[發明專利]片材起伏度的測量裝置和測量方法

無效

• 申請號: 200710306602.X
• 申請日: 2007-12-27
• 公開（公告）號: CN101329153A
• 公開（公告）日: 2008-12-24
• 發明（設計）人: 埃德加·R·坎貝爾;羅伯特·S·庫比;杰弗里·T·莫法特
• 申請（專利權）人: 索諾克發展公司
• 主分類號: G01B5/06
• 分類號: G01B5/06;G01B11/06
• 代理公司: 廣州三環專利代理有限公司
• 代理人: 劉延喜;王基才

技術領域

本發明涉及造紙技術，尤其是利用回收紙的造紙技術。

背景技術

回收紙上特別容易產生起伏，起伏一般沿著機器方向延伸，但是有時也會沿著與機器方向交叉的方向延伸。理想狀態下，紙張最好平坦沒有起伏。但是，紙張的實際狀態通常會和理想狀態存在一定偏差，有時這種偏差可能會導致紙張無法正常使用。

目前，市場上還沒有價格低廉、操作簡單的裝置可用來測量紙張的起伏度，紙張的起伏度一般通過人的觸摸和感覺來評定，這樣的主觀評定存在準確性低、可靠性差和難以標準化等缺陷。

發明內容

因此，本發明的目的在于：提供一種紙張等片材起伏度的測量裝置和測量方法。

為了解決上述技術問題，本發明提供了一種片材起伏度的測量裝置，其包括一個設有可承載片材堆垛的光滑水平上表面的基座、置于片材堆垛上的砝碼，以及一個測量片材堆垛上表面對應的上基準面與片材堆垛下表面對應的下基準面之間垂直距離的測量裝置，測得的垂直距離表示堆垛高度H。

根據本發明的一個實施方式，測量裝置還設有一個可操作程序化微處理器，以根據測得的實際堆垛高度與計算出的理想堆垛高度計算起伏度。如果片材足夠平坦，那么n層片材堆垛的理想高度應該為片材平均厚度t的n倍。由于起伏的存在，實際堆垛高度大于理想堆垛高度，起伏度為測得的實際堆垛高度H和理想堆垛高度的比值：

起伏度＝H/(n·t)

因此，起伏度通常大于1.0。

堆垛高度H可以通過多種方式測量，根據本發明的一個實施方式，基座上裝有一個刻度尺，刻度尺靠近置于片材堆垛上的砝碼的一邊。刻度尺的零刻度和基座的上表面(即下基準面或片材堆垛的下表面)的垂直高度相同，砝碼下表面(即上基準面或片材堆垛的上表面)在刻度尺上對應的刻度表示堆垛高度H。根據本發明的另一個實施方式，也可以先確定砝碼的上表面在刻度尺上的讀數，然后將測得的垂直距離減去砝碼的厚度(即砝碼的上表面和下表面之間的垂直距離)，從而獲得堆垛高度H。

堆垛高度H最好可以是片材堆垛圍繞一個垂直軸旋轉時不同位置測量值的平均值，這樣有利于消除片材堆垛高度不一致帶來的影響。紙樣等片材的機器方向最好可以一致，且片材堆垛整體圍繞垂直軸旋轉以獲得不同的測量值。例如，可以測量兩個堆垛高度值并將兩個堆垛高度值平均以獲得堆垛高度H，即將片材堆垛自第一個堆垛高度測量值所在位置旋轉180°后再測量第二個堆垛高度測量值。

根據本發明的一個實施方式，砝碼包括一個矩形或正方形平板，砝碼的長度和寬度最好可以與基座的長度和寬度一致，測量裝置可以設有垂直導引件以將砝碼適當定位于基座上。根據本發明的另一個實施方式，砝碼的四個角附近分別設有一個通孔，四個垂直導引件對應延伸穿過相應的通孔。

為了解決上述技術問題，本發明還提供了一種片材的質量控制方法，其包括以下步驟：將n層片材依次堆疊形成一個片材堆垛，片材的平均厚度為t；測量片材的堆垛高度H；根據起伏度＝H/(n·t)計算起伏度；以及將計算出的起伏度與一個預定的臨界值對比，如果計算出的起伏度超過預定的臨界值，則確定片材不合格。

根據本發明的另一個實施方式，除了計算起伏度之外，還可以根據t_eff＝H/n來計算片材的平均有效厚度t_eff。本發明片材的質量控制方法也可以將計算出的平均有效厚度t_eff與片材的平均厚度t對比，如果計算出的平均有效厚度t_eff超過平均厚度t達到一個預定的臨界值，則確定片材不合格。

附圖說明

下面結合附圖，詳細說明本發明的具體實施方式及其對應的有益技術效果，其中：

圖1為本發明片材起伏度的測量裝置的立體示意圖。

圖2為圖1所示測量裝置的主視圖，為了清晰起見，圖中片材的起伏度已經放大。

圖3為理想片材堆垛的主視圖。

圖4為本發明測量裝置中，用于計算起伏度的微處理器、輸入裝置和顯示裝置的方框圖。

具體實施方式

下面結合附圖，詳細說明本發明的各個具體實施方式，其中，相同的元件符號代表相同的元件。