[發(fā)明專利]測(cè)試日志處理方法及系統(tǒng)無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200710167586.0 | 申請(qǐng)日: | 2007-10-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101425064A | 公開(公告)日: | 2009-05-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孔元;羅梓桂;陳志豐 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 英業(yè)達(dá)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F17/30 | 分類號(hào): | G06F17/30;G06F11/34 |
| 代理公司: | 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 戈 泊 |
| 地址: | 中國臺(tái)*** | 國省代碼: | 中國臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測(cè)試 日志 處理 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種測(cè)試日志處理方法,應(yīng)用于安裝有生成具有多個(gè)第一關(guān)鍵字的測(cè)試日志的測(cè)試程序的電子裝置中,該測(cè)試日志處理方法包括以下步驟:
建立數(shù)據(jù)庫,以儲(chǔ)存多個(gè)測(cè)試程序名稱以及多個(gè)對(duì)應(yīng)各該測(cè)試程序名稱的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合,而各該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合具有多個(gè)對(duì)應(yīng)各該測(cè)試程序的第二關(guān)鍵字以及多個(gè)對(duì)應(yīng)各該第二關(guān)鍵字的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),且對(duì)應(yīng)同一測(cè)試程序的各該第一與第二關(guān)鍵字為一一對(duì)應(yīng)關(guān)系;
偵測(cè)該電子裝置當(dāng)前運(yùn)行的測(cè)試程序名稱,并據(jù)以自該數(shù)據(jù)庫中搜尋出與當(dāng)前測(cè)試程序名稱相對(duì)應(yīng)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合;
依據(jù)所搜尋出的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合,自該數(shù)據(jù)庫中提取對(duì)應(yīng)該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合的各該第二關(guān)鍵字,并逐一選取各該第二關(guān)鍵字作為后續(xù)查找匹配的對(duì)象;
依據(jù)所選取的該第二關(guān)鍵字,在該測(cè)試日志中查找與其相匹配的第一關(guān)鍵字;以及
判斷是否在該測(cè)試日志中查找到與該第二關(guān)鍵字相匹配的第一關(guān)鍵字,若是,則自該數(shù)據(jù)庫的該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合中提取對(duì)應(yīng)該第二關(guān)鍵字的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),且載入提取出的該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)至該測(cè)試日志中對(duì)應(yīng)該第一關(guān)鍵字的位置處;若否,則繼續(xù)在該測(cè)試日志中執(zhí)行查找與該第二關(guān)鍵字相匹配的第一關(guān)鍵字的步驟。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試日志處理方法,其中,該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)包括對(duì)應(yīng)該第二關(guān)鍵字的至少一個(gè)參數(shù)值、以及該參數(shù)值所表征的含義。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試日志處理方法,其中,該查找匹配方式為順序查找匹配方式、二分查找匹配方式、分塊查找匹配方式、樹表查找匹配方式、以及哈希查找匹配方式的其中一個(gè)。
4.一種測(cè)試日志處理系統(tǒng),應(yīng)用于安裝有生成具有多個(gè)第一關(guān)鍵字的測(cè)試日志的測(cè)試程序的電子裝置中,該測(cè)試日志處理系統(tǒng)包括:
數(shù)據(jù)庫,用以儲(chǔ)存多個(gè)測(cè)試程序名稱以及多個(gè)對(duì)應(yīng)各該測(cè)試程序名稱的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合,而各該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合具有多個(gè)對(duì)應(yīng)各該測(cè)試程序的第二關(guān)鍵字以及多個(gè)對(duì)應(yīng)各該第二關(guān)鍵字的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),且對(duì)應(yīng)同一測(cè)試程序的各該第一與第二關(guān)鍵字為一一對(duì)應(yīng)關(guān)系;
偵測(cè)模塊,用以偵測(cè)該電子裝置當(dāng)前運(yùn)行的測(cè)試程序名稱,并據(jù)以自該數(shù)據(jù)庫中搜尋出與當(dāng)前測(cè)試程序名稱相對(duì)應(yīng)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合;
提取模塊,用以依據(jù)該偵測(cè)模塊所搜尋出的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合,自該數(shù)據(jù)庫中提取對(duì)應(yīng)該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合的各該第二關(guān)鍵字,并逐一選取各該第二關(guān)鍵字作為后續(xù)查找匹配的對(duì)象;以及
處理模塊,用以依據(jù)該提取模塊所選取的該第二關(guān)鍵字,在該測(cè)試日志中查找與其相匹配的第一關(guān)鍵字,且在匹配到該第一及第二關(guān)鍵字一致時(shí),自該數(shù)據(jù)庫的該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)集合中提取對(duì)應(yīng)該第二關(guān)鍵字的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),而據(jù)以將該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)載入至該測(cè)試日志中對(duì)應(yīng)該第一關(guān)鍵字的位置處。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)試日志處理系統(tǒng),其中,該測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)包括對(duì)應(yīng)該第二關(guān)鍵字的至少一個(gè)參數(shù)值、以及該參數(shù)值所表征的含義。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)試日志處理系統(tǒng),其中,該匹配方式為順序查找匹配方式、二分查找匹配方式、分塊查找匹配方式、樹表查找匹配方式、以及哈希查找匹配方式的其中一個(gè)。
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