[發(fā)明專利]調(diào)節(jié)電路中閾值電壓的結(jié)構(gòu)和方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200710181876.0 | 申請(qǐng)日: | 2007-10-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101187819A | 公開(kāi)(公告)日: | 2008-05-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 艾德華·J.·諾瓦克;小威廉·F.·克拉克 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 國(guó)際商業(yè)機(jī)器公司 |
| 主分類號(hào): | G05F1/46 | 分類號(hào): | G05F1/46 |
| 代理公司: | 中國(guó)國(guó)際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人: | 付建軍 |
| 地址: | 美國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 調(diào)節(jié) 電路 閾值 電壓 結(jié)構(gòu) 方法 | ||
1.一種結(jié)構(gòu),包括:
被分為小塊的電路,所述小塊具有與制程變化相關(guān)的特性長(zhǎng)度相對(duì)應(yīng)的預(yù)定的物理尺寸;
位于每個(gè)電路小塊中的局部電路;和
耦合到每個(gè)局部電路的參考信號(hào),
其中所述局部電路響應(yīng)于所述參考信號(hào)產(chǎn)生補(bǔ)償信號(hào),從而將各個(gè)小塊的電參數(shù)調(diào)整為預(yù)定的值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的結(jié)構(gòu),其中各個(gè)小塊的電參數(shù)被調(diào)整為具有大致等于參考信號(hào)值的一個(gè)值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的結(jié)構(gòu),其中所述局部電路包括電壓調(diào)節(jié)器電路,所述參考信號(hào)包括全局參考Vt信號(hào)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的結(jié)構(gòu),其中小塊的尺寸是快速熱退火工序的物理范圍的一半。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的結(jié)構(gòu),其中小塊具有2mm×2mm的尺寸。
6.一種用于調(diào)節(jié)電路中閾值電壓的方法,其中在所述電路上具有制程變化,該方法包括:
將電路分為多個(gè)小塊;
調(diào)節(jié)每個(gè)小塊中的局部閾值。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其中局部閾值電壓被調(diào)節(jié)為與電路的全局閾值電壓參考值相對(duì)應(yīng)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其中根據(jù)與電路上產(chǎn)生變化的工序相關(guān)的特性尺寸來(lái)確定小塊的尺寸。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其中當(dāng)導(dǎo)致變化的工序是快速熱退火時(shí),小塊的尺寸確定為快速熱退火工序的物理范圍的一半。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法,其中小塊具有2mm×2mm的尺寸。
11.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其中所述調(diào)節(jié)包括:產(chǎn)生阱偏壓,從而局部閾值電壓與全局閾值電壓參考值相同。
12.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,進(jìn)一步包括將每個(gè)小塊耦合到至少一個(gè)調(diào)節(jié)器。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法,其中所述至少一個(gè)調(diào)節(jié)器包括用于nFET的調(diào)節(jié)器和用于pFET的調(diào)節(jié)器。
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法,其中所述至少一個(gè)調(diào)節(jié)器僅包括用于nFET或pFET之一的調(diào)節(jié)器,所述方法進(jìn)一步包括從調(diào)節(jié)器的偏壓推斷nFET或pFET中另一個(gè)的局部閾值電壓。
15.一種具有長(zhǎng)度方向變化的參數(shù)的電路,包括:
多個(gè)小塊;
耦合到每個(gè)小塊的至少一個(gè)調(diào)節(jié)器;
耦合到所述至少一個(gè)調(diào)節(jié)器每一個(gè)的參考信號(hào);和
所述至少一個(gè)調(diào)節(jié)器構(gòu)造并設(shè)置成給每個(gè)小塊傳送信號(hào),從而上述長(zhǎng)度方向變化的參數(shù)對(duì)應(yīng)于參考信號(hào)的值。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的電路,其中根據(jù)產(chǎn)生所述長(zhǎng)度方向變化的工序來(lái)確定小塊的尺寸。
17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的電路,其中小塊具有2mm×2mm的尺寸。
18.根據(jù)權(quán)利要求15所述的電路,其中所述至少一個(gè)調(diào)節(jié)器包括用于每個(gè)小塊的nFET的調(diào)節(jié)器和用于每個(gè)小塊的pFET的調(diào)節(jié)器。
19.根據(jù)權(quán)利要求15所述的電路,其中所述至少一個(gè)調(diào)節(jié)器僅包括用于nFET或pFET之一的調(diào)節(jié)器,所述電路進(jìn)一步包括用于從由調(diào)節(jié)器傳送的信號(hào)推斷nFET或pFET中另一個(gè)的隨長(zhǎng)度方向變化的參數(shù)。
20.根據(jù)權(quán)利要求15所述的電路,其中所述參數(shù)包括閾值電壓,所述參考信號(hào)是電路的全局閾值電壓參考值,由所述至少一個(gè)調(diào)節(jié)器傳送的信號(hào)是阱偏壓,從而每個(gè)小塊的局部閾值電壓與全局閾值電壓參考值相同。
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