[發(fā)明專利]測(cè)試日志處理方法及系統(tǒng)

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200710167586.0
• 申請(qǐng)日: 2007-10-29
• 公開（公告）號(hào): CN101425064A
• 公開（公告）日: 2009-05-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孔元;羅梓桂;陳志豐
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 英業(yè)達(dá)股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F17/30
• 分類號(hào): G06F17/30;G06F11/34
• 代理公司: 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 戈 泊

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種測(cè)試日志(Log)處理技術(shù)，更具體地說，涉及一種應(yīng)用于安裝有生成具有多個(gè)關(guān)鍵字的測(cè)試日志的測(cè)試程序的電子裝置中的測(cè)試日志處理方法及系統(tǒng)。?

背景技術(shù)

現(xiàn)有的測(cè)試，例如基板控制器(Baseboard?Management?Controller；BMC)測(cè)試，均會(huì)在例如電腦的電子裝置中運(yùn)行對(duì)應(yīng)的測(cè)試程序后，生成相關(guān)的測(cè)試日志(Log)，以供測(cè)試人員依據(jù)該測(cè)試日志對(duì)該測(cè)試進(jìn)行相應(yīng)的分析處理作業(yè)。?

現(xiàn)有的測(cè)試日志中通常只記載多個(gè)對(duì)應(yīng)該測(cè)試程序的例如類型(type)等關(guān)鍵字以及對(duì)應(yīng)該關(guān)鍵字的參數(shù)值，然而，在不熟悉該關(guān)鍵字的定義的前提下，僅僅參閱上述測(cè)試日志，并無法依據(jù)該測(cè)試日志對(duì)該測(cè)試結(jié)果進(jìn)行正確的分析處理，此時(shí)，一般需要通過其他媒介(例如瀏覽器)輔助查看記載有對(duì)應(yīng)每一測(cè)試程序所應(yīng)包含的各該關(guān)鍵字的定義的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)(SPEC)集合(單一關(guān)鍵字對(duì)應(yīng)有單一測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的定義)，然后依據(jù)該測(cè)試日志中所記載的關(guān)鍵字，自該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合中查找對(duì)應(yīng)該關(guān)鍵字所定義的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。但是，每個(gè)測(cè)試日志中所記載的關(guān)鍵字的數(shù)量并非只有一個(gè)，其數(shù)量可能比較多，若每次分析測(cè)試日志均需通過上述人為方式逐一進(jìn)行查找匹配，不但浪費(fèi)時(shí)間，也對(duì)測(cè)試結(jié)果的分析處理作業(yè)帶來一定程度上的不便；另外，也可能因查找的關(guān)鍵字?jǐn)?shù)量較多、以及人為記憶的不確定性因素，在后續(xù)測(cè)試分析處理作業(yè)時(shí)，導(dǎo)致各該關(guān)鍵字的定義混淆的情況發(fā)生，進(jìn)而影響后續(xù)測(cè)試分析處理結(jié)果；而且，上述作業(yè)需額外通過其他媒介進(jìn)行測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合的查看，如此，則需額外占用測(cè)試資源。?

綜上所述，如何提出一種測(cè)試日志處理方法及系統(tǒng)，以避免現(xiàn)有技術(shù)中的種種缺陷，實(shí)為目前亟欲解決的技術(shù)問題。?

發(fā)明內(nèi)容

鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本發(fā)明的一個(gè)目的在于提供一種一目了然的測(cè)試日志處理方法及系統(tǒng)，以利于查閱。?

本發(fā)明的另一目的在于提供一種測(cè)試日志處理方法及系統(tǒng)，以節(jié)約時(shí)間。?

本發(fā)明的另一目的在于提供一種測(cè)試日志處理方法及系統(tǒng)，以節(jié)省資源。?

