[發明專利]一種芯片測試的方法、系統及一種測試設備

無效

• 申請號: 200710179323.1
• 申請日: 2007-12-12
• 公開（公告）號: CN101191818A
• 公開（公告）日: 2008-06-04
• 發明（設計）人: 劉子熹
• 申請（專利權）人: 北京中星微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/3185
• 代理公司: 北京德琦知識產權代理有限公司
• 代理人: 宋志強;麻海明

1.一種芯片測試的方法，其特征在于，預估待測芯片上的欲測試功能模塊可出現的錯誤；設置測試所述錯誤的測試邏輯，并將所述測試邏輯設置在位于待測芯片外部的測試設備中；

該方法包括：

所述測試設備通過所述測試邏輯對所述功能模塊進行測試；

將得到的測試結果轉換為兩個相反的狀態之一，所述兩個相反的狀態分別指示所述功能模塊是否存在錯誤。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，該方法進一步包括：將所述狀態之一通過發光二極管LED顯示燈顯示或通過液晶顯示屏LCD顯示。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述將狀態之一通過LED顯示燈顯示為：

在所述狀態之一指示所述功能模塊存在錯誤時，LED顯示燈亮；否則，LED顯示燈滅。

4.如權利要求1-3中任一項所述的方法，其特征在于，該方法進一步包括：在所述狀態之一指示所述功能模塊存在錯誤時，對所述存在錯誤的功能模塊進行調試。

5.一種芯片測試的系統，其特征在于，該系統包括待測芯片和測試設備；其中，

所述待測芯片包括欲測試功能模塊；

所述測試設備，設置有測試外部待測芯片上欲測試功能模塊的測試邏輯，所述測試邏輯用于對所述功能模塊可出現的錯誤進行測試，并將測試結果轉換為兩個相反的狀態之一，所述兩個相反的狀態分別指示所述功能模塊是否存在錯誤。

6.如權利要求5所述的系統，其特征在于，該系統還包括：顯示設備，其中，所述顯示設備設置在所述測試設備上，或者，獨立于所述測試設備；

所述顯示設備，用于將所述狀態之一進行顯示。

7.如權利要求6所述的系統，其特征在于，該系統還包括：

調試設備，用于在所述顯示設備顯示的狀態之一指示所述功能模塊存在錯誤時，對所述存在錯誤的功能模塊進行調試。

8.一種測試設備，其特征在于，該設備包括：接收單元和測試單元；其中，

所述接收單元，用于接收測試設備外部的待測芯片中的欲測試功能模塊的信號，并將該信號發送給測試單元；

所述測試單元，用于通過設置在其自身中的測試邏輯對所述欲測試功能模塊進行測試，并將測試結果轉換為兩個相反的狀態之一，所述兩個相反的狀態分別指示所述功能模塊是否存在錯誤。

9.如權利要求8所述的設備，其特征在于，該設備還包括：顯示單元；

所述顯示單元，用于將所述狀態之一進行顯示。

10.如權利要求9所述的設備，其特征在于，所述顯示單元為發光二極管LED顯示燈或液晶顯示屏LCD。

11.如權利要求9所述的設備，其特征在于，所述顯示單元為LED顯示燈，所述LED顯示燈在所述狀態之一指示所述功能模塊存在錯誤時，燈亮；否則，燈滅。

12.如權利要求8所述的設備，其特征在于，所述測試單元由可編程邏輯器件實現。