[發(fā)明專利]用于接觸檢測(cè)件的接觸裝置及接觸檢測(cè)件的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200710162079.8
• 申請(qǐng)日: 2007-11-26
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN101191800A
• 公開(kāi)（公告）日: 2008-06-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 賴納·施密德;烏爾里希·高斯
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 精煉金屬股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/02
• 分類號(hào): G01R1/02
• 代理公司: 上海智信專利代理有限公司
• 代理人: 王潔

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種用于接觸待檢測(cè)的電子檢測(cè)件，尤其是設(shè)有鍍錫觸點(diǎn)的檢測(cè)件的接觸裝置，至少帶有兩個(gè)導(dǎo)向元件，該導(dǎo)向元件具有缺口，通過(guò)該缺口，所述接觸元件本質(zhì)上沿軸向延伸，所述接觸元件在分配的導(dǎo)向元件移向所述檢測(cè)件的面上從該面突出以接觸所述檢測(cè)件。

背景技術(shù)

一開(kāi)始提到的那種接觸裝置是已知的。為了定位和保持條狀的接觸元件，該元件要放置在互相軸向間隔設(shè)置的導(dǎo)向元件的缺口中。導(dǎo)向元件做成導(dǎo)向板的形式。缺口優(yōu)選制作成孔的形式，其中導(dǎo)向長(zhǎng)度和孔的位置為固定參數(shù)。做成條狀的觸點(diǎn)成為針，其一端接觸檢測(cè)件的檢測(cè)點(diǎn)，而其另一端與連接接觸裝置的電子檢測(cè)設(shè)備共同作用。由此形成檢測(cè)回路來(lái)測(cè)試檢測(cè)件的功能，尤其是電子功能。在特殊的構(gòu)形中，接觸檢測(cè)件的針尖可以沒(méi)有尖端，特別是當(dāng)要接觸檢測(cè)件的焊點(diǎn)時(shí)也可以做成平的。如果經(jīng)常接觸檢測(cè)件，那么這就會(huì)導(dǎo)致針末端的污染。污染有時(shí)優(yōu)選磨蝕性地，就是磨損去除，其中針長(zhǎng)度的一小部分也一起被磨掉。通過(guò)這種相對(duì)強(qiáng)烈的針的磨損而導(dǎo)致針相應(yīng)變短，從而必須在達(dá)到最小長(zhǎng)度時(shí)更換針。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的任務(wù)在于，顯著地延長(zhǎng)接觸裝置的接觸元件，特別是針的壽命。

根據(jù)本發(fā)明，該任務(wù)如此實(shí)現(xiàn)：導(dǎo)向元件的軸向間距或者移向檢測(cè)件的導(dǎo)向元件的軸向位置可以被校準(zhǔn)以適應(yīng)突出長(zhǎng)度。由此實(shí)現(xiàn)了導(dǎo)向元件互相的相對(duì)軸向移位或者移向檢測(cè)件的導(dǎo)向元件的軸向移位，使得針在用舊以后還能保持足夠長(zhǎng)的伸出量以保證良好的接觸。由此，針是否有接觸尖端或者它們是否做成磨平的樣子都不重要了。盡管如此，平的結(jié)構(gòu)具有在為了清洗針尖端而進(jìn)行磨蝕處理時(shí)能保持針端形狀的優(yōu)點(diǎn)。采用削尖的針的話，磨損還導(dǎo)致尖端變短。本發(fā)明對(duì)象的另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)在于，針尖端的伸出量，即突出長(zhǎng)度可以保持相對(duì)較短，因?yàn)楦鶕?jù)本發(fā)明存在適應(yīng)的可能，其中短的導(dǎo)向保證了良好的導(dǎo)向，這意味著良好的定位和由此導(dǎo)致的良好的接觸。

根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施方式，導(dǎo)向元件的軸向間距可由至少一個(gè)校準(zhǔn)裝置校準(zhǔn)。校準(zhǔn)裝置負(fù)責(zé)導(dǎo)向元件的軸向移位，以校準(zhǔn)和補(bǔ)充校正接觸元件的突出長(zhǎng)度為目的。

