[發(fā)明專利]記憶體IC檢測分類機(jī)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200710136307.4
• 申請日: 2007-07-13
• 公開（公告）號: CN101342531A
• 公開（公告）日: 2009-01-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 謝旼達(dá)
• 申請（專利權(quán)）人: 鴻勁科技股份有限公司
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344;B07C5/38;G01R31/28
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司
• 代理人: 孫皓晨

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種IC檢測分類機(jī)，特別是指一種記憶體IC檢測分類機(jī)。

背景技術(shù)

在現(xiàn)今，半導(dǎo)體元件的IC概分為邏輯IC、記憶體IC、類比IC與微元件IC 等不同類型，以邏輯IC為例，是應(yīng)用在主機(jī)板上的中央處理器，以負(fù)責(zé)中央處理 器及其他周邊元件的訊號轉(zhuǎn)換或傳遞，以及運(yùn)算作業(yè)，其功能性較為復(fù)雜，而記 憶體IC則單純用來儲存資料，并裝設(shè)在模組電路板，所述的模組電路板再裝配在 主機(jī)板上，其功能性較為單純，然不論任何類型的IC，在制作完成后，均須經(jīng)過 一檢測作業(yè)，以淘汰出不良品，而確保產(chǎn)品品質(zhì)。

然而，由于邏輯IC搭配的中央處理器是直接裝設(shè)在主機(jī)板，且功能性較為復(fù) 雜與多樣化，業(yè)者為使邏輯IC可在實(shí)際環(huán)境下進(jìn)行檢測，以提升檢測作業(yè)的準(zhǔn)確 性，遂以日后邏輯IC實(shí)際裝配使用的實(shí)體板(即主機(jī)板)作為測試電路板，使邏 輯IC在實(shí)體板上進(jìn)行檢測作業(yè)，基于邏輯IC的檢測作業(yè)較為復(fù)雜與多樣化，故 所述的實(shí)體板常僅設(shè)有一測試套座供執(zhí)行單一邏輯IC檢測作業(yè)，請參閱第1、2 圖，是坊間應(yīng)用在檢測邏輯IC的IC檢測分類機(jī)，包含在機(jī)臺的前端設(shè)有供料匣 11、多個(gè)收料匣12與第一移料裝置13，所述的供料匣11是可承置待測的邏輯IC 以供取料，各收料匣12是可承置完成檢測的邏輯IC用來收料，而第一移料裝置 13是用來移載待測或者完成檢測的邏輯IC，而機(jī)臺的后端則設(shè)有多個(gè)測試裝置 14與第二移料裝置15，各測試裝置14是設(shè)有具單一測試套座142的實(shí)體板141， 以及用來下壓待測邏輯IC的壓接機(jī)構(gòu)143，其中，所述的測試套座142可供置入 單一待測的邏輯IC17，而第二移料裝置15則用來移載待測或者完成檢測的邏輯 IC，另設(shè)有一可在機(jī)臺前、后端往復(fù)位移的轉(zhuǎn)運(yùn)裝置16，所述的轉(zhuǎn)運(yùn)裝置16是 用來載送待測或者完成檢測的邏輯IC，進(jìn)而所述的第一移料裝置13可在供料匣 11處取出待測的邏輯IC17，并置放在轉(zhuǎn)運(yùn)裝置16上，由轉(zhuǎn)運(yùn)裝置16載送至機(jī)臺 的后端，第二移料裝置15即將轉(zhuǎn)運(yùn)裝置16上待測的邏輯IC17取出，并移載至測 試裝置14處，且置入在其實(shí)體板141的測試套座142中，以執(zhí)行檢測作業(yè)，在檢 測完畢后，所述的第二移料裝置15即將完成檢測的邏輯IC17取出，并置放在轉(zhuǎn) 運(yùn)裝置16上，由轉(zhuǎn)運(yùn)裝置16載送至機(jī)臺的前端，第一移料裝置13則將轉(zhuǎn)運(yùn)裝置 16上完成檢測的邏輯IC17取出，并移載至收料匣12，且依檢測結(jié)果而分類收置， 以完成邏輯IC17的檢測、分類作業(yè)。

可是，記憶體IC由于是純粹用來儲存資料，其功能性較為單純，因此一般是 同時(shí)以多個(gè)記憶體IC進(jìn)行測試；若業(yè)者以上述邏輯IC檢測分類機(jī)來執(zhí)行記憶體 IC的檢測作業(yè)時(shí)，其并無法同時(shí)移載與測試多個(gè)待測的記憶體IC，且經(jīng)由轉(zhuǎn)運(yùn)裝 置一次僅載送單一待測的記憶體IC，將使整個(gè)移料待機(jī)的時(shí)間過長，若為具多個(gè) 測試裝置的大型記憶體IC檢測機(jī)，則各裝置的作動(dòng)與等待時(shí)間將更為繁瑣與耗 時(shí)，也大幅降低記憶體IC的檢測效率，故此一IC檢測分類機(jī)不適用在執(zhí)行記憶 體IC的檢測作業(yè)。

因此，在講求快速的檢測使用效率與提升效率的需求下，如何設(shè)計(jì)一種適用 在檢測記憶體IC，而大幅提升檢測效率的記憶體IC檢測分類機(jī)，即為業(yè)者設(shè)計(jì) 的目標(biāo)。

發(fā)明內(nèi)容

針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明的目的在于：提供一種記憶體IC檢測分類機(jī)， 以縮短各裝置的作動(dòng)時(shí)間，增加記憶體IC的檢測速度。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是：

一種記憶體IC檢測分類機(jī)，其特征在于，其是包含有：供料匣：是設(shè)在機(jī)臺 上，用來承置待測的記憶體IC；收料匣：是設(shè)在機(jī)臺上，用來承置完成檢測的記 憶體IC；測試裝置：是設(shè)在機(jī)臺上，其并設(shè)有多個(gè)測試套座；移料裝置：是設(shè)在 機(jī)臺上，其并設(shè)有頂壓治具與多個(gè)取放頭，用來一次移載多個(gè)待測或者完成檢測 的記憶體IC在供料匣、測試裝置與收料匣間；中央處理器：是用來控制與整合各 裝置作動(dòng)，以執(zhí)行自動(dòng)化作業(yè)。

與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本發(fā)明具有的有益效果是：