[發(fā)明專利]檢測真空斷路器觸頭磨損量的方法及其裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200710173152.1
• 申請日: 2007-12-26
• 公開（公告）號: CN101469971A
• 公開（公告）日: 2009-07-01
• 發(fā)明（設計）人: 王桂芝;周慶強;李明忠
• 申請（專利權）人: 上海西屋開關有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司
• 代理人: 左一平

技術領域

本發(fā)明涉及電工技術領域，尤其涉及一種檢測高壓開關柜內真空斷路器觸頭磨損量的方法及其裝置。

背景技術

真空斷路器的觸頭磨損到一定的尺寸后必須及時更換，以保證系統的安全運行。現有的測量真空斷路器的觸頭磨損量的方法有兩種：一是目測法，即通過操作人員肉眼觀測斷路器的觸頭來衡量觸頭的磨損程度。這種方法完全憑借操作人員的經驗，主觀成份大，可靠性差，極易產生過早更換或過期更換斷路器觸頭的情況，造成生產資源的浪費或引發(fā)安全問題。另一種方法是采用機械尺進行人工測量。采用這種方法，為保證操作人員的安全，必須將被測高壓開關柜同與之相連的高壓系統部分斷開才能進行，這樣往往會造成一定范圍內的停電，因而存在著操作不方便、檢測不及時、檢測結果不直觀的缺點。

發(fā)明內容

本發(fā)明所要解決的技術問題在于克服現有技術的上述缺陷，提供一種能夠方便、準確地檢測真空斷路器的觸頭磨損量的方法及實施該方法的裝置。

本發(fā)明的一種檢測真空斷路器觸頭磨損量的方法，所述真空斷路器包括真空滅弧室、靜觸頭、動觸頭和動導電桿，動導電桿的一端穿過真空滅弧室的蓋板與動觸頭相連，在動導電桿的另一端上設有反射裝置，反射裝置靠在動導電桿上并繞一樞軸轉動，相對于反射裝置的反射面設有入射光源和反射光接收裝置，入射光源發(fā)出的光入射在反射裝置的樞軸轉動點上，反射光接收裝置用于接收由入射光源發(fā)出并被反射裝置反射后的光束；觸頭發(fā)生磨損時，反射裝置繞樞軸轉過一定的角度，使得從反射裝置反射的光束的接收位置也產生變化；測出所述反射光束的接收位置變化量，通過公式觸頭的磨損量＝S×(ctg(α-β)-ctgα)，計算出觸頭的磨損量，其中：S為反射裝置與動導電桿的接觸點與樞軸轉動點到真空滅弧室蓋板的垂直線之間的垂直距離，α為初始狀態(tài)下反射裝置與樞軸轉動點到真空滅弧室蓋板的垂直線之間的夾角，β為觸頭發(fā)生磨損時反射裝置繞樞軸轉動點轉過的角度。

本發(fā)明的一種真空斷路器觸頭磨損量檢測裝置，所述真空斷路器包括真空滅弧室、靜觸頭、動觸頭和動導電桿，動導電桿的一端穿過真空滅弧室的蓋板與動觸頭相連，所述檢測裝置包括反射裝置、入射光源、反射光接收裝置、單片機、按鍵輸入單元及顯示單元，反射裝置設置在動導電桿的另一端，反射裝置靠在動導電桿上并繞一樞軸轉動，入射光源和反射光接收裝置相對于反射板的反射面設置，入射光源發(fā)出的光入射在反射裝置的樞軸轉動點上，單片機分別與反射光接收裝置、按鍵輸入單元及顯示單元相連，其中：反射光接收裝置，用于接收由入射光源發(fā)出并被所述反射裝置反射后的光束；單片機，用于接收反射光接收裝置發(fā)送的信號，計算動觸頭的磨損量并將計算結果顯示在顯示單元上。

在上述檢測真空斷路器觸頭磨損量的方法的及其裝置中，還包括一支架，支架垂直設置在真空滅弧室的蓋板上，反射板的一端通過樞軸與支架轉動連接，另一端斜靠在動導電桿上。

采用上述技術方案后，在高壓開關柜外的安全區(qū)域檢測反射光束的位移變化量，通過單片機自動計算動觸頭的磨損量，并將顯示結果直接顯示在顯示單元，具有操作簡單快捷、測量結果顯示直觀、測量準確度高等優(yōu)點。

附圖說明

圖1是本發(fā)明真空斷路器觸頭磨損量檢測裝置的一種實施方式的示意圖；

圖1A為圖1的I部分的放大示意圖；

圖2是圖1的真空斷路器觸頭磨損量檢測裝置的電路框圖；

圖3是本發(fā)明檢測真空斷路器觸頭磨損量的方法的原理圖；

圖4是本發(fā)明的反射板及導電桿的局部示意圖；

圖5是本發(fā)明的反射光接收裝置的另一種實施方式的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本發(fā)明做進一步說明。

圖1示出了真空斷路器的主要結構，包括動支架11、靜支架12、絕緣桿13、真空滅弧室14、動導電桿15、動觸頭及靜觸頭等，其中動觸頭和靜觸頭位于真空滅弧室14內，動導電桿的15一端穿過真空滅弧室的蓋板與真空滅弧室內的動觸頭相連。為了便于清楚地表示本發(fā)明，圖1中的真空斷路器結構與實際的真空斷路器相互倒置。

本發(fā)明的檢測真空斷路器觸頭磨損量的方法，是在動導電桿的另一端上設有反射裝置，相對于反射裝置的反射面設有入射光源和反射光接收裝置，反射光接收裝置用于接收由入射光源發(fā)出并被所述反射裝置反射后的光束；當觸頭發(fā)生磨損時，引起反射裝置的角度位置發(fā)生變化，使得從反射裝置反射的光束的接收位置也產生變化；測出反射光束的接收位置變化量，并利用觸頭的磨損量、入射光源、反射光接收裝置、以及反射裝置之間存在的三角函數關系，計算出觸頭的磨損量。