[實(shí)用新型]半導(dǎo)體發(fā)光器件壽命加速試驗(yàn)裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200720107239.4 | 申請(qǐng)日: | 2007-03-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN201017022Y | 公開(公告)日: | 2008-02-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 牟同升 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 杭州浙大三色儀器有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/26 | 分類號(hào): | G01R31/26 |
| 代理公司: | 浙江翔隆專利事務(wù)所 | 代理人: | 戴曉翔 |
| 地址: | 310013浙江省杭州市西*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 發(fā)光 器件 壽命 加速 試驗(yàn)裝置 | ||
【技術(shù)領(lǐng)域】
本實(shí)用新型屬于半導(dǎo)體發(fā)光器件和應(yīng)用產(chǎn)品的測(cè)試領(lǐng)域,涉及一種半導(dǎo)體發(fā)光器件壽命加速試驗(yàn)裝置。
【背景技術(shù)】
半導(dǎo)體發(fā)光器件包括發(fā)光二極管(LED)和半導(dǎo)體激光器(LD)等,壽命和可靠性是衡量半導(dǎo)體發(fā)光器件及其應(yīng)用產(chǎn)品最重要的性能指標(biāo)之一。傳統(tǒng)的壽命測(cè)試方法是將器件和應(yīng)用產(chǎn)品在其正常工作條件下實(shí)際點(diǎn)燃,根據(jù)其光衰或失效時(shí)間來(lái)計(jì)算其壽命,由于半導(dǎo)體發(fā)光器件的壽命一般很長(zhǎng),不便于實(shí)際操作和應(yīng)用。
目前也出現(xiàn)了采用升溫加速試驗(yàn)來(lái)測(cè)試其相關(guān)性能的方法,即通過(guò)升高器件的工作溫度,加速其老化(光衰、失效)過(guò)程,并在該過(guò)程中測(cè)量相關(guān)參數(shù)來(lái)計(jì)算半導(dǎo)體發(fā)光器件的有效預(yù)期壽命。通常的方法是將器件置于高溫試驗(yàn)箱中烘烤,每隔一段時(shí)間取出試驗(yàn)器件,測(cè)量其光功率或光通量,根據(jù)高溫下的光功率或光通量的衰減值,推算出其在正常條件下的壽命。這種方法過(guò)程中,試驗(yàn)樣品必須反復(fù)多次從試驗(yàn)箱中取出、降溫后測(cè)試,操作復(fù)雜不便,而且每次的升溫和降溫過(guò)程會(huì)引入許多不確定的因素,影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
為了克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述缺陷,本實(shí)用新型提供一種半導(dǎo)體發(fā)光器件壽命加速試驗(yàn)裝置,以達(dá)到操作使用方便、測(cè)量準(zhǔn)確的目的。
為此,本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案:半導(dǎo)體發(fā)光器件壽命加速試驗(yàn)裝置,其特征在于它包括溫控箱、設(shè)于溫控箱內(nèi)的試驗(yàn)樣品支承座以及光傳輸器,所述光傳輸器的一端為采集端,采集端與支承座配合設(shè)置,所述的光傳輸器的另一端為測(cè)量端,該測(cè)量端與測(cè)光儀相連。測(cè)試時(shí),將試驗(yàn)樣品置于支承座上并通電,控制控箱升溫,試驗(yàn)樣品所發(fā)出的光線通過(guò)光傳輸器傳輸?shù)綔y(cè)光儀,這樣,在測(cè)試過(guò)程中,不需要經(jīng)過(guò)開閉箱體、取放和反復(fù)升降溫過(guò)程便可直接測(cè)量試驗(yàn)樣品的光功率或光通量,操作方便,測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確。光傳輸器可以為耐高溫的光纖或透鏡,其數(shù)量和位置可與被測(cè)試驗(yàn)樣品的數(shù)量和擺放位置一一對(duì)應(yīng)。
作為對(duì)上述技術(shù)方案的進(jìn)一步完善和補(bǔ)充,本實(shí)用新型采用如下技術(shù)措施:所述的光傳輸器有復(fù)數(shù)個(gè),每個(gè)光傳輸器采集端所接受光線的前側(cè)光路上設(shè)有一聚光筒,防止各試驗(yàn)樣品的相互影響,讓每個(gè)樣品發(fā)出的光進(jìn)入對(duì)應(yīng)的聚光筒后只照射到對(duì)應(yīng)的光傳輸器的采集端,保證測(cè)量準(zhǔn)確性。
