[發(fā)明專利]互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其制作方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200710167205.9 | 申請日: | 2007-11-01 |
| 公開(公告)號: | CN101188248A | 公開(公告)日: | 2008-05-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 朱慧瓏 | 申請(專利權(quán))人: | 國際商業(yè)機(jī)器公司 |
| 主分類號: | H01L29/423 | 分類號: | H01L29/423;H01L27/092;H01L21/8238 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 | 代理人: | 張波 |
| 地址: | 美國紐*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 互補(bǔ) 金屬 氧化物 半導(dǎo)體 結(jié)構(gòu) 及其 制作方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),包括:
半導(dǎo)體基板,包括含有至少一個V形溝槽的有源區(qū);以及
柵電極,非平行地橫跨至少一個V形溝槽。
2.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中所述半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)包含絕緣體上半導(dǎo)體基板。
3.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中所述至少一個V形溝槽包括場效應(yīng)晶體管的有源區(qū)的溝道區(qū)和源/漏區(qū)。
4.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中:
所述V形溝槽包含100、110和111晶體學(xué)取向之一;以及
所述柵電極包含p型場效應(yīng)晶體管和n型場效應(yīng)晶體管之一。
5.一種互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),包括:
第一器件,具有第一極性并位于半導(dǎo)體基板的第一有源區(qū)內(nèi),第一有源區(qū)具有平表面,該平表面具有第一晶體學(xué)取向;以及
第二器件,具有不同于所述第一極性的第二極性并位于所述半導(dǎo)體基板的第二有源區(qū)內(nèi),第二有源區(qū)具有不同于且不存在第一晶體學(xué)取向的第二晶體學(xué)取向的非平的表面。
6.如權(quán)利要求5所述的互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中第一有源區(qū)和第二有源區(qū)包括溝道區(qū)和源/漏區(qū)。
7.如權(quán)利要求5所述的互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中所述非平的表面包含多個V形溝槽。
8.如權(quán)利要求5所述的互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中第二有源區(qū)具有單一厚度。
9.如權(quán)利要求8所述的互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),還包含至少一個插入第二有源區(qū)和所述半導(dǎo)體基板包含的掩埋的介電層之間的一個空洞。
10.如權(quán)利要求5所述的互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中:
第一器件是n型場效應(yīng)晶體管且第一晶體學(xué)取向是100晶體學(xué)取向;
第二器件是p型場效應(yīng)晶體管且第二晶體學(xué)取向是111晶體學(xué)取向。
11.一種互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),包括:
第一器件,具有第一極性和位于半導(dǎo)體基板的第一有源區(qū)上的第一柵電極,第一有源區(qū)具有平表面,該平表面具有第一晶體學(xué)取向;以及
第二器件,具有不同于所述第一極性的第二極性和位于所述半導(dǎo)體基板的第二有源區(qū)上的第二柵極,第二有源區(qū)具有至少一個具有不同于且不存在第一晶體學(xué)取向的第二晶體學(xué)取向的V形溝槽的非平的表面,其中第二柵極不平行于所述至少一個V形溝槽。
12.如權(quán)利要求11所述的互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中第一有源區(qū)和第二有源區(qū)包括溝道區(qū)和源/漏區(qū)。
13.如權(quán)利要求11所述的互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中:
所述非平的表面包含多個平行的V形溝槽;以及
第二有源區(qū)具有單一厚度。
14.如權(quán)利要求11所述的互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),還包含至少一個插入第二有源區(qū)和所述半導(dǎo)體基板包含的掩埋的介電層之間的一個空洞。
15.如權(quán)利要求11所述的互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中:
第一器件是n型場效應(yīng)晶體管且第一晶體學(xué)取向是100晶體學(xué)取向;以及
第二器件是p型場效應(yīng)晶體管且第二晶體學(xué)取向是111晶體學(xué)取向。
16.一種制作互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法,包含:
在半導(dǎo)體基板內(nèi)形成:
第一有源區(qū),具有第一極性并具有第一晶體學(xué)取向的平坦的表面;以及
第二有源區(qū),具有不同于第一極性的第二極性并具有不同于且不存在第一晶體學(xué)取向的第二晶體學(xué)取向的非平的表面;以及??
在第一有源區(qū)內(nèi)形成第一器件并在第二有源區(qū)內(nèi)形成第二器件。
17.如權(quán)利要求16所述的方法,其中在所述半導(dǎo)體基板內(nèi)形成第一有源區(qū)和第二有源區(qū)使用絕緣體上半導(dǎo)體基板和體半導(dǎo)體基板之一。
18.如權(quán)利要求16所述的方法,其中具有第二晶體學(xué)取向的非平的表面的第二有源區(qū)使用晶體學(xué)選擇蝕刻劑以提供第二晶體學(xué)取向。
19.如權(quán)利要求16所述的方法,還包含在第二有源區(qū)下形成至少一個空洞。
20.如權(quán)利要求16所述的方法,其中形成第二器件包括形成不平行于所述非平的表面內(nèi)的構(gòu)形的第二柵電極。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的
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