，而所述的定位柱體底端的螺柱與第三板體的結合孔相螺固，所述的框體、第一、第二與第三板體緊密結合成一體。

與現有技術相比較，采用上述技術方案的本實用新型具有的優點在于：

1.本實用新型的治具座是通過定位柱體將數個板體螺固，使所述的板體可進行更換，以達到實用目的的測試晶片的治具結構。

2.本實用新型的導電針腳整體結構相當簡單，使其組裝上相對容易，以達到節省工時與成本的目的。

3.本實用新型是在測試電路板的測試區上先粘固一定位框，所述的定位框中定位有一網板，所述的網板是貼合電路板表面，且其上的網孔并與測試區的焊點相對應，當治具座放置在定位框上時，即可通過定位框將治具定位與支撐，以控制導電針腳下移位置，使得導電針腳可精準穿置在網板的網孔中，進而精準與測試區的焊點進行焊接。

附圖說明

圖1為本實用新型測試晶片的治具結構的治具座組裝示意圖；

圖2為本實用新型測試晶片的治具結構的治具座立體示意圖；

圖3為本實用新型測試晶片的治具結構的導電針腳剖面圖；