[發明專利]片材起伏度的測量裝置和測量方法

無效

• 申請號: 200710306602.X
• 申請日: 2007-12-27
• 公開（公告）號: CN101329153A
• 公開（公告）日: 2008-12-24
• 發明（設計）人: 埃德加·R·坎貝爾;羅伯特·S·庫比;杰弗里·T·莫法特
• 申請（專利權）人: 索諾克發展公司
• 主分類號: G01B5/06
• 分類號: G01B5/06;G01B11/06
• 代理公司: 廣州三環專利代理有限公司
• 代理人: 劉延喜;王基才

1、一種片材起伏度的測量裝置，其包括：

一個基座，其設有一個可承載片材堆垛的水平上表面；

一個置于片材堆垛上的自由砝碼；以及

一個測量裝置，用以測量片材堆垛上表面對應的上基準面和片材堆垛下表面對應的下基準面之間的垂直距離，垂直距離表示堆垛高度H。

2、根據權利要求1所述的測量裝置，其特征在于：所述測量裝置還包括一個微處理器、一個連接于微處理器上的輸入裝置，以及一個連接于微處理器上的顯示裝置，設置程序的微處理器根據“起伏度＝H/(n·t)”計算起伏度，其中，n為片材的層數，t為片材的平均厚度，且起伏度的計算結果顯示在裝置顯示上。

3、根據權利要求1所述的測量裝置，其特征在于：所述測量裝置設有一個垂直基座向上延伸的刻度尺。

4、根據權利要求3所述的測量裝置，其特征在于：所述測量裝置還包括一個導引裝置，以導引砝碼并使砝碼和刻度尺對位。

5、根據權利要求4所述的測量裝置，其特征在于：所述導引裝置設有一個和砝碼對接的垂直導引件。

6、根據權利要求5所述的測量裝置，其特征在于：所述垂直導引件延伸穿過砝碼上開設的一個通孔。

7、根據權利要求5所述的測量裝置，其特征在于：所述導引裝置設有若干個水平間隔設置的垂直導引件，各個垂直導引件延伸穿過砝碼上對應設置的若干通孔。

8、根據權利要求7所述的測量裝置，其特征在于：所述砝碼設有一個大致呈矩形或正方形的平板，平板設有四個角，四個角附近對應設有四個通孔，四個垂直導引件分別延伸穿過對應的通孔。

9、根據權利要求1所述的測量裝置，其特征在于：所述測量裝置設有一個用于測量堆垛高度H的可操作光學傳感器。

10、根據權利要求9所述的測量裝置，其特征在于：所述測量裝置還包括一個與所述光學傳感器相連的微處理器，微處理器設置程序以根據光學傳感器測得的堆垛高度進行計算。

11、根據權利要求10所述的測量裝置，其特征在于：所述測量裝置設有若干個可在不同位置測量堆垛高度的可操作光學傳感器，且所述微處理器設置程序取各個光學傳感器測得堆垛高度的平均值。

12、根據權利要求1所述的測量裝置，其特征在于：所述基座為具有一定長度和寬度的矩形或正方形，且所述砝碼的長度和寬度與基座的長度和寬度大致相等。

13、一種片材的質量控制方法，其包括以下步驟：

將n層片材依次堆疊以形成一個片材堆垛，片材的平均厚度為t；

測量堆垛高度H；以及

將測得的堆垛高度H與沒有起伏時的理想堆垛高度對比，以評價片材的起伏度。

14、根據權利要求13所述的質量控制方法，其特征在于：所述質量控制方法還包括步驟：

根據起伏度＝H/(n·t)計算起伏度；以及

將計算出的起伏度和一個預定的臨界值對比，如果計算出的起伏度超過預定的臨界值，則確定片材不合格。

15、根據權利要求13所述的質量控制方法，其特征在于：所述片材為紙張，每頁紙都有一個機器方向，堆疊在一起的各紙張的機器方向相同。

16、根據權利要求13所述的質量控制方法，其特征在于：所述堆垛高度H為片材堆垛圍繞一個垂直軸旋轉不同角度后所得若干個測量值的平均值。

17、根據權利要求16所述的質量控制方法，其特征在于：所述堆垛高度H為片材堆垛圍繞一個垂直軸旋轉180°前后所得兩個測量值的平均值。

18、根據權利要求13所述的質量控制方法，其特征在于：在確定堆垛高度H時，片材堆垛上置有一個砝碼。

19、根據權利要求18所述的質量方法，其特征在于：所述片材堆垛承載于一個基座的上平面上，基座設有一個下基準面，砝碼設有一個上基準面，確定堆垛高度H的步驟為測量下基準面和上基準面之間的垂直距離。

20、一種片材的質量控制方法，其包括以下步驟：

依次堆疊n層片材以形成一個片材堆垛，片材的平均厚度為t；

測量堆垛高度H；

根據t_eff＝H/n計算片材的平均有效厚度t_eff；以及

對比計算出的片材有效厚度t_eff和平均厚度t，如果計算出的有效平均厚度t_eff超過平均厚度t達到一個預定的臨界值，則確定片材不合格。