[發明專利]基礎軟件平臺的質量評估方法

無效

• 申請號: 200710146281.1
• 申請日: 2007-08-31
• 公開（公告）號: CN101377739A
• 公開（公告）日: 2009-03-04
• 發明（設計）人: 蘭雨晴;趙同;高靜;郭樹行;趙輝
• 申請（專利權）人: 蘭雨晴
• 主分類號: G06F9/44
• 分類號: G06F9/44
• 代理公司: 北京匯智英財專利代理事務所
• 代理人: 蔡和平

1.一種基礎軟件平臺的質量評估方法，其特征在于:其包括以下步驟:

1)輸入專家問卷調查信息，使用逐步回歸法得到基礎軟件平臺質量模型，并計算出指標權重，指標包含特性和子特性；

2)利用G/Q/M方法設計特性和子特性的有效度量元；

3)輸入組成要評估的基礎軟件平臺的軟件構件，及此平臺的有效度量元數據，通過轉換函數將度量元轉化為相應的值，自底向上，計算出該平臺質量，將計算出的平臺質量和各指標質量轉化為評估結果輸出。

2.根據權利要求1所述的基礎軟件平臺的質量評估方法，其特征在于:在所述步驟1)中，利用逐步回歸法，將專家調查問卷信息轉化為質量模型的具體轉化過程為:

1)根據問卷信息，轉化為原回歸方程y~=a^+b^1x1+b^2x2+···+b^mxm,]]>其中，表示平臺的整體質量，x₁到x_m為所有可能影響平臺質量的特性；

2)去掉變量x_i后所得的新回歸方程為

y~=a*^+b*^1x1+b*^2x2+···+b*^i-1xi-1+b*^i+1xi+1+···+b*^mxm]]>

新、舊回歸系數之間有關系:b*j^=b^j-cijciib^i]]>且a*^=y~-Σj≠ib^j*xj]]>

其中，j＝1，2，…m，j≠i，c_ij為C＝L^-1中的元素:Lm×m=l11l12···l1ml21l22···l2m············lm1lm2···lmm]]>

l_ij＝∑(x_ki-x_i)(x_kj-x_j)，l_i0＝∑(x_ki-x_i)(y_k-y)，x‾i=1nΣxki,]]>y‾=1nΣyk]]>

其中，k＝1，2，…m；

3)計算偏回歸平方和u_i:ui=u-ui′=bj2^cii]]>

偏回歸平方和越大，對回歸方程的貢獻越大。計算出各個自變量x_i(i∈[1，p])相應的偏回歸平方和，比較各因素對整個回歸效果的貢獻的大小，將貢獻小者剔除掉。

4)整理，得到最優回歸方程:

y＝a+b₁x₁+…+b_kx_k其中x₁到x_k即為對基礎軟件平臺質量影響顯著的k個特性，變量順序與原回歸方程可以不同；

5)用同樣的方法來確定對特性影響顯著的子特性。