[實用新型]顯微鏡支架檢測器具無效
| 申請號: | 200720074231.2 | 申請日: | 2007-08-30 |
| 公開(公告)號: | CN201075148Y | 公開(公告)日: | 2008-06-18 |
| 發明(設計)人: | 陳阿芳;方立新 | 申請(專利權)人: | 上海廣瀨-關勒銘精密機械有限公司 |
| 主分類號: | G02B21/00 | 分類號: | G02B21/00;G01B9/04 |
| 代理公司: | 上海恩田旭誠知識產權代理有限公司 | 代理人: | 劉峰 |
| 地址: | 201702上海*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯微鏡 支架 檢測 器具 | ||
技術領域
本實用新型涉及檢夾具領域,尤其涉及一種用于對顯微鏡支架壓鑄件同步進行多項精度綜合檢測的專用檢測器具。
背景技術
目前,國內顯微鏡支架壓鑄件的各項技術指標檢測大多采用三維坐標測量儀等常規檢測方法,檢測過程費時費力,大大地增加了檢測成本,且檢測效率低,不能滿足流水線的要求。同時,通常情況下需要對顯微鏡支架壓鑄件的寬度、高度、偏斜度、同軸度、垂直度等多項精度實現全數檢驗,現有的常規檢測方法無法實現對待檢驗產品的上述精度的全數檢驗,只能分用多個檢具經多道程序完成,即耗費人力,檢測精度也差。本領域技術人員雖曾設計制造過數種檢具,但經實際使用檢驗,均未能滿足產品的各項技術指標,使產品檢測過程成為長期困擾產品質量的一大難點。
實用新型內容
有鑒于現有技術的上述缺陷,本實用新型所要解決的技術問題是提供一種使用便利、成本低、效率高、精確性好、穩定性高的顯微鏡支架檢測器具。
為實現上述目的,本實用新型提供了一種顯微鏡支架檢測器具,包括一基板,所述基板上滑動設置有用于將待檢工件定位并送入檢測區域的滑板裝置;所述基板一側還固定設置有用于檢測待檢工件高度、寬度及上下寬度偏斜度的立柱裝置;所述立柱裝置上端設置有用于檢測待檢工件同軸度、垂直度的擺桿裝置。
較佳地,所述滑板裝置包括分別設置在所述基板兩側的左側板、右側板,及借助所述左側板、右側板與所述基板滑動設置的滑板,所述滑板上間隔設置有定位軸及定位銷,所述定位軸頂端設置有一中心孔。
較佳地,所述立柱裝置包括立柱體,所述立柱體兩側上下分別固定設置有兩上定位板及兩下定位塊,所述立柱體上端正面還固定設置有高度定位塊。
較佳地,所述擺桿裝置包括固定設置在所述立柱體頂端的擱架及活動架,所述活動架在對應所述立柱體的一端通過一定芯軸可轉動地設置有一帶軸套的活動套座,所述活動套座的所述軸套中設置有一可上下移動的檢測軸。
本實用新型的顯微鏡支架檢測器具,用于對顯微鏡支架壓鑄件進行多項精度檢測。由于采用了上述特別設計的結構,本實用新型的顯微鏡支架檢測器具集顯微鏡支架壓鑄件的各項尺寸指標檢測于一體,使顯微鏡支架檢測過程簡化、迅速,檢測結果正確直觀,效率大大提高,獲得了使用便利、效率高、精確性好、穩定性高的有益效果,使精度檢測直接穿插于生產過程中,使產品質量始終處于受控狀態。并且采用本實用新型獲得的檢測結果正確直觀。據測算,用常規測量方法檢測與用本實用新型的檢測器具檢測,后者檢測效率可提高10倍,完全可滿足對產品的寬度、高度、偏斜度、同軸度、垂直度等多項精度實現全數檢驗的技術要求。
以下將結合附圖對本實用新型的構思、具體結構及產生的技術效果作進一步說明,以充分地了解本實用新型的目的、特征和效果。
附圖說明
圖1是本實用新型一具體實施例使用狀態的結構示意圖;
圖2是圖1所示實施例的俯視局部剖視圖;
圖3是圖1中沿A向的局部剖視圖。
具體實施方式
如圖1、圖2所示為本實用新型一具體實施例,包括基板15,基板15上滑動設置有滑板裝置。基板15一側還固定設置有立柱裝置。立柱裝置上端設置有擺桿裝置。
具體地,本實施例中,上述滑板裝置用于將待檢工件17定位并送入檢測區域,包括分別設置在基板15兩側的左、右側板14,左、右側板14上設置有四個滾動軸承16。借助左、右側板14上的滾動軸承16,滑板13與基板15形成滑動設置。滑板13上間隔設置有定位軸10及定位銷11,定位軸10頂端設置有一中心孔101。
上述立柱裝置用于檢測待檢工件17高度、寬度及上下寬度偏斜度,包括立柱體9,立柱體9兩側上下分別固定設置有兩上定位板7及兩下定位塊12,立柱體9上端正面還固定設置有高度定位塊6。
上述擺桿裝置用于檢測待檢工件17同軸度、垂直度,包括固定設置在立柱體9頂端的擱架1及活動架4,活動架4在對應立柱體9的一端通過一定芯軸2可轉動地設置有一帶軸套5的活動套座3,活動套座3的軸套5中設置有一可上下移動的檢測軸8。
本實用新型的工作過程如下:
將滑板13向外拉出,遠離立柱體9,將待檢工件17放在滑板13上,使之處于定位軸10與定位銷11的定位位置上。
將待檢工件17隨滑板13緩慢推向立柱體9,此時安裝于立柱體9二側上下的四塊定位板7、12,安裝于立柱體9正面的高度定位塊6同時對待檢工件17作上下寬度、高度及上下寬度偏斜等誤差的檢測。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海廣瀨-關勒銘精密機械有限公司,未經上海廣瀨-關勒銘精密機械有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200720074231.2/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種開口薄壁軸套的翻邊模
- 下一篇:一種調節通風窗





