[發(fā)明專利]結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管及其制造方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200710161270.0 | 申請(qǐng)日: | 2007-09-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101170136A | 公開(公告)日: | 2008-04-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 小林俊介 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 三洋電機(jī)株式會(huì)社;三洋半導(dǎo)體株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L29/808 | 分類號(hào): | H01L29/808;H01L21/337 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 | 代理人: | 陶鳳波 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 場(chǎng)效應(yīng) 及其 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管(FET)及其制造方法,特別是涉及高耐壓且能夠提高高頻特性及噪聲特性的結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管及其制造方法。
背景技術(shù)
現(xiàn)有的結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管中,例如在p型半導(dǎo)體襯底上設(shè)置成為溝道區(qū)域的n型陷阱區(qū)域,在n型陷阱區(qū)域設(shè)置n+型源極區(qū)域及漏極區(qū)域,且在源極區(qū)域及漏極區(qū)域之間形成有柵極區(qū)域(例如參照專利文獻(xiàn)1)。
參照?qǐng)D9說明現(xiàn)有的結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管200。圖9(A)是表示現(xiàn)有的結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管200的平面圖,圖9(B)是圖9(A)的b-b線剖面圖。
在p型襯底21上使p型外延層22成長(zhǎng)之后,形成n型外延層。形成到達(dá)p型襯底21的p+型分離區(qū)域23,將n型陷阱區(qū)域24區(qū)劃包圍。N型陷阱區(qū)域成為溝道區(qū)域24。
自溝道區(qū)域24的表面形成n+型源極區(qū)域25及n+型漏極區(qū)域26,源極電極29及漏極電極30通過設(shè)于絕緣膜40上的接觸孔與源極區(qū)域25及漏極區(qū)域26分別連接。另外,源極區(qū)域25和漏極區(qū)域26之間形成有柵極區(qū)域27。
參照?qǐng)D10說明現(xiàn)有的結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管200的制造方法。
首先,在p型襯底21上層疊p型外延層22和n型外延層24’,利用p+型分離區(qū)域(ISO)23將成為溝道區(qū)域的n型陷阱區(qū)域24分離(圖10(A))。將氧化膜40的規(guī)定位置開口,注入·擴(kuò)散p型雜質(zhì),形成p+型柵極區(qū)域27。該雜質(zhì)濃度為1018cm-3級(jí)別(圖10(B))。之后,將成為源極區(qū)域25及漏極區(qū)域26的規(guī)定位置的氧化膜40開口,注入·擴(kuò)散n型雜質(zhì)(例如P),形成n+型源極區(qū)域25及漏極區(qū)域26(圖10(C))。進(jìn)而形成與源極區(qū)域25及漏極區(qū)域26接觸的源極電極29及漏極電極30,并在背面形成柵極電極31(圖10(D))。
專利文獻(xiàn)1:特開平08-227900號(hào)公報(bào)(第二頁(yè)、第6圖)
RF(高頻)放大器上采用的結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管的高頻特性是重要的。現(xiàn)有的結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管200由于不能淺地形成溝道區(qū)域24的深度d21(參照?qǐng)D9(B)),故在將其用于RF放大器時(shí),通常在例如1MHz程度的較低的頻帶下使用。
在此,表示結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管的高頻特性的遮斷頻率fT與由溝道區(qū)域24和p型外延層22及p+型分離區(qū)域23形成的pn結(jié)電容極其相關(guān)聯(lián),pn結(jié)電容的降低有助于遮斷頻率fT的提高。
但是,如圖10所示,現(xiàn)有的溝道區(qū)域24通過由分離區(qū)域?qū)型外延層24’分離而形成。該n型外延層24’以例如2μm程度的厚度為限,在薄于2μm時(shí),難以管理外延層形成時(shí)的偏差,即,存在溝道區(qū)域24的特性偏差的問題。
即,在現(xiàn)有構(gòu)造中,由溝道區(qū)域24和p型外延層22及p+型分離區(qū)域23形成的pn結(jié)面積受n型外延層24’的厚度(溝道區(qū)域24的深度)d21限制,從而存在pn結(jié)電容的降低不能實(shí)現(xiàn)高頻特性的提高的問題。
另外,在現(xiàn)有構(gòu)造中,存在也不能改善噪聲特性的問題。要改善噪聲特性,就需要降低漏泄電流及降低動(dòng)作部的內(nèi)部電阻,但在現(xiàn)有構(gòu)造的結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管200中,不能避免成為動(dòng)作部的溝道區(qū)域24和在周圍的p型區(qū)域形成的pn結(jié)部分的漏泄電流的產(chǎn)生。
即,在圖9的構(gòu)造中,溝道區(qū)域24通過由p型分離區(qū)域(ISO)23分離n型外延層24’而形成。而且,柵極區(qū)域27與設(shè)于溝道區(qū)域24周圍的分離區(qū)域(ISO)23接觸,并經(jīng)由其與襯底背面的柵極電極31連接。即,為降低裝置的輸入電阻,成為電流路徑的p型分離區(qū)域23的雜質(zhì)濃度成為高濃度(1E19cm-3以上)。因此,溝道區(qū)域24和分離區(qū)域23的pn結(jié)的其雜質(zhì)濃度差大,漏泄電流也增大。
另外,如上所述,當(dāng)溝道區(qū)域24的深度d21深時(shí),動(dòng)作部的內(nèi)部電阻的降低也受阻。結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管200的Idss(或夾斷電壓)由柵極區(qū)域27之下的深度(自柵極區(qū)域27到溝道區(qū)域23底部的深度)d22、和溝道區(qū)域24的雜質(zhì)濃度、柵極區(qū)域27的寬度(柵極長(zhǎng)度)w21決定。
即,在將柵極長(zhǎng)度w21和溝道區(qū)域24的雜質(zhì)濃度設(shè)為一定來確保規(guī)定的Idss時(shí),自然而然地決定了柵極區(qū)域27之下的深度d22。而且,該深度d22不能取決于溝道區(qū)域24的深度d21,因此,如現(xiàn)有構(gòu)造,在不能將溝道區(qū)域24的深度d21設(shè)為比某種程度(2μm)淺時(shí),為確保規(guī)定的柵極區(qū)域27之下的深度d22,而必須深地形成柵極區(qū)域27的深度d23。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于三洋電機(jī)株式會(huì)社;三洋半導(dǎo)體株式會(huì)社,未經(jīng)三洋電機(jī)株式會(huì)社;三洋半導(dǎo)體株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的
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