[實用新型]顯微鏡支架檢測器具

無效

• 申請號: 200720074231.2
• 申請日: 2007-08-30
• 公開（公告）號: CN201075148Y
• 公開（公告）日: 2008-06-18
• 發明（設計）人: 陳阿芳;方立新
• 申請（專利權）人: 上海廣瀨－關勒銘精密機械有限公司
• 主分類號: G02B21/00
• 分類號: G02B21/00;G01B9/04
• 代理公司: 上海恩田旭誠知識產權代理有限公司
• 代理人: 劉峰

1.一種顯微鏡支架檢測器具，包括一基板，其特征在于：所述基板上滑動設置有用于將待檢工件定位并送入檢測區域的滑板裝置；所述基板一側還固定設置有用于檢測待檢工件高度、寬度及上下寬度偏斜度的立柱裝置；所述立柱裝置上端設置有用于檢測待檢工件同軸度、垂直度的擺桿裝置。

2.如權利要求1所述的顯微鏡支架檢測器具，其特征在于：所述滑板裝置包括分別設置在所述基板兩側的左側板、右側板，及借助所述左側板、右側板與所述基板滑動設置的滑板，所述滑板上間隔設置有定位軸及定位銷，所述定位軸頂端設置有一中心孔。

3.如權利要求1所述的顯微鏡支架檢測器具，其特征在于：所述立柱裝置包括立柱體，所述立柱體兩側上下分別固定設置有兩上定位板及兩下定位塊，所述立柱體上端正面還固定設置有高度定位塊。

4.如權利要求1所述的顯微鏡支架檢測器具，其特征在于：所述擺桿裝置包括固定設置在所述立柱體頂端的擱架及活動架，所述活動架在對應所述立柱體的一端通過一定芯軸可轉動地設置有一帶軸套的活動套座，所述活動套座的所述軸套中設置有一可上下移動的檢測軸。