[發(fā)明專利]促動(dòng)器裝置以及液體噴射頭有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200710152847.1 | 申請(qǐng)日: | 2007-09-18 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101150168A | 公開(kāi)(公告)日: | 2008-03-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 龜井宏行 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 精工愛(ài)普生株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L41/09 | 分類號(hào): | H01L41/09;H01L41/047;H02N2/02;B41J2/14 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 李貴亮 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 促動(dòng) 裝置 以及 液體 噴射 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及促動(dòng)器裝置以及液體噴射頭,其在振動(dòng)膜上具備由下電極、由壓電材料構(gòu)成的壓電體層和上電極構(gòu)成的壓電元件。
背景技術(shù)
作為應(yīng)用于促動(dòng)器裝置的壓電元件,有呈現(xiàn)機(jī)電變換功能的壓電材料,例如,結(jié)晶化的壓電性陶瓷等所形成的壓電體層被下電極和上電極2個(gè)電極夾持的構(gòu)成。此種促動(dòng)器裝置,一般被稱為撓曲振動(dòng)模式的促動(dòng)器裝置,例如,被搭載于液體噴射頭等上而使用。并且,作為液體噴射頭的代表例子,例如有噴墨式記錄頭等,所述噴墨式記錄頭由振動(dòng)膜構(gòu)成與噴出墨滴的噴嘴開(kāi)口連通的壓力產(chǎn)生室的一部分,通過(guò)壓電元件使該振動(dòng)膜變形,對(duì)壓力產(chǎn)生室的墨水加壓,從噴嘴開(kāi)口噴出墨滴。另外,作為搭載于噴墨式記錄頭的促動(dòng)器裝置,例如有如下裝置:通過(guò)成膜技術(shù)使壓電體膜以及上電極膜在整個(gè)面上形成于設(shè)有下電極的基板上,將該壓電體層以及上電極膜通過(guò)光刻法劃分為對(duì)應(yīng)壓力產(chǎn)生室的形狀,以各壓力產(chǎn)生室獨(dú)立的方式形成壓電元件。
應(yīng)用于此種噴墨式記錄頭等的促動(dòng)器裝置,因?yàn)楸环磸?fù)驅(qū)動(dòng),因此存在著下電極膜可能從構(gòu)成振動(dòng)膜等的基底剝離的問(wèn)題。此處,關(guān)于振動(dòng)膜含有由氧化鋯(ZrO2)構(gòu)成的絕緣體膜的促動(dòng)器裝置,公開(kāi)了如下文獻(xiàn)(參照專利文獻(xiàn)1):通過(guò)該氧化鋯結(jié)晶的(-111)面優(yōu)先取向等、對(duì)絕緣體膜的結(jié)晶進(jìn)行改良,來(lái)改善與絕緣體膜的上層即下電極等的密接性。
專利文獻(xiàn)1:日本特開(kāi)2005-176433號(hào)公報(bào)(權(quán)利要求書、段落0009、0011等)
但是,為了提高促動(dòng)器裝置的耐久性以及可靠性,要求進(jìn)一步提高密接性。當(dāng)然,這樣的問(wèn)題,不僅存在于搭載于噴墨式記錄頭等的液體噴射頭上的促動(dòng)器裝置,也同樣存在于搭載于其他裝置上的促動(dòng)器裝置。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于該情況,本發(fā)明的課題是,提供具備與基底的密接力高的下電極的促動(dòng)器裝置以及液體噴射頭。
解決上述課題的本發(fā)明的第1實(shí)施方式是一種促動(dòng)器裝置,其特征在于,具備:壓電元件,其由設(shè)置于基板一面?zhèn)鹊南码姌O、設(shè)置于該下電極上的壓電體層以及設(shè)置于該壓電體層上的上電極構(gòu)成,所述下電極含有貴重金屬,用二次離子質(zhì)譜分析裝置(SIMS)在厚度方向上測(cè)定所述下電極時(shí),在所述下電極的所述基板側(cè)的邊界檢測(cè)出的氧離子的強(qiáng)度Z1、和在所述下電極的所述基板側(cè)的邊界檢測(cè)出的所述貴重金屬的離子的強(qiáng)度Z2之比Z1/Z2為0.2以上。
所述第1方式,因?yàn)樵谙码姌O的基板側(cè)的邊界氧離子相對(duì)于貴重金屬離子的比為0.2以上,所以與下電極相接的層與下電極的密接性高。進(jìn)而,下電極從基板的剝離被抑制,成為耐久性以及可靠性優(yōu)越的促動(dòng)器裝置。
本發(fā)明的第2實(shí)施方式的促動(dòng)器裝置,如本發(fā)明的第1實(shí)施方式所述,其特征在于,所述基板上設(shè)有構(gòu)成振動(dòng)膜的基底層,在該基底層上設(shè)有所述下電極。
所述第2方式,基板上具有構(gòu)成振動(dòng)膜的基底層,成為該基底層與下電極的密接性高的促動(dòng)器裝置。
本發(fā)明的第3實(shí)施方式的促動(dòng)器裝置,如本發(fā)明的第2實(shí)施方式所述,其特征在于,所述基底層是從SiO2層、ZrO2層以及Zr1-XMXOY(0.01≤X≤0.15,Y=2.0±α,α是化學(xué)計(jì)量上容許的值,M是周期表的IIA族元素、IIIA族元素或IIIB族元素)層中選擇的至少一層。
所述第3方式,成為下電極與上述各層的密接性高的促動(dòng)器裝置。
本發(fā)明的第4實(shí)施方式的促動(dòng)器裝置,如本發(fā)明的第3實(shí)施方式所述,其特征在于,所述基底層為ZrO2層,所述ZrO2層是平均結(jié)晶粒徑為20~100nm的柱狀結(jié)晶,(-111)面優(yōu)先取向。
所述第4方式,ZrO2層是平均結(jié)晶粒徑為20~100nm的柱狀結(jié)晶,且(-111)面優(yōu)先取向時(shí),ZrO2層的結(jié)晶是規(guī)定的結(jié)晶,ZrO2層的表面變得平滑,下電極與ZrO2層的密接力可靠地提高。
本發(fā)明的第5實(shí)施方式的促動(dòng)器裝置,如本發(fā)明的第3實(shí)施方式所述,其特征在于,所述基底層為Zr1-XMXOY層,所述M是從Y以及Ca中選擇的至少一種。
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