[實(shí)用新型]陶瓷泥漿顆粒沉降檢測(cè)裝置無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200720030203.0 | 申請(qǐng)日： | 2007-11-06 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN201184865Y | 公開（公告）日： | 2009-01-21 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 馬立修 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 山東理工大學(xué) |
| 主分類號(hào)： | G01N15/04 | 分類號(hào)： | G01N15/04;G01N21/17 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 255049山*** | 國(guó)省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 陶瓷 泥漿 顆粒 沉降 檢測(cè) 裝置 | ||
【權(quán)利要求書】：
1、一種泥漿顆粒沉降檢測(cè)裝置，包括浮筒蓋(1)、浮筒(2)、光敏電阻R1(5)、光敏電阻R2(6)，其特征在于：浮筒蓋(1)通過螺紋口蓋到浮筒(2)上，光敏電阻R1(5)、光敏電阻R2(6)用膠貼裝在浮筒(2)的表面。
2、如權(quán)利要求1所述的泥漿顆粒沉降檢測(cè)裝置，其特征在于：光敏電阻R1(5)的梳狀電極呈水平狀貼裝在浮筒(2)表面，光敏電阻R2(6)貼裝在光敏電阻R1(5)的上方。
3、如權(quán)利要求1所述的泥漿顆粒沉降檢測(cè)裝置，其特征在于：加入浮筒(2)中的泥漿是被測(cè)泥漿的一部分，加入的泥漿數(shù)量使浮筒(2)內(nèi)的泥漿面處在光敏電阻R1(5)的中間位置時(shí)為最佳。
4、如權(quán)利要求1所述的泥漿顆粒沉降檢測(cè)裝置，其特征在于：將光敏電阻R1(5)、光敏電阻R2(6)貼裝到筒蓋(1)上后，在筒蓋(1)上涂蠟。
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