[實用新型]低阻單晶壽命測試儀有效
| 申請號： | 200720059959.8 | 申請日： | 2007-11-23 |
| 公開（公告）號： | CN201110882Y | 公開（公告）日： | 2008-09-03 |
| 發明（設計）人： | 王昕;王世進;張郁華 | 申請（專利權）人： | 廣州市昆德科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/265 | 分類號： | G01R31/265 |
| 代理公司： | 廣州市華學知識產權代理有限公司 | 代理人： | 裘暉 |
| 地址： | 510640廣東省廣州市天河區五山*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 低阻單晶 壽命 測試儀 | ||
1、一種低阻單晶壽命測試儀，包括樣品測試臺、主機和示波器，所述主機包括高頻源、紅外發光管、取樣器、檢波器和寬頻放大器，其特征在于：所述樣品測試臺設置于主機的上面，主機與示波器連接，所述樣品測試臺包括樣品測試臺底座、測試臺支柱、光源電極臺、樣品臺和樣品臺懸臂，所述樣品測試臺底座上設有光源電極臺和測試臺支柱，所述測試臺支柱底部設置有防滑套，測試臺支柱上部設置有樣品臺懸臂，測試臺支柱與樣品臺懸臂通過鎖緊螺栓鎖定，樣品臺懸臂與樣品臺連接，所述樣品臺懸臂側部依次設有阻力調節旋鈕、粗調手輪和微調手輪，樣品臺中間設有樣品測量口，所述光源電極臺中設有兩彈性電極，兩彈性電極中間為紅外發光管出光口。
2、根據權利要求1所述的一種低阻單晶壽命測試儀，其特征在于：所述彈性電極的形狀為V型、U型或S型。
3、根據權利要求1所述的一種低阻單晶壽命測試儀，其特征在于：所述的防滑套上設有防滑套鎖緊螺栓。
4、根據權利要求1所述的一種低阻單晶壽命測試儀，其特征在于：所述樣品臺采用塑料或金屬制成；其厚度為1.0～3.0mm。
5、根據權利要求1所述的一種低阻單晶壽命測試儀，其特征在于：所述樣品臺上設有樣品蓋。
6、根據權利要求1所述的一種低阻單晶壽命測試儀，其特征在于：所述樣品蓋厚度為2～8mm。
7、根據權利要求1所述的一種低阻單晶壽命測試儀，其特征在于：所述樣品測量口的大小不小于20×40mm。
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