[實用新型]半導體發光器件壽命加速試驗裝置無效
| 申請號： | 200720107239.4 | 申請日： | 2007-03-13 |
| 公開（公告）號： | CN201017022Y | 公開（公告）日： | 2008-02-06 |
| 發明（設計）人： | 牟同升 | 申請（專利權）人： | 杭州浙大三色儀器有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 浙江翔隆專利事務所 | 代理人： | 戴曉翔 |
| 地址： | 310013浙江省杭州市西*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 半導體 發光 器件 壽命 加速 試驗裝置 | ||
1.半導體發光器件壽命加速試驗裝置，其特征在于：它包括溫控箱、設于溫控箱內的試驗樣品支承座以及光傳輸器，所述光傳輸器的一端為采集端，采集端與支承座配合設置，所述的光傳輸器的另一端為測量端，該測量端與測光儀相連。
2.根據權利要求1所述的半導體發光器件壽命加速試驗裝置，其特征在于：所述的光傳輸器有復數個，每個光傳輸器采集端所接受光線的前側光路上設有一聚光筒。
3.根據權利要求2所述的半導體發光器件壽命加速試驗裝置，其特征在于：所述的聚光筒內設有聚光透鏡。
4.根據權利要求1、2或3所述的半導體發光器件壽命加速試驗裝置，其特征在于：所述的光傳輸器測量端和測光儀之間設有混光球，混光球上設有入光孔和出光孔，入光孔和光傳輸器測量端對應設置，出光孔處則連接測光儀。
5.根據權利要求2或3所述的半導體發光器件壽命加速試驗裝置，其特征在于：所述的每個光傳輸器分別連接一測光儀。
6.根據權利要求2或3所述的半導體發光器件壽命加速試驗裝置，其特征在于：所述的復數個光傳輸器通過多路光掃描機構與一測光儀相配合。
7.根據權利要求6所述的半導體發光器件壽命加速試驗裝置，其特征在于：所述的多路光掃描機構為平移掃描機構。
8.根據權利要求6所述的半導體發光器件壽命加速試驗裝置，其特征在于：所述的多路光掃描機構為旋轉掃描機構。
9.根據權利要求1、2或3所述的半導體發光器件壽命加速試驗裝置，其特征在于：所述的溫控箱內設有溫度傳感器，溫度傳感器與測溫儀相連。
10.根據權利要求3所述的半導體發光器件壽命加速試驗裝置，其特征在于：試驗樣品支承座包括支架和設于支架上的支承板，所述的傳輸器采集端、聚光筒和聚光透鏡都固定于支架上。
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