[發明專利]半導體器件有效
| 申請號: | 200710141904.6 | 申請日: | 2007-08-16 |
| 公開(公告)號: | CN101149973A | 公開(公告)日: | 2008-03-26 |
| 發明(設計)人: | 千田稔;瀨戶川潤 | 申請(專利權)人: | 株式會社瑞薩科技 |
| 主分類號: | G11C16/26 | 分類號: | G11C16/26 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務所 | 代理人: | 王茂華 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體器件 | ||
1.一種半導體器件,包括:
多個存儲器單元,根據其閾值電壓存儲數據;
多個位線,讀取信號分別根據所述存儲器單元存儲的數據而出現在所述位線上;
多個讀出放大器,分別對應于所述位線而布置,并且所述讀出放大器分別檢測已出現在所述位線上的讀取信號并根據所述檢測的讀取信號來從第一和第二節點輸出分別具有彼此不同邏輯電平的第一和第二信號;以及
確定單元,根據分別從所述讀出放大器的所述第一和第二節點接受的第一和第二信號來確定所述存儲器單元的閾值電壓是否正常。
2.根據權利要求1所述的半導體器件,其中所述確定單元根據分別從所述讀出放大器的所述第一節點接收的第一信號來確定所述存儲器單元的閾值電壓是否分別小于預定范圍中的最大值,并且根據從所述讀出放大器的所述第二節點接收的第二信號來確定所述存儲器單元的閾值電壓是否分別大于或者等于所述預定范圍中的最小值。
3.根據權利要求1所述的半導體器件,其中所述確定單元包括:
多個第一晶體管,分別對應于所述讀出放大器布置,并且根據從所述讀出放大器的所述第一節點接收的所述第一信號來分別將狀態改變至導通或者截止;
多個第二晶體管,分別對應于所述讀出放大器布置,并且根據從所述讀出放大器的所述第二節點接收的所述第二信號來分別將狀態改變至導通或者截止;以及
電流確定電路,檢測所述第一晶體管的輸出電流和所述第二晶體管的輸出電流,并且根據所述檢測結果來輸出指示所述存儲器單元的所述閾值是否正常的信號。
4.根據權利要求3所述的半導體器件,其中所述確定單元進一步包括:
多個第三晶體管,電耦合到它們對應的所述第一晶體管的輸出,并且分別將所述第一晶體管的輸出電流限制至預定值;以及
多個第四晶體管,電耦合到它們對應的所述第二晶體管的輸出,并且分別將所述第二晶體管的輸出電流限制至預定值。
5.根據權利要求4所述的半導體器件,其中所述確定單元進一步包括電壓切換電路,其將第一控制電壓的輸出切換至所述第三晶體管和所述第四晶體管,或者將第二控制電壓的輸出切換到所述第三晶體管和所述第四晶體管,
其中根據從所述電壓切換電路接收的控制電壓,所述第三晶體管分別切換是否將所述第一晶體管的輸出電流限制至預定值,以及
其中根據從所述電壓切換電路接收的控制電壓,所述第四晶體管分別切換是否將所述第二晶體管的輸出電流限制至預定值。
6.根據權利要求3所述的半導體器件,其中所述確定單元進一步包括多個第三晶體管,其電耦合到它們對應的所述第一晶體管的輸出,并且將所述第一晶體管的輸出電流分別限制至預定值,
其中所述電流確定電路包括:比較器,將所述第一晶體管的輸出電流與參考電流比較,并且根據所述比較結果來輸出指示所述存儲器單元的閾值電壓是否正常的信號;以及參考電流生成電路,向所述比較器供給參考電流,
其中所述參考電流生成電路包括:多個第五晶體管,并行耦合并且分別向所述比較器輸出參考電流;以及多個第六晶體管,電耦合到它們對應的所述第五晶體管的輸出并且分別將所述第五晶體管的輸出電流限制到預定值,
其中所述第六晶體管的控制電極以及所述第三晶體管的控制電極分別提供有預定電壓,以及
其中所述第六晶體管的所述一個第六晶體管的尺寸小于其他第六晶體管,并且其余第六晶體管與第三晶體管的尺寸彼此相同。
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