為達(dá)上述目的及其它目的，本發(fā)明提供一種測(cè)試日志處理方法及系統(tǒng)。該測(cè)試日志處理方法應(yīng)用于安裝有生成具有多個(gè)第一關(guān)鍵字的測(cè)試日志的測(cè)試程序的電子裝置中，該測(cè)試日志處理方法包括以下步驟：建立數(shù)據(jù)庫，用以儲(chǔ)存多個(gè)測(cè)試程序名稱以及多個(gè)對(duì)應(yīng)各該測(cè)試程序名稱的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)(Spec)集合，而各該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合具有多個(gè)對(duì)應(yīng)各該測(cè)試程序的第二關(guān)鍵字以及多個(gè)對(duì)應(yīng)各該第二關(guān)鍵字的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，且對(duì)應(yīng)同一測(cè)試程序的各該第一與第二關(guān)鍵字為一一對(duì)應(yīng)關(guān)系；偵測(cè)該電子裝置當(dāng)前運(yùn)行的測(cè)試程序名稱，并據(jù)以自該數(shù)據(jù)庫中搜尋出與當(dāng)前測(cè)試程序名稱相對(duì)應(yīng)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合；依據(jù)所搜尋出的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合，自該數(shù)據(jù)庫中提取對(duì)應(yīng)該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合的各該第二關(guān)鍵字，并逐一選取各該第二關(guān)鍵字作為后續(xù)查找匹配的對(duì)象；依據(jù)所選取的該第二關(guān)鍵字，在該測(cè)試日志中查找與其相匹配的第一關(guān)鍵字；以及判斷是否在該測(cè)試日志中查找到與該第二關(guān)鍵字相匹配的第一關(guān)鍵字，若是，則自該數(shù)據(jù)庫的該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合中提取對(duì)應(yīng)該第二關(guān)鍵字的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，且載入提取出的該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)至該測(cè)試日志中對(duì)應(yīng)該第一關(guān)鍵字的位置處；若否，則繼續(xù)在該測(cè)試日志中執(zhí)行查找與該第二關(guān)鍵字相匹配的第一關(guān)鍵字的步驟。該測(cè)試日志處理系統(tǒng)應(yīng)用于安裝有生成具有多個(gè)第一關(guān)鍵字的測(cè)試日志的測(cè)試程序的電子裝置中，該測(cè)試日志處理系統(tǒng)包括：用以儲(chǔ)存多個(gè)測(cè)試程序名稱以及多個(gè)對(duì)應(yīng)各該測(cè)試程序名稱的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)(Spec)集合的數(shù)據(jù)庫，而各該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合具有多個(gè)對(duì)應(yīng)各該測(cè)試程序的第一關(guān)鍵字以及多個(gè)對(duì)應(yīng)各該第一關(guān)鍵字的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，且對(duì)應(yīng)同一測(cè)試程序的各該第一與第二關(guān)鍵字為一一對(duì)應(yīng)關(guān)系；用以偵測(cè)該電子裝置當(dāng)前運(yùn)行的測(cè)試程序名稱，并據(jù)以自該數(shù)據(jù)庫中搜尋出與當(dāng)前測(cè)試程序名稱相對(duì)應(yīng)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合的偵測(cè)模塊；?用以依據(jù)該偵測(cè)模塊所搜尋出的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合，自該數(shù)據(jù)庫中提取對(duì)應(yīng)該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合的各該第二關(guān)鍵字，并逐一選取各該第二關(guān)鍵字作為后續(xù)查找匹配的對(duì)象的提取模塊；以及用以依據(jù)該提取模塊所選取的該第二關(guān)鍵字，在該測(cè)試日志中查找與其相匹配的第一關(guān)鍵字，且在匹配到該第一及第二關(guān)鍵字一致時(shí)，自該數(shù)據(jù)庫的該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合中提取對(duì)應(yīng)該第二關(guān)鍵字的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，而據(jù)以將該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)載入至該測(cè)試日志中對(duì)應(yīng)該第一關(guān)鍵字的位置處的處理模塊。?

在本發(fā)明的測(cè)試日志處理方法及系統(tǒng)中，該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)包括對(duì)應(yīng)該第二關(guān)鍵字的至少一參數(shù)值、以及該參數(shù)值所表征的含義。該查找匹配方式可以是例如順序查找匹配方式、二分查找匹配方式、分塊查找匹配方式、樹表查找匹配方式、或哈希查找匹配方式。?