[發(fā)明專利]半導(dǎo)體封裝構(gòu)造以及制造該半導(dǎo)體封裝構(gòu)造的方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200710139892.3 | 申請日: | 2007-07-26 |
| 公開(公告)號: | CN101090078A | 公開(公告)日: | 2007-12-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳裕文 | 申請(專利權(quán))人: | 日月光半導(dǎo)體制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/50 | 分類號: | H01L21/50;H01L21/56;H01L21/60;H01L25/00;H01L23/488;H01L23/31;H05K1/18;H05K3/34 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人: | 陸嘉 |
| 地址: | 臺灣省高雄市*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 封裝 構(gòu)造 以及 制造 方法 | ||
1.一種制造半導(dǎo)體封裝構(gòu)造的方法,其特征在于,包含下列步驟:
提供一基板,并于基板的上表面開設(shè)至少一個(gè)槽孔;
將一芯片設(shè)置于該基板的上表面;
將至少一個(gè)表面黏著組件設(shè)置覆于該槽孔上,并以焊錫將該表面黏著組件的兩端黏著于該基板上;及
將封膠注入該基板的上表面,使該封膠填滿該槽孔并包覆至少部分該表面黏著組件。
2.一種半導(dǎo)體封裝構(gòu)造,其特征在于,其包含:
一基板,其上表面設(shè)有至少一個(gè)槽孔;
一芯片,設(shè)于該基板的上表面;
至少一個(gè)表面黏著組件,覆蓋該槽孔上,并以焊錫將該表面黏著組件的兩端黏著于該基板上;及
一封膠,設(shè)置于該基板的上表面,并填滿該槽孔以及包覆至少部分該表面黏著組件。
3.如權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體封裝構(gòu)造,其特征在于,另包含:
一環(huán)形體,設(shè)置于該基板的上表面,并圍繞該芯片與該等表面黏著組件。
4.如權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體封裝構(gòu)造,其特征在于,另包含:
一散熱片,設(shè)置于該芯片與環(huán)形體的上方。
5.如權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體封裝構(gòu)造,其特征在于,該等表面黏著組件為電容。
6.如權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體封裝構(gòu)造,其特征在于,該環(huán)形體是由金屬制成。
7.如權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體封裝構(gòu)造,其特征在于,該環(huán)形體是由銅制成。
8.如權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體封裝構(gòu)造,其特征在于,該表面黏著組件具有一第一長度及一第一寬度,且沿該第一長度的兩端各形成有一對外接點(diǎn),該槽孔具有一第二長度及一第二寬度,且該第一長度是大于該第二長度,該第一寬度是小于該第二寬度。
9.如權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體封裝構(gòu)造,其特征在于,該第二長度的方向是平行于該第一長度的方向,該第二寬度的方向平行于該第一寬度的方向。
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- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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