[發(fā)明專利]鏡座測(cè)試裝置及測(cè)試方法

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200710202323.9
• 申請(qǐng)日: 2007-10-31
• 公開（公告）號(hào): CN101424870A
• 公開（公告）日: 2009-05-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳漢邦
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號(hào): G03B43/00
• 分類號(hào): G03B43/00;G01M11/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種測(cè)試裝置及測(cè)試方法，尤其涉及一種對(duì)鏡頭模組的鏡座進(jìn)行表面電阻測(cè)試的測(cè)試裝置及測(cè)試方法。

背景技術(shù)

隨著攝像技術(shù)的發(fā)展，鏡頭模組在各種用途的攝像裝置中得到廣泛的應(yīng)用，鏡頭模組與各種便攜式電子裝置如手機(jī)、計(jì)算機(jī)等的結(jié)合，更得到眾多消費(fèi)者的青睞。

然而，隨著便攜式電子裝置朝著功能多樣化的方向發(fā)展，其元件也變得越來越復(fù)雜，且所述元件大多需通電才能工作，這導(dǎo)致所述便攜式電子裝置很容易因?yàn)殡姶鸥蓴_而影響正常工作。

鏡頭模組通常作為攝像裝置的元件而廣泛地應(yīng)用于便攜式電子裝置中，其一般包括鏡片、鏡座、濾光片及影像感測(cè)器等。鏡片的設(shè)計(jì)方法請(qǐng)參閱Chao等人在2000年IEEE系統(tǒng)、超聲波會(huì)議(2000?IEEE?UltrasonicsSymposium)上發(fā)表的論文Aspheric?lens?design。為了降低所述影像感測(cè)器受電磁干擾的程度，一般還需于所述鏡座的表面涂上一層防電磁干擾(Electromagnetic?Interference，EMI)涂層。

當(dāng)鏡座的表面涂上防電磁干擾(EMI)涂層后，利用靜電計(jì)(Electrometer)測(cè)試該涂層的電阻值是否達(dá)到要求來判斷該鏡座是否為良品。通常的做法是抽樣并用人工方式操作靜電計(jì)來測(cè)試樣品涂層的電阻值，可以理解的是，這種方法既耗費(fèi)時(shí)間且測(cè)量誤差較大，良品率較低。

有鑒于此，有必要提供一種能快速準(zhǔn)確測(cè)試鏡座表面防電磁干擾涂層的電阻率，提高良品率的自動(dòng)化鏡座測(cè)試裝置及自動(dòng)化測(cè)試方法。

發(fā)明內(nèi)容

下面將以具體實(shí)施例說明一種能準(zhǔn)確快捷的測(cè)試鏡座表面防電磁干擾涂層的電阻的自動(dòng)化鏡座測(cè)試裝置及自動(dòng)化鏡座測(cè)試方法。

一種鏡座測(cè)試裝置，用于對(duì)多個(gè)鏡座表面的防電磁干擾涂層的電阻進(jìn)行測(cè)試，其特征在于，所述鏡座測(cè)試裝置包括：一個(gè)承載平臺(tái)，所述承載平臺(tái)承載所述多個(gè)鏡座組成的陣列，以及一個(gè)測(cè)試單元，所述承載平臺(tái)在其所在坐標(biāo)平面內(nèi)移動(dòng)，依次將所述多個(gè)鏡座移至與所述測(cè)試單元對(duì)準(zhǔn)，所述測(cè)試單元依次對(duì)所述多個(gè)鏡座表面的防電磁干擾涂層的電阻進(jìn)行測(cè)試。

所述鏡座測(cè)試裝置進(jìn)一步包括一個(gè)控制單元，用以控制所述承載平臺(tái)在其所在平面坐標(biāo)內(nèi)移動(dòng)，依次將所述多個(gè)鏡座移至與所述測(cè)試單元對(duì)準(zhǔn)，所述測(cè)試單元依次對(duì)所述多個(gè)鏡座表面的防電磁干擾涂層的電阻進(jìn)行測(cè)試，所述測(cè)試單元將測(cè)試結(jié)果及其對(duì)應(yīng)的鏡座的位置編碼值送至所述控制單元。所述控制單元接收所述測(cè)試結(jié)果判斷其對(duì)應(yīng)的鏡座是否為良品，紀(jì)錄下非良品鏡座的位置編碼值，所述鏡座測(cè)試裝置進(jìn)一步包括一個(gè)移除裝置，所述移除裝置具有一個(gè)夾頭，所述控制單元控制所述移除裝置，用以夾持所述非良品鏡座并將其移走。

以及，一種采用上述鏡座測(cè)試裝置的鏡座測(cè)試方法，其包括以下步驟：

(1)提供一所述鏡座測(cè)試裝置；

(2)所述承載平臺(tái)在其所在平面坐標(biāo)內(nèi)移動(dòng)，依次將所述多個(gè)鏡座與所述測(cè)試單元對(duì)準(zhǔn)，所述測(cè)試單元依次對(duì)所述多個(gè)鏡座表面的防電磁干擾涂層的電阻進(jìn)行測(cè)試，并將測(cè)試結(jié)果和對(duì)應(yīng)的鏡座的位置編碼值依次送至所述控制單元；

(3)所述控制單元依據(jù)所述測(cè)試結(jié)果判斷其對(duì)應(yīng)的鏡座是否為良品，記錄下非良品鏡座的位置編碼值；

(4)所述控制單元依非良品鏡座的位置編碼值，控制所述非良品鏡座與所述夾持單元對(duì)準(zhǔn)，進(jìn)而控制所述夾持單元將與其對(duì)準(zhǔn)的非良品鏡座移走。

相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)，所述鏡座測(cè)試裝置及測(cè)試方法，其通過自動(dòng)化控制探針依次對(duì)多個(gè)鏡座的快速測(cè)量，大大提高了量測(cè)的效率，甚至可以達(dá)到不抽樣而全部進(jìn)行測(cè)量的目標(biāo)，更加提高了良品率。

附圖說明

圖1是本發(fā)明第一實(shí)施例提供的鏡座測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2是本發(fā)明第二實(shí)施例提供的鏡座測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明。

請(qǐng)參閱圖1，本發(fā)明第一實(shí)施例提供的一種鏡座測(cè)試裝置10，用于對(duì)鏡座110的外圓周表面的防電磁干擾涂層的電阻進(jìn)行測(cè)試。所述鏡座測(cè)試裝置10包括一個(gè)承載平臺(tái)11、一個(gè)測(cè)試單元12及一個(gè)控制單元13。

所述承載平臺(tái)11用以承載多個(gè)鏡座110所組成的陣列。所述承載平臺(tái)11可以在其所在平面內(nèi)移動(dòng)，優(yōu)選地，所述鏡座測(cè)試裝置10還包括一個(gè)基座15和兩個(gè)獨(dú)立的步進(jìn)馬達(dá)(圖未示)，所述承載平臺(tái)11連接所述兩個(gè)步進(jìn)馬達(dá)，所述控制單元13與所述兩個(gè)獨(dú)立的步進(jìn)馬達(dá)電連接，以提供電脈沖給所述兩個(gè)獨(dú)立的步進(jìn)馬達(dá)電脈沖以驅(qū)動(dòng)所述承載平臺(tái)11相對(duì)于所述基座15分別沿圖1所示的X軸和Y軸坐標(biāo)移動(dòng)。