所述的聚光筒內(nèi)設(shè)有聚光透鏡,聚光來(lái)提高光傳輸器所接受信號(hào)的強(qiáng)度。
所述的光傳輸器測(cè)量端和測(cè)光儀之間設(shè)有混光球,混光球上設(shè)有入光孔和出光孔,入光孔和光傳輸器測(cè)量端對(duì)應(yīng)設(shè)置,出光孔處則連接測(cè)光儀。測(cè)光儀可以為光譜儀或光度計(jì),混光球上可設(shè)置兩個(gè)或多個(gè)出光孔,出光孔處分別同時(shí)連接光譜儀和光度計(jì),以測(cè)得不同的數(shù)據(jù)。
所述的每個(gè)光傳輸器分別連接一測(cè)光儀,測(cè)量精度高。
所述的復(fù)數(shù)個(gè)光傳輸器通過(guò)多路光掃描機(jī)構(gòu)與一測(cè)光儀相配合,只需使用一臺(tái)測(cè)光儀,使用方便。
所述的多路光掃描機(jī)構(gòu)為平移掃描機(jī)構(gòu),此時(shí)各光傳輸器的測(cè)量端呈直線排列,測(cè)光儀在電機(jī)驅(qū)動(dòng)下沿與上述直線平行的軌跡上平移來(lái)測(cè)量各光傳輸器的光學(xué)數(shù)據(jù)。
所述的多路光掃描機(jī)構(gòu)為旋轉(zhuǎn)掃描機(jī)構(gòu)。此時(shí)測(cè)光儀設(shè)于一旋轉(zhuǎn)臺(tái)上,各光傳輸器的測(cè)量端繞旋轉(zhuǎn)臺(tái)呈圓周排列,測(cè)光儀在旋轉(zhuǎn)臺(tái)帶動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)來(lái)測(cè)量各光傳輸器的光學(xué)數(shù)據(jù)。
所述的溫控箱內(nèi)設(shè)有溫度傳感器,溫度傳感器與測(cè)溫儀相連。試驗(yàn)時(shí),溫度傳感器連接在樣品的管基或外殼上,以測(cè)得樣品的工作溫度。
試驗(yàn)樣品支承座包括支架和設(shè)于支架上的支承板,所述的傳輸器采集端、聚光筒和聚光透鏡都固定于支架上,支承板用于擺放試驗(yàn)樣品,傳輸器采集端、聚光筒和聚光透鏡位置固定,確保實(shí)驗(yàn)結(jié)果準(zhǔn)確。
有益效果:本實(shí)用新型通過(guò)設(shè)置光傳輸器使得在實(shí)驗(yàn)升溫工程中可直接用測(cè)光儀測(cè)得試驗(yàn)樣品的光功率或光通量,避免了反復(fù)取放、升降溫過(guò)程帶來(lái)的測(cè)量誤差,操作方便。
【附圖說(shuō)明】
圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2為本實(shí)用新型的另一結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3為本實(shí)用新型混光球部分的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖4為平移掃描機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖5為旋轉(zhuǎn)掃描機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
如圖1、2所示的半導(dǎo)體發(fā)光器件壽命加速試驗(yàn)裝置,溫控箱1內(nèi)設(shè)有試驗(yàn)樣品支承座2,光傳輸器3的一端為采集端,采集端設(shè)于支承座上方,光傳輸器3的另一端為測(cè)量端,測(cè)量端與測(cè)光儀4相連。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于杭州浙大三色儀器有限公司,未經(jīng)杭州浙大三色儀器有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200720107239.4/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 電池壽命判斷裝置及電池壽命判斷方法
- 延長(zhǎng)會(huì)話壽命裝置和延長(zhǎng)會(huì)話壽命方法
- 壽命預(yù)測(cè)方法、壽命預(yù)測(cè)裝置、壽命運(yùn)算裝置、旋轉(zhuǎn)機(jī)械
- 電池壽命推測(cè)方法及電池壽命推測(cè)裝置
- 壽命預(yù)測(cè)方法、壽命預(yù)測(cè)程序以及壽命預(yù)測(cè)裝置
- 開關(guān)壽命檢測(cè)設(shè)備及開關(guān)壽命檢測(cè)系統(tǒng)
- 壽命評(píng)價(jià)裝置及壽命評(píng)價(jià)方法
- 電源壽命
- 壽命預(yù)測(cè)裝置、壽命預(yù)測(cè)方法及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 壽命測(cè)試裝置及壽命測(cè)試方法





