[發(fā)明專利]測試點(diǎn)的配置方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200710307373.3
• 申請日: 2007-12-28
• 公開（公告）號(hào): CN101470167A
• 公開（公告）日: 2009-07-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王海萍;范文綱
• 申請（專利權(quán)）人: 英業(yè)達(dá)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01R1/02;G01R1/06;G01B21/16
• 代理公司: 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司
• 代理人: 陳 亮

1、一種測試點(diǎn)的配置方法，適于一印刷電路板，該印刷電路板具有多個(gè)貫孔，其特征在于所述測試點(diǎn)的配置方法的步驟包括：

測量各該貫孔與其它的貫孔間的多個(gè)間距；

依據(jù)該些間距，在各該貫孔加上一第一測試點(diǎn)或高亮與各該貫孔連接的一導(dǎo)線；以及

微調(diào)被高亮的該導(dǎo)線，藉以在該導(dǎo)線上或與該導(dǎo)線連接的貫孔上增加一第二測試點(diǎn)。

2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試點(diǎn)的配置方法，其特征在于所述依據(jù)該些間距，在各該貫孔加上該第一測試點(diǎn)或高亮與各該貫孔連接的該導(dǎo)線的步驟包括：

判斷該些間距是否均大于一第一范圍；

若判斷結(jié)果為是，則在各該貫孔加上該第一測試點(diǎn)；以及

若判斷結(jié)果為否，則高亮與各該貫孔連接的該導(dǎo)線。

3、根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試點(diǎn)的配置方法，其特征在于所述判斷該些間距是否均大于該第一范圍的步驟包括：

判斷各該貫孔所屬的區(qū)域；

若判斷各該貫孔屬于一第一區(qū)域，且各該貫孔所對(duì)應(yīng)的該些間距均大于一第一比較值，則在各該貫孔加上該第一測試點(diǎn)；以及

若判斷各該貫孔屬于一第二區(qū)域，且各該貫孔所對(duì)應(yīng)的該些間距均大于一第二比較值，則在各該貫孔加上該第一測試點(diǎn)。

4、根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試點(diǎn)的配置方法，其特征在于其中該第一區(qū)域?yàn)槌休d球柵陣列封裝芯片的區(qū)域，且該第一比較值為39.37密爾。

5、根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試點(diǎn)的配置方法，其特征在于其中該第二比較值大于等于50密爾。

6、根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試點(diǎn)的配置方法，其特征在于所述通過微調(diào)該導(dǎo)線，在該導(dǎo)線上或與該導(dǎo)線連接的貫孔上增加該第二測試點(diǎn)的步驟還包括：

判斷該導(dǎo)線是否有空間進(jìn)行微調(diào)。

7、根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試點(diǎn)的配置方法，其特征在于所述判斷該導(dǎo)線是否有空間進(jìn)行微調(diào)的步驟還包括：

判斷該導(dǎo)線是否為一高速信號(hào)導(dǎo)線；

若判斷該導(dǎo)線為該高速信號(hào)導(dǎo)線，則判斷微調(diào)該導(dǎo)線的貫孔后是否會(huì)跨層，以及判斷微調(diào)導(dǎo)線后的導(dǎo)線長度是否超過預(yù)設(shè)長度，并且判斷微調(diào)該導(dǎo)線后是否會(huì)出現(xiàn)設(shè)計(jì)規(guī)范檢查錯(cuò)誤；以及

若判斷該導(dǎo)線不為高速信號(hào)導(dǎo)線，則判斷微調(diào)該導(dǎo)線是否會(huì)出現(xiàn)設(shè)計(jì)規(guī)范檢查錯(cuò)誤。

8、根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試點(diǎn)的配置方法，其特征在于所述測試點(diǎn)的配置方法的步驟還包括：

縮小該些貫孔的孔徑。

9、根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試點(diǎn)的配置方法，其特征在于所述的微調(diào)被高亮的該導(dǎo)線的步驟還包括：

針對(duì)已加上該第一測試點(diǎn)的各該貫孔編排順序；以及

依序搜尋各該貫孔一第二范圍內(nèi)被高亮的該導(dǎo)線。