[實用新型]陶瓷泥漿顆粒沉降檢測裝置

無效

• 申請號: 200720030203.0
• 申請日: 2007-11-06
• 公開（公告）號: CN201184865Y
• 公開（公告）日: 2009-01-21
• 發明（設計）人: 馬立修
• 申請（專利權）人: 山東理工大學
• 主分類號: G01N15/04
• 分類號: G01N15/04;G01N21/17
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及了一種陶瓷泥漿顆粒沉降檢測裝置。

背景技術

陶瓷泥漿是生產陶瓷產品最基本的原料。為了保證生產陶瓷產品的質量，要求存放的陶瓷泥漿密度要均勻，為了達到這一點，在陶瓷生產企業，通常的做法是在陶瓷泥漿池內安裝一臺攪拌器，使其日夜不停的旋轉攪拌，從而達到存放陶瓷泥漿不沉淀，泥漿池內上、下泥漿密度相同的要求。電動機帶動攪拌器日夜不停的旋轉，電能消耗很多，為了達到節電的目的，很有必要對泥漿的沉降速率進行測量，從而獲得泥漿沉降的一般規律。本實用新型的目的在于制作一種能測量泥漿顆粒沉降速度的檢測裝置，為陶瓷企業服務。

實用新型內容

本實用新型的目的是提供一種陶瓷泥漿顆粒沉降檢測裝置。其技術內容為：

包括浮筒蓋、浮筒、光敏電阻R₁、光敏電阻R₂，其特征在于：浮筒蓋通過螺紋口蓋到浮筒上，光敏電阻R₁、光敏電阻R₂用膠貼裝在浮筒的表面。

所述的泥漿顆粒沉降檢測裝置，光敏電阻R₁的梳狀電極呈水平狀貼裝在浮筒表面，光敏電阻R₂貼裝在光敏電阻R₁的上方。

所述的泥漿顆粒沉降檢測裝置，加入浮筒中的泥漿是被測泥漿的一部分，加入的泥漿數量使浮筒內的泥漿面處在光敏電阻R₁的中間位置時為最佳。

所述的泥漿顆粒沉降檢測裝置，將光敏電阻R₁、光敏電阻R₂貼裝到筒蓋上后，在筒蓋上涂蠟。

浮筒的工作原理為：

在物理學中，阿基米德原理主要闡述浮力的定義，即浮力產生的原因是侵入液體里的物體的上下表面受到的壓力差，其大小有公式F_浮＝G_排＝ρ_液gV_排計算。判別物體的沉浮，可由F_浮、G_物、V_排、V_物四個物理量決定，當F_浮＜G_物(V_排＝V_物)時，物體下沉；當F_浮＝G_物(V_排＝V_物)時，物體懸浮，當F_浮＞G_物(V_排＝V_物)時，物體上浮；當F_浮＝G_物(V_排＜V_物時，物體漂浮。利用浮力的定義，設計了一個可封閉的浮筒。浮筒由輕質材料制作而成，上端帶有螺紋的浮筒口，通過這個口，可以向浮筒內添加泥漿、水等液體物質，浮筒口有帶螺紋的浮筒蓋密封，保證浮筒內的泥漿不受外界環境影響而發生質量的改變。在使用浮筒時，灌入與被測泥漿相同密度的泥漿，灌入的陶瓷泥漿的量，使浮筒正好懸浮于被測泥漿之上為最佳。泥漿在靜止狀態時，由于地球引力，要發生顆粒群體沉降，使泥漿池底部的泥漿密度越來越大，泥漿池上方的泥漿密度越來越小，因為F_浮1＝ρ_泥漿1gV_排1，泥漿池上方的泥漿密度ρ_泥漿1越來越小，F_浮1也越來越小，使G_{泥漿+浮筒}＞F_浮1。為了維持新的浮力平衡，使F_浮2＝G_{泥漿+浮筒}，在ρ_泥漿1減小到ρ_泥漿2時，V_排要增加，使V_排2＞V_排1，其計算公式為V_排＝πR²h_排，公式中，R是浮筒的半徑，h_排是浮筒侵入泥漿的高度。因此，由V_排2＞V_排1會得到πR²h_排2＞πR²h_排1，即h_排2＞h_排1，浮筒下沉。用敏感元件檢測出h_排的變化高度，必然會得到ρ_泥漿的變化量。

本實用新型與現有技術相比，能快速準確的檢測出陶瓷泥漿顆粒的沉降，從而獲得泥漿沉降的一般規律。