[實用新型]晶片分選測試電極裝置

無效

• 申請號: 200720130898.X
• 申請日: 2007-12-12
• 公開（公告）號: CN201130232Y
• 公開（公告）日: 2008-10-08
• 發明（設計）人: 鐘丹秋;徐華軍;謝金才;孫迎春
• 申請（專利權）人: 南京熊貓儀器儀表有限公司
• 主分類號: G01R31/265
• 分類號: G01R31/265;B07C5/00
• 代理公司: 南京天翼專利代理有限責任公司
• 代理人: 湯志武

一、技術領域

本實用新型涉及一種對晶片的分選測試電極裝置，尤其是smd薄型和超小型晶片的分選測試裝置。

二、背景技術

隨著通訊設備、手機、電腦、家電及網絡等應用電子產品市場的飛速發展，石英晶體元器件的市場需求日益增長，SMD薄型和超小型晶片的厚度甚至在0.1毫米以下，長與寬最小尺寸是1-2毫米，無法采用傳統的測量方法進行分選。

本申請人已經申請過對晶片自動測量的系統，例如中國專利CN00240759.0石英晶片自動定位測頻分選裝置、CN03278891.6片式壓電陶瓷及相關器件自動定位測試裝置。現有的晶片分選設備分選測試采用動態的測量方式：經過螺旋送料器將零散的晶片排列后送到直線送料器，并在直線送料器的末端設有固定的測試電極，通過振蕩器等測量裝置進行測量。得到的信號經過計數器后送到計算機內處理。計算機根據計數的結果處理后，通過顯示器顯示結果并控制下料部分，將晶片送入設定的料盒內。

晶片的頻率參數測試是晶片分選過程中一道重要的工序，這種動態方式無法對晶片，尤其是smd薄型和超小型晶片進行穩定、精確的測量，從而造成整個系統的誤判率高，質量不能保證，工作效率低下，因此如何進行高效、快速并自動準確的測試是十分重要的任務。但由于smd薄型和超小型晶片的體積很小，電極的接觸測試容易損壞，需要一種專用的smd薄型和超小型晶片分選測試電極裝置。

三、發明內容

本實用新型目的是：提出一種高效、快速而可靠的的晶片分選測試裝置，能調整晶片與測試電極之間的間隙，只要傳送工位將晶片傳送過來，即實現晶片的靜態的無觸點的高精度測量，不致于損壞晶片，提高設備的準確性、穩定性和工作效率。

本實用新型的技術方案是：晶片分選測試電極裝置，由偏心輪、步進電機、尋位圓盤、光電傳感器、擺動桿、電子數顯千分尺、高精度滑塊A、高精度滑塊B、測試電極、拉簧構成，步進電機驅動偏心輪和尋位圓盤，杠桿結構的擺動桿與偏心輪接觸，測試電極固定在高精度滑塊A上并沿著軌道滑動，該高精度滑塊A通過一連接塊固定在另一高精度滑塊B上，高精度滑塊B設有與滑塊B接觸的電子數顯千分尺。偏心輪在擺動桿后端順時針轉動，擺動桿前端的測試電極就相應的做上下往復運動。其中偏心輪的轉動由步進電機驅動偏心輪轉動，拉簧B兩端分別固定于滑塊B和滑塊A的側面，保持滑塊B和電子數顯千分尺底端的緊密接觸。電子數顯千分尺下旋帶動高精度滑塊B和測試電極向下運動，調整千分尺，實現被測晶片與測試電極之間相對位置的調整。步進電機的軸上還設有一帶有細小缺口的尋位圓盤，尋位圓盤的上方設有一光電傳感器。

測試電極與被測晶片之間需保留0.03-0.05mm的間隙，設有測試電極與晶片保持0.03-0.05mm間隙的鎖緊手柄。還設有LED指示燈。

測試電極下壓，其方法是：步進電機的軸上還設有一帶有細小缺口的尋位圓盤，步進電機帶動偏心輪和尋位盤做旋轉運動，當尋位盤順時針轉至180度位置時，計算機信號控制其停止運動，此時，偏心輪脫離擺動桿后端，測試電極壓著擺動桿前端垂直下落，對待測晶片進行測量。

測試電極上抬是測試電極下壓的逆過程，其方法是：尋位圓盤的上方設有一光電傳感器。偏心輪和尋位盤在180度位置繼續旋轉，當光電傳感器感應到尋位盤的缺口位置時，計算機信號控制其停止轉動，此時，偏心輪壓著擺動桿后端，則前端的測試電極相應上抬，結束對晶片的測試。

測試電極與被測晶片之間需保留一定的間隙，其方法是：測試電極處于下壓位置，電子數顯千分尺下旋帶動高精度滑塊B下滑，使測試電極向下運動，當測試電極接觸到晶片時，LED指示燈熄滅，千分尺清零，向上回旋千分尺0.03-0.05mm，帶動高精度滑塊A和測試電極上移0.03-0.05mm，LED指示燈亮，鎖緊手柄鎖緊，保證測試電極與晶片之間有0.03-0.05mm的間隙，防止測試時晶片被損壞和提高測試精度。間隙調整完畢，分度盤輸送待測晶片至測試電極下方進行測量。

本實用新型機構是用于測量時的電極機構結構功能裝置。上下道工序都是晶片傳送裝置，即測試電極需不斷的上升、下降以完成晶片的輸送、測量、轉移。用本實用新型機構可以方便完成此工序。

本實用新型的優點是：本裝置機械傳動精度高，定位準確，工作可靠，且結構簡單，調節方便，是整個分選工作流程的一個重要環節。采用靜態的無接觸式的測量，既避免了晶片的壓擠損傷和灰塵的影響，又保證了測試的準確性和一致性，提高了系統測試精度。

四、附圖說明

圖1是本實用新型前面的結構示意圖

圖2是本實用新型后面的結構示意圖