優(yōu)選的是，校準(zhǔn)裝置涉及連續(xù)的校準(zhǔn)裝置和/或分等級(jí)的校準(zhǔn)裝置。連續(xù)的校準(zhǔn)裝置允許無(wú)級(jí)校準(zhǔn)，而分等級(jí)的校準(zhǔn)裝置則使得附屬導(dǎo)向元件以規(guī)定的距離跳變移位成為可能。

當(dāng)校準(zhǔn)裝置優(yōu)選做成校準(zhǔn)螺紋裝置時(shí)，則尤其能實(shí)現(xiàn)連續(xù)的校準(zhǔn)。如果旋轉(zhuǎn)所述校準(zhǔn)裝置的至少一個(gè)螺紋結(jié)構(gòu)，附屬的導(dǎo)向元件就相應(yīng)地連續(xù)在軸向方向上移動(dòng)。

如果校準(zhǔn)裝置是氣壓的、液壓的和/或壓電的校準(zhǔn)裝置則是很有利的。因此，利用氣壓的校準(zhǔn)裝置，即通過(guò)空氣壓力來(lái)校準(zhǔn)導(dǎo)向元件的軸向間距。可選擇的，液壓的校準(zhǔn)裝置也是可以的，在此情況下利用液壓的校準(zhǔn)裝置實(shí)現(xiàn)上述的校準(zhǔn)。由于校準(zhǔn)路徑相對(duì)較小，還可以考慮校準(zhǔn)裝置也可以是壓電校準(zhǔn)裝置。該壓電校準(zhǔn)裝置的距離通過(guò)向該壓電校準(zhǔn)裝置施加更大或者更小的電壓而發(fā)生變化。通過(guò)電壓的校準(zhǔn)而因此實(shí)現(xiàn)了導(dǎo)致附屬的導(dǎo)向元件的校準(zhǔn)的機(jī)械校準(zhǔn)。

根據(jù)本發(fā)明的其他實(shí)施方式，校準(zhǔn)裝置優(yōu)選為本質(zhì)上能夠徑向移動(dòng)的楔形和/或階梯裝置。優(yōu)選地，移向接觸元件的末端區(qū)域的導(dǎo)向元件支撐在軸向間隔開(kāi)的另一個(gè)導(dǎo)向元件上。兩個(gè)導(dǎo)向元件的這種支撐優(yōu)選通過(guò)校準(zhǔn)裝置實(shí)現(xiàn)。如果該校準(zhǔn)裝置在長(zhǎng)度上可變，尤其是做成楔形和/或階梯裝置，則很明顯的是根據(jù)楔子的尺寸和/或階梯的等級(jí)來(lái)校準(zhǔn)兩個(gè)導(dǎo)向元件的間距，由此能以相應(yīng)的方式校準(zhǔn)接觸元件的突出長(zhǎng)度。對(duì)于楔形裝置而言該過(guò)程可連續(xù)地實(shí)現(xiàn)，而對(duì)于階梯裝置而言該過(guò)程不連續(xù)地，即分等級(jí)地實(shí)現(xiàn)。

本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施方式中，校準(zhǔn)裝置做成取出裝置，其中導(dǎo)向元件之間的軸向間距通過(guò)取出而變小。正如已經(jīng)說(shuō)過(guò)的，校準(zhǔn)裝置設(shè)置在兩個(gè)導(dǎo)向元件之間。如果該取出裝置能夠被取出，則導(dǎo)向元件之間的軸向間距變小。其中當(dāng)導(dǎo)向元件之間僅有一個(gè)取出裝置再取出時(shí)，導(dǎo)向元件就互相觸碰在一起。當(dāng)然也可以考慮在軸向上設(shè)置若干個(gè)排列成行的校準(zhǔn)裝置，這些校準(zhǔn)裝置都做成取出裝置，或者具有若干個(gè)能夠取出的元件。如果取出其中一個(gè)取出裝置或者元件，則導(dǎo)向元件之間的軸向間距減小相應(yīng)的量，這導(dǎo)致接觸元件的突出長(zhǎng)度增大相應(yīng)的量。當(dāng)通過(guò)磨損而使接觸元件在長(zhǎng)度上繼續(xù)變小，取出又一個(gè)取出裝置或者又一個(gè)元件使突出長(zhǎng)度的修正得以進(jìn)行。該過(guò)程可以相應(yīng)地經(jīng)常重復(fù)，并且依賴于成行排列的取出裝置或者元件的數(shù)量。