[發明專利]檢測真空斷路器觸頭磨損量的方法及其裝置

無效

• 申請號: 200710173152.1
• 申請日: 2007-12-26
• 公開（公告）號: CN101469971A
• 公開（公告）日: 2009-07-01
• 發明（設計）人: 王桂芝;周慶強;李明忠
• 申請（專利權）人: 上海西屋開關有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司
• 代理人: 左一平

1.一種檢測真空斷路器觸頭磨損量的方法，所述真空斷路器包括真空滅弧室、靜觸頭、動觸頭和動導電桿，所述動導電桿的一端穿過真空滅弧室的蓋板與所述動觸頭相連，其特征在于：

在動導電桿的另一端上設有反射裝置，所述反射裝置靠在所述動導電桿上并繞一樞軸轉動，相對于所述反射裝置的反射面設有入射光源和反射光接收裝置，所述入射光源發出的光入射在反射裝置的樞軸轉動點上，所述反射光接收裝置用于接收由入射光源發出并被所述反射裝置反射后的光束；

觸頭發生磨損時，反射裝置繞樞軸轉過一定的角度，使得從反射裝置反射的光束的接收位置也產生變化；測出所述反射光束的接收位置變化量，通過公式觸頭的磨損量＝S×(ctg(α-β)-ctgα)，計算出觸頭的磨損量，其中：S為反射裝置與動導電桿的接觸點與樞軸轉動點到真空滅弧室蓋板的垂直線之間的垂直距離，α為初始狀態下反射裝置與樞軸轉動點到真空滅弧室蓋板的垂直線之間的夾角，β為觸頭發生磨損時反射裝置繞樞軸轉動點轉過的角度。

2.如權利要求1所述的一種檢測真空斷路器觸頭磨損量的方法，其特征在于：所述反射裝置為一反射板，所述入射光源為激光源，所述反射光接收裝置為光電檢測器。

3.如權利要求2所述的一種檢測真空斷路器觸頭磨損量的方法，其特征在于：還包括一支架，所述支架垂直設置在所述真空滅弧室的蓋板上，所述反射板的一端通過樞軸與所述支架轉動連接，另一端斜靠在所述動導電桿上。

4.一種真空斷路器觸頭磨損量檢測裝置，所述真空斷路器包括真空滅弧室、靜觸頭、動觸頭和動導電桿，所述動導電桿的一端穿過真空滅弧室的蓋板與所述動觸頭相連，其特征在于，所述檢測裝置包括反射裝置、入射光源、反射光接收裝置、單片機、按鍵輸入單元及顯示單元，所述反射裝置設置在動導電桿的另一端，反射裝置靠在所述動導電桿上并繞一樞軸轉動，所述入射光源和所述反射光接收裝置相對于所述反射板的反射面設置，入射光源發出的光入射在反射裝置的樞軸轉動點上，所述單片機分別與反射光接收裝置、按鍵輸入單元及顯示單元相連，其中：

反射光接收裝置，用于接收由入射光源發出并被所述反射裝置反射后的光束；

單片機，用于接收反射光接收裝置發送的信號，計算動觸頭的磨損量并將計算結果顯示在所述顯示單元上。

5.如權利要求4所述的一種真空斷路器觸頭磨損量檢測裝置，其特征在于，所述反射裝置為一反射板，所述入射光源為激光源，所述反射光接收裝置為光電檢測器；所述激光源與所述單片機相連。

6.如權利要求5所述的一種真空斷路器觸頭磨損量檢測裝置，其特征在于，還包括用于帶動所述光電檢測器進行位移的傳動機構和用于檢測所述光電檢測器的位移量的傳感器，所述傳動機構和所述傳感器分別與所述單片機相連。

7.如權利要求6所述的一種真空斷路器觸頭磨損量檢測裝置，其特征在于，還包括一固定架，激光源和傳動機構固設在所述固定架上。

8.如權利要求7所述的一種真空斷路器觸頭磨損量檢測裝置，其特征在于，所述傳動機構包括電機、電機皮帶盤、傳動帶、轉動軸以及轉動皮帶盤；所述電機和所述轉動軸固定在所述固定架上，所述電機皮帶盤套設在所述電機的主軸上，所述轉動皮帶盤套設在所述轉動軸上，所述傳動帶套設在電機皮帶盤和轉動皮帶盤上；光電檢測器固設在傳動帶上，電機與單片機相連。

9.如權利要求4所述的一種真空斷路器觸頭磨損量檢測裝置，其特征在于，所述反射裝置為一反射板，所述入射光源為激光源，所述反射光接收裝置由多個光電檢測器和光電檢測器板組成，所述多個光電檢測器設置在光電檢測器板上，豎直排成一列；所述激光源與單片機相連。

10.如權利要求8或9所述的一種真空斷路器觸頭磨損量檢測裝置，其特征在于，還包括一支架，所述支架垂直設置在真空滅弧室的蓋板上，所述反射板的一端通過樞軸與所述支架轉動連接，另一端斜靠在動導電桿上。