[實用新型]用于集成電路測試的裝置無效
| 申請號： | 200720118476.0 | 申請日： | 2007-02-09 |
| 公開（公告）號： | CN201021933Y | 公開（公告）日： | 2008-02-13 |
| 發明（設計）人： | 段超毅;王國華;陶杉 | 申請（專利權）人： | 段超毅;王國華;陶杉 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;G01R1/073 |
| 代理公司： | 深圳市睿智專利事務所 | 代理人： | 陳鴻蔭 |
| 地址： | 518101廣東省深*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 集成電路 測試 裝置 | ||
1.一種用于集成電路測試的裝置，包括壓緊部件(1)、探針定位板(2)和探針，該探針定位板(2)上有與被測集成電路(4)各導電點之間腳距相同的通孔，各探針穿越所述探針定位板(2)上的通孔；其特征在于：
所述探針為螺圈彈簧(3)，所述各彈簧(3)的上端與被測集成電路(4)電連接，下端與測試印刷電路板(5)電連接。
2.根據權利要求1所述的用于集成電路測試的裝置，其特征在于：所述彈簧(3)包括拉伸段(31)和未拉伸段(32)，所述拉伸段(31)端部與被測集成電路(4)電連接，未拉伸段(32)端部與測試印刷電路板(5)電連接。
3.根據權利要求1所述的用于集成電路測試的裝置，其特征在于：所述彈簧(3)中部為拉伸段(31)，兩端為未拉伸段(32)。
4.根據權利要求2或3所述的用于集成電路測試的裝置，其特征在于：所述未拉伸段(32)的直徑小于拉伸段(31)的直徑，即在未拉伸段(32)和拉伸段(31)的交界處有臺階(33)。
5.根據權利要求2或3所述的用于集成電路測試的裝置，其特征在于：所述未拉伸段(32)的靠近端部段的直徑小于其余部分的直徑，即在未拉伸段(32)的靠近端部處有臺階(34)。
6.一種用于集成電路測試的裝置，包括壓緊部件(1)、探針定位板(2)和探針，該探針定位板(2)上有與被測集成電路(4)各導電點之間腳距相同的通孔，所述各探針穿越所述探針定位板(2)上的通孔；其特征在于：
所述各探針包括觸針(6)和螺圈彈簧(3)，所述觸針(6)一端設置有頭形，與被測集成電路(4)或者測試印刷電路板(5)電連接，該觸針(6)的另一端與彈簧(3)一端接觸；相應地，所述彈簧(3)另一端與測試印刷電路板(5)或者被測集成電路(4)電連接。
7.根據權利要求6所述的用于集成電路測試的裝置，其特征在于：所述觸針(6)上有臺階(61)。
8.根據權利要求7所述的用于集成電路測試的裝置，其特征在于：所述彈簧(3)包括拉伸段(31)和未拉伸段(32)，所述拉伸段(31)端部與觸針(6)接觸，未拉伸段(32)端部與測試印刷電路板(5)或被測集成電路(4)電連接。
9.根據權利要求8所述的用于集成電路測試的裝置，其特征在于：所述未拉伸段(32)的直徑小于拉伸段(31)的直徑，即在未拉伸段(32)和拉伸段(31)的交界處有臺階(33)。
10.根據權利要求8所述的用于集成電路測試的裝置，其特征在于：所述未拉伸段(32)的靠近端部段的直徑小于其余部分的直徑，即在未拉伸段(32)得靠近端部處有臺階(34)。
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