[發明專利]鏡座測試裝置及測試方法

無效

• 申請號: 200710202323.9
• 申請日: 2007-10-31
• 公開（公告）號: CN101424870A
• 公開（公告）日: 2009-05-06
• 發明（設計）人: 陳漢邦
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G03B43/00
• 分類號: G03B43/00;G01M11/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種鏡座測試裝置，用于對多個鏡座表面的防電磁干擾涂層的電阻進行測試，其特征在于，所述鏡座測試裝置包括：

一個承載平臺，所述承載平臺承載所述多個鏡座組成的陣列；

一個控制單元，控制所述承載平臺在其所在平面坐標內移動；以及

一個測試單元，其與所述控制單元電連接，所述承載平臺承載所述多個鏡座在其所在平面坐標內移動，依次將所述多個鏡座與所述測試單元對準，所述測試單元依次對所述多個鏡座表面的防電磁干擾涂層的電阻進行測試，并將所述測試結果和與其對應的鏡座的位置編碼值送至所述控制單元。

2.如權利要求1所述的鏡座測試裝置，其特征在于，所述鏡座測試裝置進一步包括兩個獨立控制的步進馬達，所述承載平臺連接所述兩個步進馬達，所述控制單元與所述兩個獨立的步進馬達電連接，以提供電脈沖給所述兩個獨立的步進馬達以驅動所述承載平臺沿其所在平面兩個垂直的坐標軸方向移動。

3.如權利要求1所述的鏡座測試裝置，其特征在于，所述測試單元為一個靜電計，且所述靜電計包括一對探針。

4.如權利要求2所述的鏡座測試裝置，其特征在于，所述控制單元包括一個電源、一個電阻信息處理單元、一個位置信息存儲器，所述電源提供電脈沖給所述兩個步進馬達，用以驅動所述承載平臺沿其所在平面兩個垂直的坐標軸方向移動，所述測試單元分別將測試結果和與其對應的鏡座的位置編碼值送至所述電阻信息處理單元和位置信息存儲器。

5.如權利要求1所述的鏡座測試裝置，其特征在于，所述鏡座測試裝置進一步包括一個移除裝置，所述移除裝置具有一個夾頭。

6.如權利要求5所述的鏡座測試裝置，其特征在于，所述鏡座測試裝置進一步包括一個基座、一個支架和一個杠桿，所述支架位于所述基座上，所述杠桿固定于所述支架上，所述杠桿與所述支架的連接部具有一個伺服馬達，所述移除裝置與所述測試單元分別連接到所述杠桿的兩端，所述控制單元與所述伺服馬達電連接，所述控制單元提供一個電流給所述伺服馬達使其旋轉，以帶動所述杠桿繞所述支架旋轉，以使所述測試單元和所述移除單元互相調換位置，以控制所述鏡座測試裝置測試或者移除所述鏡座。

7.一種鏡座測試方法，其包括以下步驟：

(1)提供一鏡座測試裝置，其包括一個測試單元、一個夾持單元、一個控制單元和一個承載一個多個鏡座組成的陣列的承載平臺；

(2)所述承載平臺在其所在平面坐標內移動，依次將所述多個鏡座與所述測試單元對準，所述測試單元依次對所述多個鏡座表面的防電磁干擾涂層的電阻進行測試，并將測試結果和對應的鏡座的位置編碼值依次送至所述控制單元；

(3)所述控制單元依據所述測試結果判斷其對應的鏡座是否為良品，記錄下非良品鏡座的位置編碼值；

(4)所述控制單元依非良品鏡座的位置編碼值，控制所述夾持單元將所述非良品鏡座移走。

8.如權利要求7所述的鏡座測試方法，所述控制單元包括一個電阻信息處理單元、一個位置信息存儲器，所述測試單元分別將所述測試結果和與其對應的鏡座的位置編碼值送至所述電阻信息處理單元和位置信息存儲器，所述電阻信息處理單元依據所述測試結果判斷其對應的鏡座是否為良品，所述位置編碼值處理器記錄下非良品鏡座的位置編碼值。

9.如權利要求8所述的鏡座測試方法，所述電阻信息處理單元具有一個預設的基準值，所述電阻信息單元接收所述測試結果，并將其與所述基準值比較，判斷其是否在良品的電阻值范圍內，依此判斷所述測試結果對應的鏡座是否為良品。