[發(fā)明專利]通孔加工方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200710149167.4 | 申請(qǐng)日: | 2007-09-05 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101140879A | 公開(公告)日: | 2008-03-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 小林豊;能丸圭司;森數(shù)洋司 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社迪思科 |
| 主分類號(hào): | H01L21/302 | 分類號(hào): | H01L21/302;H01L21/60;B23K26/36 |
| 代理公司: | 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 黃綸偉 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 加工 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及從基板背面?zhèn)葘?duì)晶片照射脈沖激光光線而形成到達(dá)焊盤(bonding?pad)的通孔(via?hole)的通孔加工方法,上述晶片在基板表面形成有多個(gè)器件,并且在器件上形成有焊盤。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體器件制造工序中,在大致圓板形狀的半導(dǎo)體晶片的表面上,利用排列成格子狀的被稱為道(street)的分割規(guī)定線劃分了多個(gè)區(qū)域,在該劃分的區(qū)域中形成IC(Integrated?Circuit,集成電路)、LSI(Large?ScaleIntegrated?circuit,大規(guī)模集成電路)等器件。然后,通過沿著道而切斷半導(dǎo)體晶片來分割形成有器件的區(qū)域,從而制造各個(gè)半導(dǎo)體芯片。
為了實(shí)現(xiàn)裝置的小型化、高功能化,層疊多個(gè)半導(dǎo)體芯片并連接所層疊的半導(dǎo)體芯片的焊盤的模塊結(jié)構(gòu)已經(jīng)得到了實(shí)用化。該模塊結(jié)構(gòu)構(gòu)成為,在構(gòu)成半導(dǎo)體晶片的基板表面上形成有多個(gè)器件,并且在該器件上形成有焊盤,在形成有該焊盤的位置上,貫穿設(shè)置從基板背面?zhèn)鹊竭_(dá)焊盤的細(xì)孔(通孔),在該通孔中埋入與焊盤連接的鋁、銅等導(dǎo)電材料(例如參照專利文獻(xiàn)1)。
[專利文獻(xiàn)1]:日本特開2003-163323號(hào)公報(bào)
設(shè)于上述半導(dǎo)體晶片上的通孔通常通過鉆孔而形成。然而,設(shè)于半導(dǎo)體晶片上的通孔直徑小至100~300μm,從而通過鉆孔形成的穿孔存在生產(chǎn)性差的問題。并且,上述焊盤的厚度為1~5μm左右,為了不損壞焊盤而僅對(duì)形成晶片的硅等的基板形成通孔,必須極為精密地控制鉆孔。
為了解決上述問題,本申請(qǐng)人在日本特愿2005-249643號(hào)中提出了如下的晶片穿孔方法:從基板背面?zhèn)葘?duì)晶片照射脈沖激光光線而高效地形成到達(dá)焊盤的通孔,上述晶片在基板表面形成有多個(gè)器件,并且在該器件上形成有焊盤。
用于上述晶片穿孔方法的脈沖激光光線被設(shè)定為如下的能量密度:能高效地對(duì)晶片基板進(jìn)行飛濺加工(消融加工),而不能對(duì)焊盤進(jìn)行飛濺加工。然而,當(dāng)在晶片基板上形成到達(dá)焊盤的通孔時(shí),需要照射40~80脈沖的脈沖激光光線。這樣,存在如下問題:當(dāng)對(duì)晶片基板照射40~80脈沖的脈沖激光光線而形成到達(dá)焊盤的通孔時(shí),通過照射脈沖激光光線而產(chǎn)生的熱積蓄而達(dá)到焊盤的熔點(diǎn),焊盤熔融而開孔。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是鑒于上述情況而完成的,其主要的技術(shù)課題在于提供一種通孔加工方法,其能夠不熔融焊盤地在晶片基板上形成到達(dá)焊盤的通孔。
為了解決上述主要的技術(shù)課題,根據(jù)本發(fā)明,提供一種通孔加工方法,其從基板背面?zhèn)葘?duì)晶片照射脈沖激光光線而形成到達(dá)焊盤的通孔,上述晶片在基板表面形成有多個(gè)器件,并且在器件上形成有焊盤,其中,
將脈沖激光光線的每1脈沖的能量密度設(shè)定為如下的值,即,能對(duì)基板進(jìn)行飛濺加工而不能對(duì)焊盤進(jìn)行飛濺加工的值,將脈沖激光光線的脈沖的時(shí)間間隔設(shè)定為150微秒以上。
將上述脈沖激光光線的每1脈沖的能量密度設(shè)定為40~20J/cm2。
此外,優(yōu)選為,將上述脈沖激光光線的脈沖的時(shí)間間隔設(shè)定為150~300微秒(μs)。
在本發(fā)明的通孔加工方法中,將脈沖激光光線的每1脈沖的能量密度設(shè)定為如下的值,即,能對(duì)基板進(jìn)行飛濺加工而不能對(duì)焊盤進(jìn)行飛濺加工的值,將脈沖激光光線的脈沖的時(shí)間間隔設(shè)定為150微秒以上,因此,通過照射出的脈沖而產(chǎn)生的熱在接下來照射的脈沖之前冷卻,從而能夠不熔融焊盤而在基板上形成到達(dá)焊盤的通孔。
附圖說明
圖1是作為采用本發(fā)明的通孔加工方法加工的晶片的半導(dǎo)體晶片的立體圖。
圖2是用于實(shí)施本發(fā)明的通孔加工方法的激光加工裝置的要部立體圖。
圖3是圖2所示的激光加工裝置所裝備的激光光線照射單元的結(jié)構(gòu)框圖。
圖4是本發(fā)明的通孔加工方法中的通孔形成步驟的說明圖。
圖5是通過實(shí)施本發(fā)明的通孔加工方法中的通孔形成步驟而形成通孔的半導(dǎo)體晶片的局部放大截面圖。
圖6是表示圖2所示的激光加工裝置所裝備的激光光線照射單元的其它實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)框圖。
標(biāo)號(hào)說明
2:半導(dǎo)體晶片;21:半導(dǎo)體晶片的基板;22:道;23:器件;24:焊盤;25:通孔;3:激光加工裝置;31:激光加工裝置的卡盤臺(tái);32:激光光線照射單元;324:聚光器;33:攝像單元;35:聲光偏轉(zhuǎn)單元。
具體實(shí)施方式
以下,參照附圖更詳細(xì)地說明本發(fā)明的通孔加工方法。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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